高度智能化光電子能譜技術獎島津AXISSUPRA+申報ANTOP獎

　　希望如期而至的不止春天，還有疫情過后平平安安的你! 等待面朝大海，春暖花開，所有的美好都能如約而至。如約而至的2020 ANTOP獎申報窗口已全面開啟，多家科學儀器企業競相參與申報，這里將為您介紹ANTOP獎項“打榜”產品。

　　島津 Kratos X射線光電子能譜儀AXIS SUPRA+ 開始申報ANTOP獎啦！

　　X射線光電子能譜技術（XPS）是材料與元器件顯微分析中的一種先進分析技術，它不但為化學研究提供分子結構和原子價態方面的信息，還能為材料研究提供各種化合物的元素組成和含量、化學狀態、分子結構、化學鍵方面的信息。

　　近年來，中國已成為帶動全球半導體市場增長的主要動力，而失效分析對于提高半導體產品質量、技術開發、改進、產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。島津的AXIS SUPRA+已經在半導體器件的引腳跡斑分析、引腳跡斑分析中得到了證明。不僅如此，島津AXIS SUPRA+還有以下特點：

　　卓越的自動化技術

　　● 無人值守自動進行樣品傳輸和交換

　　● 硬件自動化控制，實時監測譜儀狀態和校準

　　超強的表面分析能力

　　● 具有高性能XPS分析、快速平行化學成像分析、小束斑微區分析

　　● 利用角分辨、高能X射線源、深度剖析可以實現從超薄到超厚的深度分析

　　● 多種功能附件（惰性氣體傳輸器、高溫高壓催化反應池等）和可拓展多種表面分析技術，如紫外光電子能譜（UPS），離子散射譜（ISS），反射電子能量損失譜（REELS），俄歇電子能譜和掃描俄歇電子顯微鏡（AES和SAM）等等

　　高效智能工作流程適合多用戶環境

　　● 高吞吐量、快速隊列樣品分析模式實現連續分析

　　● AXIS SUPRA+采用的通用表面分析ESCApe軟件系統使用戶與譜儀的交互簡單化和智能化，可以進行譜儀的控制、數據的采集和分析

　　關于ANTOP獎項

　　您可以是單位、也可以是個人，只要在分析測試行業取得的各類可證明的突出成績，并滿足以下幾點，就可申報本獎項哦：

　　1、您的突出成績有利于推動分析測試行業的正向發展；

　　2、該成績必須有現實可查的證明材料；

　　3、是分析測試百科網的注冊會員。

　　ANTOP頻道全新升級，更大的平臺，記錄更好的你！

　　申報流程：

　　ANTOP申報評審流程

　　注：獎項權利人為個人，所申報的應用類獎項不收取任何費用

　　獎項簡介：

　　我國分析測試行業發展迅猛，短短幾十年，已從落后狀態，發展為躋身世界前列。具有效數據顯示，我國科技論文被引次數排名已躍至世界第二。這是無數的科研工作者不懈努力的成果。

　　銘記歷史是前行的動力！分析測試百科網特別設立的“ANTOP獎”，是為了記錄最被行業人士認同、對行業產生卓越貢獻或獨特影響的人/物/事。我們堅信，促進行業發展的每一個“標識”，都能被發現，都應被記載！

　　ANTOP獎項三大特色：

　　1、打破條框：獎項名稱自主設置，人/物/事類型不限，更能彰顯申報者獨一無二的特色和優勢；

　　2、打破暗箱：360°+交互式展示參選內容，讓申報者更充分表現，接受更公開審視；

　　3、打破威權：專業評審+行業網友聯合評選，既保證專業公正，又調動行業參與。

　　ANTOP獎項自2017年開啟以來，已成功舉辦4屆，得到廣大同仁的熱烈響應，經過緊張激烈、專業嚴格的獎項申報、網絡評審、專家審核三大環節，各大廠商最終迎來他們的閃耀時刻。

　　ANTOP首頁專區及專屬頻道已經正式開啟，各位申報者、大眾評審員及吃瓜網友都可以隨時在這里看到第一手消息哦！頻道鏈接：http://www.antpedia.com/antop/