在定量測定中可根據樣品的具體情況采用峰面積法或峰高法當用下列方法或內標法測定雜質總量時應使用峰面積法。
面積歸一化法
用無校正因子的峰面積歸一化法測定供試品（或經導數處理的供試品）中雜質和雜質的總量限值。計算每個雜質峰的面積和其總和,并計算總峰值面積的百分比。但溶劑峰不包括在內色譜圖的記錄時間應根據各品種所含雜質的保留時間來確定。除非另有規定，否則可以是該品種下主要成分保留時間的倍數。
主成分自身對照法
當雜質峰面積和組分峰面積不同時，采用主成分的自控制方法。測定前，按各品種規定的雜質限值，將供試品稀釋至一定濃度的溶液作為對照溶液，進樣，調整檢測器的靈敏度或進樣量。使主成分譜峰面積在控制溶液中能滿足精確測量的要求。然后應采取試驗物品溶液，進樣和記錄時間，主要成分的保留時間應為主要成分保留時間的倍數，除非另有規定..雜質限值根據受試溶液中雜質的峰面積和和和對照溶液中主要成分的峰面積計算。
內標法
測定供試品中雜質的總量限度
使用沒有校正因子的峰面積法取供試品，按各品種規定的方法制備不含內標物的供試品溶液，注入儀器記錄色譜圖一然后用內標物制備供試品溶液，在相同條件下進樣，記錄色譜圖二記錄時間應為品種內標準峰保留時間的倍數，色譜圖內標峰高應大于記錄儀全刻度的30%以上。否則，應調整樣品注入量或檢測器靈敏度。
如果色譜圖I中沒有與色譜圖II中內標峰保留時間相同的雜質峰則色譜圖II中雜質峰面積之和應小于內標峰面積（溶劑峰除外）如果色譜圖II中的色譜圖I與內標物的色譜峰保留時間相同，則色譜II內標物的峰面積應從色譜圖中的該雜質峰面積中減去，該色譜圖I是內標物質峰的校正面積；色譜II中每個雜質峰的總面積加上色譜圖中雜質峰面積，即，每個雜質峰的校正總面積，每個雜質峰的校正總面積應小于內標物質峰的校正面積。
加入校正因子測定供試品中某一雜質或主成分的含量
根據各類型的要求，對控制標準和內部標準物質進行準確稱重(量)以配制溶液，準確稱重各溶液，配制測定校正因子的控制溶液，取一定量的進樣裝置，記錄色譜圖，測量參比物質和內標準物質的峰面積或峰高，計算校正系數如下：
校正因子f=-ar/mr其中as為內標物的峰面積或峰高，ar為對照物的峰面積或峰高，ms為內標物的量，mr為對照物的量。然后取各品種內含有內標物的試液，注入儀器，記錄色譜圖，測定供試品（或其雜質）的峰面積或峰高度和內標物的峰高度，并按照以下公式計算含量：AX含量（MX）=F或AS/MS，其中AX是供試品（或其雜質）的峰面積或峰高度；MX是供試品（或其雜質）的量。f，as和ms的意思是一樣的。
當使用同一內部標準物質溶液制備用于測定校正因子的對照溶液和含有內部標準物質的樣品溶液時，不需要精確地稱重(測量)內部標準物質溶液的制備。