麥奇克新型Millitrac顆粒圖像分析儀簡介

技術參數：

測量范圍：90 - 13,200μm

測量技術：單色CCD圖像分析技術

重復性：誤差≤1.5%，分析精度：30通道

掃描速度：60循環/10秒

測量時間：1-9,999秒，用戶可選

直接干粉進樣分析，樣品可回收

實時圖像處理，操作直觀方便

報告形式：體積/數量粒度分布，等效圓形面積直徑，橢圓長短徑比，橢圓長/短軸長，圓度等

主要特點：

  ﹡  ZLTri-Laser激光系統, 完全消除了不同波長光源對顆粒散射光分布“連接點”的影響和

       多次米氏理論（Mie Theory）數學處理的誤差（米氏理論處理與波長有關）。

  ﹡  固定多元檢測器與三激光光源的靈巧配置，無需掃描，同步接受全量程散射光信號，保證分

       析結果的高重現性及全量程范圍的高分辨率。

  ﹡  首家引進“非球形”顆粒概念對米氏理論計算的校正因子，內置常用分析物質光學數據庫，

       提高顆粒粒度分布測試的準確性。

  ﹡  系統自動對光，內置輔助光源用于檢驗和校正檢測器的靈敏度。

  ﹡  多種樣品分散系統可供選擇，各種分散系統之間的轉換簡單方便，結果穩定一致。

  ﹡  現代模塊式設計，可根據實際應用需要允許選擇儀器的配置，以滿足將來的任何需要。

  ﹡  數據處理靈活方便，體積分布，數量分布和強度分布，微分與累計百分比以及其他綜合報告

       形式任意組合，數據存儲兼容性強。

  ﹡  NIST(National Institute of Standards & Technology)標準物質指定認證儀器。