黑色硅與拉曼光譜“結合”，可超靈敏檢無損檢測毒害物質

　　分析測試百科網訊 來自遠東聯邦大學（FEFU）的科學家與來自俄羅斯科學院（RAS），澳大利亞和立陶宛大學的科學家合作，改進了超靈敏非分光光譜鑒定分子指紋技術。

　　一組物理學家通過實驗證實，通過使用黑色硅（b-Si）基底的表面增強拉曼光譜（SERS）能夠非常可靠地檢測到并識別有毒物質，爆炸物，污染物以及其他危險物質的分子指紋圖譜。這項工作的結果發表在權威科學雜志Nanoscale上。

黑色硅針狀表面結構，其中針由單晶硅制成

　　研究小組負責人Alexander Kuchmizhak博士表示：“使用SERS光譜檢測最小的分子時，它們與納米結構底物的相互作用是至關重要的，該平臺允許超靈敏的鑒定”。 亞歷山大是FEFU自然科學學院理論與核物理系的研究員。 他還補充說：“貴金屬基材料具有的化學活性扭曲了自身特征分子信號。”

　　“由于硅的特殊形態，黑色硅顯著增強了所需分子的信號，但這種納米材料不支持催化轉化物的分析，因為這種材料可能在被分析額金屬基底中，基于化學物質的“黑色硅”底物是獨一無二的：絕對的化學惰性，無創性，可以支持強大的非失真信號”Alexander Kuchmizhak表示。

　　通過使用易于實現的可擴展的等離子蝕刻技術可以制造這種基板，因此這種基本具有良好的商業應用前景。具有高檢測準確度的、價格便宜的非金屬基材對于常規SERS應用是有希望的，其中非侵入性對檢測過程非常重要。

　　通過國家之間廣泛的科學合作，最終發現了黑色硅的寶貴性質。