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  • 發布時間:2009-12-30 09:34 原文鏈接: 2009年度北京市電子顯微學年會通知

      尊敬的各位老師:你們好!

      為推動北京及周邊省市廣大電子顯微學的學術及技術水平,促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流,一年一度的新老朋友相互聚會的“2009年度北京市電子顯微學年會” 將于2010年1月18日(星期一),在北京西直門外大街138號,北京天文館B樓二層4D科普劇場(北京動物園斜對面)準時召開。屆時將安排有關專家學者做先進的電子顯微學報告。同時還安排多家儀器廠商介紹最新儀器設備和相關的應用技術進展。

      具體事項通知如下:(學術報告時間安排表見后)

      1、會議日期及報到時間:

      會議日期及時間:2010年1月18日(星期一)。上午8:50至下午4:30。

      報到時間:2010年1月18日(星期一)。上午8:00---8:50

      2、會議地點:北京西直門外大街138號,北京天文館B樓二層4D科普劇場。

      3、乘車路線:可乘公交7、15、808、19、65、102、103、332、334、360快、812、714、716、732、808、814、運通104、運通105、特4、特27路動物園站下,西行20米路北即到。也可乘地鐵4號線動物園站下,西南出口出,即到。

      4、會議將根據實際報名情況,準備好相關資料和禮品,并提供午餐及飲料等。

      特邀請您及您的老師、同事、學生參加。并一定在2010年1月10日前用EMAIL郵件發到:yujing8855@126.com告知。

      5、會議負責人的具體聯系地址、聯系電話、郵箱如下:

      (1)北京市電鏡學會:張德添: 010-86538247(小靈通),66931481(辦),13366267269,

      zhangdetian2008@126.com

      (2)北京理化分析測試技術學會:于靖琦:010-68731259,13521470325。yujing8855@126.com

      北京市電鏡學會(學術活動專用章)

      北京理化分析測試技術學會

      2009年12月25日

      回執用EMAIL發回yujing8855@126.com告知.

    姓名 單位通訊地址 EMAIL 聯系電話
           
           
           

      2009年度北京市電子顯微學年會

      學術報告時間安排表(2010年1月18日、星期一、北京天文館B樓二層4D科普劇場)

    時   間 會議主持人 報告人或單位、公司 報  告  題  目
    8;00—8:50 桂三剛 組委會、各公司 會議報到。資料發放等。
    8;50—9:00 張德添鄭維能 北京電鏡學會 宣布會議開始及會議注意事項。
    9:00—9:20 董全林,北航 場發射槍透射電子顯微鏡的研制進展。
    9:20—9:40 劉凌玉,科揚 2009-2010,Gatan最新產品介紹。
    9:40—10:00 韓偉,天美 300kv透射電鏡的原位分析應用。
    10:00—10:15 會間休息  
    10:15—10:35 李建奇孫異臨  李方華,物理所 談談高分辨電子顯微學中的一些問題。
    10:35—10:55 王壽勇,MT 材科和生物電鏡樣品制備的各種工具和手段。
    10:55—11:15 孟均,牛津 牛津能譜儀的一些新的應用。
    11:15—11:35 陳寒元,FEI FEI公司最新200k分析型透射電鏡簡介。
    11:35—11:55 王素霞,北大 電鏡檢查在腎臟疾病病理診斷和實驗研究中的應用。
           
    12:00—13:00 自助午餐、休息 就地進行。北京天文館。
         
    13:00—13:20 朱衍勇唐軍民 郭云昌,島津 最新型號電子探針微分析儀EPMA-1720。
    13:20—13:40 雷運濤,AMETEK EDAX新一代微觀分析平臺。
    13:40—14:00 唐圣明,蔡司 蔡司電鏡的最新產品的特點。
    14:00—14:20 雷建林,清華 Cryo-EM Study of Macromolecular Assemblies towards High Resolution。
    14:20—14:40 吉  元張德添 黃江漢,TESCAN TESCAN掃描電鏡的新技術與新發展。
    14:40—15:00 王 莉,電子 日本電子球差校正透射電鏡JEM-ARM200F的介紹。
    15:00—15:20 陸 淘,布魯克 電制冷能譜與EBSD的最新進展。
    15:20—15:40 李金樹,易微 SEM微納米操縱儀應用及掃描探針-透射電鏡(SPM-TEM)原位力學-電學測量表征系統。
    15:40—16:00 陳 清,北京大學 掃描電鏡中對納米結構的原位加工和測量。
    16:00—16:30 張德添桂三剛   電子顯微科學技術及新老朋友自由交流。各公司回答有關技術問題。宣布會議圓滿結束。

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