建構圖2所示的毫米波量測系統時，必須考慮校驗的效益：
◇ 系統校驗亦稱為“背對背”校驗，可將發射器連接到接收器，以對齊頻率參考與系統頻率，進而取得準確的振幅、相位及抵達時間估算。
◇ 基頻AWG的差動IQ輸出可能具有時序、增益及正交誤差，這會對信號質量造成影響。IQ失配校驗可修正AWG輸出之同相與正交相位信號之間的失衡。
◇ 多信道、寬帶數字轉換器或示波器可能在通道間出現時間及相位變異，因而將對量測結果造成影響。您可用各種方法量測整體的通道頻率偏差，其中一種方法是量測各個信道在大頻率范圍內的振幅及相位差，并套用寬帶修正濾波器。
◇ 天線及功率校驗也必須列入考慮。您可查看天線制造商的校驗數據。若未提供，則可在微波試驗室內進行天線數組相位場型量測，并與天線數組的理論效能加以比較。
圖2：此量測系統包括用于精確Tx與Rx同步化的銣頻率，以及可將信號產生與數據擷取維持一致的擷取觸發器
結語
總之，想要對新的5G毫米波接口進行特性分析并不容易，過程中會遭遇許多新的挑戰。為了分析支持多路徑傳播的時變通道，必須使用復雜的量測系統，其中包含支持毫米波、寬帶信號及多個信道的測試設備；全面的校驗；以及同步化功能，以便利用有效的信道參數估算算法，進行真實且準確的信道模型特性分析，進而獲得準確且可重復的量測。