安捷倫科技（中國）有限公司原子光譜應用專家馮文坤
安捷倫科技（中國）有限公司原子光譜應用專家馮文坤發表主題為“Agilent 5800 ICP-OES助你奪回浪費的時間”的精彩報告。當前實驗室樣品測試結果需重復測試率達15%，主要原因是由于實驗室缺乏有經驗的操作者與人員的高流動性導致樣品前處理或測試過程中出現錯誤。全新Agilent 5800 ICP-OES較上一代體積減少了20%。共兩種配置：垂直雙向觀測 (VDV) 和徑向觀測 (RV)。5800通過傳感器和計數器可進行智能儀器狀態追蹤，在系統需要維護時為用戶提供指導，有效縮短停機時間、降低維護成本。此外，Neb Alert功能可持續監測霧化器，并在霧化器需要清潔或發生泄漏時進行提醒，避免時間浪費。