HORIBA科學推出新的針尖增強拉曼銀探針

　　分析測試百科網訊 HORIBA科學近日推出新的AFM-TERS（原子力顯微鏡-針尖增強拉曼）銀探針，為NanoRaman系統提供了最高的分辨率。

　　TERS探針是阻礙NanoRaman成為常規分析表征技術的主要限制因素。現在，HORIBA新的鍍銀AFM-TERS探針完善了其TERS探針產品線，該探針與鍍金AFM-TERS探針相比可以提供10倍以上的拉曼增強。

　　HORIBA TERS探針保證產生633/638nm拉曼信號增強，一個可靠的樣本制作能夠很容易展示這種性能。90%的探針能夠保證達到近場和遠場拉曼強度比大于40倍的提高，使增強因子（EF）高達106。TERS探針允許所有模式的TERS操作：頂部、側面和底部的光學接入。AFM懸臂由多層鍍層制成，還有一個最后的保護層，TERS探針被裝在保護性包裝中寄送，以最大限度地提高其保質期。

　　真正的證明TERS的不是信號的放大，而是它的納米分辨率。HORIBA NanoRaman系統與新的AFM-TERS銀探針的結合提供了最高的增強，使分辨率降到15nm甚至更低。

　　HORIBA NanoRaman-TERS解決方案強大、緊湊、易用，目前可用于現實世界中的納米級化學成像。