4156C精密半導體參數測試儀是Agilent下一代的精密半導體參數測試儀，4156C為器件表征提供了***參數分析的實驗室平臺。較高的低電流、低電壓分辨率和內置準靜態CV測量能力，4156C還為以后和其他的測量儀器的擴展使用提供了堅實的基礎。41501B擴展測量能力到1A/200V，并給4156C增加一個低的噪聲接地單元和雙脈沖發生器。
4156C是基于PC的參數分析和表征的解決方案，標準配置包括一個參數分析儀，Agilent I/CV 3.0 Lite自動測試軟件， Windows XP Professional的操作系統。I/CV 3.0 Lite軟件可以提供一個圖形操作界面，具有強大的分析工具，探針臺驅動，和自動測試工具
Agilent4156C精密半導體參數分析儀HP4156C
特性
· 4156C提供4個內置的高分辨率的源/監控單元（HPSMUs），兩個電壓源單元（VSUs）和兩個電壓監控單元（VMUs）
· 1 fA 和0.2 uV的測試精度可滿足開發新工技術和評價材料
· 全Kelvin，每個HRSMU有激勵源、感應和接地端
· 完成準靜態的電容對電壓測試
· 自動提取處理參數而不需要人工操作屏幕光標
· 用極低泄漏的SMUs測量特有***特性