LeicaSP8STED超分辨共聚焦顯微鏡共享

1. 顯微鏡: 全自動倒置熒光顯微鏡DMi8；
2. 激光器： 
白激光：470-670nm（連續1nm可調脈沖激光） ； 
紫外：405nm； Ar離子激光器：458、476、488、496、514nm；固體：561nm； 
STED損耗激光：592nm ；
3. 物鏡: 10X(NA0.45)、20 X(NA0.8)、40 X(NA0.85)、40 X油鏡 (NA1.3)、63 X油鏡(NA1.4)、 100 X油鏡(NA1.4) –STED 專用；
4. LAS X 共聚焦軟件：Lightning高分辨成像專用軟件；
5. Super Z壓電陶瓷高精度Z軸載物臺（最小電子步進0.5nm）；
6. HyD超高靈敏度檢測器（GaAsP+APD混合式光譜通道檢器）；
7. AOBS聲光分光器，無需濾光塊和機械切換，最多可同時分離8根激光譜線；
8. 高速掃描共振振鏡。

馮倩倩，共享儀器平臺主管，多年來從事顯微成像研究，共聚焦及高分辨成像經驗豐富。

謝希哲，共享儀器平臺技術員，多年來從事顯微成像工作，共聚焦成像及圖像處理經驗豐富。

梁彬，共享儀器平臺技術員，多年來從事顯微成像工作，共聚焦成像及圖像處理經驗豐富。

蔡雅莉，學生助管。

1. 該系統基于共聚焦顯微成像平臺，可進行共聚焦顯微鏡和超高分辨同時成像；

2. WLL白激光提供全光譜掃描和光譜拆分（精度1nm），可使用任意標記的樣品進行多色成像，同時配合光譜檢測，可以進行激發-發射光譜掃描，獲得染料的最佳激發發射峰;

3. HyD高靈敏度混合式檢測器，適合對弱信號樣本的圖像采集，同時支持單分子測量，具有光子計數功能；

4. 門控技術結合HyD延時檢測，可有效去除激發光的反射光、雜散光和樣品自發熒光的干擾，提高信噪比，增強圖像對比度; 

5. STED WHITE 物鏡提供全光譜范圍的色差校正，可實現XY 50nm的分辨率，納米級檢測適合做共定位分析;

6. 共振掃描模式適合光漂白、光活化等一系列快速光操作實驗，如FRAP，iFRAP，FLIP，PA和FRET等;

7. Super Z電動載物臺可實現大視野拼接成像和快速Z軸層掃。

8. FALCON模塊可實現快速熒光壽命成像，可將FLIM和FRET結合進行FLIM-FRET實驗。