Nanotracwave納米粒度及Zeta電位分析儀特點

粒度分析范圍:

0.8nm-6.5μm

重現性：

誤差≤1%

Zeta電位測量范圍：

-200mV~200mV

電導率：

0-200ms/cm

濃度范圍：

ppb-40%

檢測角度：

180°

分析時間：

30-120秒

準確性：

全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子

測量精度:

無需預選，依據實際測量結果，自動生成單峰/多峰分布結果

理論設計溫度：

0-90℃，可以進行程序升溫或降溫

兼容性：

兼容任何有機溶劑及大多數酸性或堿性溶液

測量原理：

粒度測量：動態光背散射技術和全量程米氏理論處理
 Zeta電位測量：膜電極設計與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率
 分子量測量：水力直徑或德拜曲線
 ZL技術：膜電極，微電場電勢測量，“Y”型光纖探針設計，異相多普勒頻移，可控參比方法，快速傅立葉轉換算法，非球形顆粒校正因子

光學系統：

3mW780nm半導體固定位置激光器，通過梯度步進光纖直接照射樣品，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號，無需校正光路

軟件系統：

先進的Microtrac FLEX軟件提供強大的數據處理能力，包括圖形，數據輸出/輸入，個性化輸出報告，及各種文字處理功能，如PDF格式輸出, Internet共享數據，Microsoft  Access格式（OLE）等。體積，數量，面積及光強分布，包括積分/微分百分比和其他分析統計數據。數據的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保護，電子簽名和指定授權等。

外部環境：

電源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz
 環境要求：溫度，10-40°C
 相對濕度：小于95%

配置：

有內置和外置光纖測量探頭可選