OmniScan X3探傷儀是一款功能齊備的相控陣工具箱。這款儀器所提供的性能強大的工具，如：全聚焦方式（TFM）圖像和高級成像功能，可使用戶更加充滿信心地完成檢測。
獨特創新的全聚焦方式（TFM）
更好的缺陷成像性能，可以更清晰地顯示微小的缺陷
可為早期的高溫氫致（HTHA）缺陷成像，
以在最為關鍵的早期探測到這種缺陷
機載聲學影響圖（AIM）的反射率模擬器有助于
以圖像方式顯示全聚焦方式（TFM）的靈敏度，還可以根據實際情況進行調節
屏幕上最多可顯示4種模式的全聚焦方式（TFM）圖像，有助于缺陷的解讀和定量
改進的相控陣技術
速度是OmniScan MX2探傷儀的2倍（脈沖重復頻率）
單獨的衍射時差（TOFD）菜單，加快了工作流程
改進的快速相控陣校準，使用戶享有更輕松的操作體驗
800%的高波幅范圍，減少了重新掃查的需要
機載雙晶線陣和雙晶矩陣探頭的支持性能，加速了創建設置的過程
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