大載荷劃痕測試儀Revetest (1N - 200N)
CSM劃痕測試儀器專門用于定量測定薄膜材料的機械性質：膜基結合強度、涂層失效形式以及基體變形尺度等。劃痕測試儀綜合多種高精度傳感器定量測定膜基系統的各種重要參數，是科學研究和工業研發質檢領域不可或缺的工具。
瑞士CSM儀器公司三十年來致力于為全球材料、物理、機械工作者提供先進、精準、全面的材料機械性質測試儀器、分析咨詢以及測試服務。我們的主要產品包括：
測量材料硬度和彈性模量的納米級、微米級儀器化壓入測試儀（納米壓痕儀, 顯微壓痕儀）；
界定膜基結合強度、薄膜抗劃擦能力的納米級、微米級、大載荷劃痕測試儀 (Scratch tester) ；
包括真空、高溫以及線性往復運動等選項的摩擦磨損測試儀、納米摩擦儀 (摩擦磨損試驗機 ；
zui簡便易用的膜厚測試儀；
用于三維成像表征材料表面形貌的原子力顯微鏡 (AFM) 和白光共聚焦顯微鏡 (Confocal Microscope) 。
技術參數：
劃痕測試技術：針頭在試樣表面劃出一條精確控制的破壞痕跡。劃痕針頭材料通常為金剛石或硬質合金，它以恒定加載，階梯加載或線性加載方式劃過測試材料表面。薄膜將在某一臨界載荷處失效，臨界載荷處的失效形式可以非常精確地由各種集成的傳感器和成像工具來測量。除各種成像工具外，劃痕測試儀同時集成正向載荷、切向載荷、穿透深度和聲發射信號數據。這些測量信號與成像工具觀察的綜合分析結果，構成了各種膜基系統破壞形式的唯一標識。
正向載荷范圍：0.5-200N
載荷分辨率：3mN
zui大摩擦力：200N
摩擦力分辨率：3mN
zui大劃痕長度：70mm
zui大劃痕深度：1mm
XY工作臺：70mm X 20mm
光學顯微鏡放大倍率：200倍，800倍
CCD: 彩色 768 X 582
