Sphere-3000是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/絕對反射率，適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量，還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。
★ 智能化軟件操作
可自定義測量方式和角度，實時顯示測量樣品指定波長位置的透/反射 率數據，高效地進行 批量樣品檢測及譜圖對比分析。
★ 譜圖管理
可同時記錄多達20個樣品譜圖，批量保存測量結果，最大程度地方便了譜圖的管理和分析。
★ 自定義測量方案
用戶可自定義測量方案，直接顯示結果OK或NG，使檢測更快速，結果更準確。
★ CIE顏色測量功能
可以計算樣品各種CIE顏色參數， x，y，L,a,b,飽和度，主波長等。
★ 譜圖數據處理功能
備有豐富的光學元件數據庫，據對比分析結果，用戶可自行對數據庫進行添加、修改和刪除。
★ 自定義打印格式
用戶可自行定義打印報表的格式，進行分頁打印，也可單頁對比打印。