一、x一射線熒光分析儀(xrf)簡介
x一射線熒光分析儀(xrf)是一種較新型的可以對多元眾進行快速同時側定的儀器。在x射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級x射線(即x一熒光).波長和能量是從不同的角度來觀察描述x射線所采用的兩
個物理i.波長色徽型x射線熒光光諾儀(wd-xrf)是用晶體分光而后由探側移接收經過衍射的特征x射線信號。如果分光晶體和控側器作同步運動.不斷地改變衍射角.便可獲得祥品內各種無索所產生的特征x射線的波長及各個彼長x射線的強度.可以據此進行定性分析和定i分析.該種儀器產生于4年代，由于可以對復雜體系進行多組分同時側定.受到硯注.特別在地質部門，先后配工了這種儀器.分析邃度顯著提高，起了i要作用。隨著科學技術的進步，在60年代初發明了半導體探洲器以后，對x一炙光進行能譜分析成為可能。能譜色散皿r射線熒光光譜儀(ed-xrf).用x射線管產生原級x射線服射到樣品上，所產生的特征x射線(熒光)直接進入si
(li)探側器，便可以據此進行定性分析和定f分析.第一臺ed-xrf是iil1年問世的.近幾年來.由于商品ed-xrf儀器及計算機軟件的發展，功能完普，應用領城拓寬，其特點、優越性日益受到認識，發展迅猛.
二、波長色散型x射線熒光光譜儀與能量色散型x射線熒光光譜儀的區別
雖然故長色傲型(ed-xrf)x射線熒光光滋儀與能i色徽m