熒光光譜儀又稱熒光分光光度計，是一種定性、定量分析的儀器。通過熒光光譜儀的檢測，可以獲得物質的激發光譜、發射光譜、量子產率、熒光強度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。
X熒光光譜儀的工作原理：
X熒光光譜儀是通過激發源激發X射線打擊樣品的分子結構，使之發生原子變遷，通過探測器收集原子變遷所產生的能量波，以分析判斷原子（元素）的類型。
X熒光光譜儀對工作環境的要求：
1、遠離強磁、強振、高壓環境，否則會干擾能量譜形或造成設備不能正常工作。
2、應保持室溫15～30℃為宜，氣溫過高或過低都會影響設備的正常運作；空氣相對濕度 應＜70%，濕度過高會造成內部高壓單元產生拉弧和放電。
3、配置一千瓦的穩壓電源，杜絕突然斷電現象和市電波動對測試結果的影響。
4、保持工作間和設備的整潔，防止灰塵的腐蝕。