中國科學院山西煤炭化學研究所、中國科學院化學研究所分別在今年7月、11月與島津簽訂了高端配置的X射線光電子能譜儀(XPS)的訂單。兩臺儀器分別用于催化劑原位研究及固體表面有機/金屬沉積薄膜分析。
針對科學院的高水平分析需求，配置了Ar/C24H12雙模式離子槍，該離子槍的C24H12離子源可實現不改變有機材料化學狀態的深度剖析，避免以往Ar離子源刻蝕導致有機材料化學狀態改變的弊端。特別值得一提的是，國內首家采用無損深度剖析重構軟件，能夠在不使用離子源對樣品進行刻蝕的情況下分析樣品的表面深度信息結構，目前該軟件的用戶已經在國際知名雜志上發表了數篇出色研究成果。
島津/KRATOS 高性能成像X射線光電子能譜儀 AXIS-ULTRA DLD型，采用合理設計的雙層能量分析器，既可獲得高能量分辨和高靈敏度的XPS譜，也可以在數秒至數十秒的時間內得到空間分辨優于3μm的高分辨元素化學狀態像，是真正的成像XPS;結合先進的新一代二維陣列延遲線檢測器(Delay Line Detector)，可以對樣品進行超快速分析，并實現快拍采譜(Snap Shot)和從圖得譜(Spectra from Images)等功能。使用特殊設計的虛擬探針技術，若在圖像上以鼠標點擊指定分析位置，則無需移動樣品，便可進行最小至15μm微小區域的多點譜分析。正因為島津XPS儀器本身技術的先進性，中科院化學所采用單一來源采購的方式與島津公司簽訂了采購合同。
島津/KRATOS AXIS-ULTRA DLD型高性能成像X射線光電子能譜儀
相信代表中國科研前沿的中國科學院研究所相繼引進島津XPS，必將推動XPS在相關領域的研發水平，為中國科技實力提升貢獻更多力量。
什么是XPS?
X射線光電子能譜儀(X-ray Photoelectron Spectroscopy，簡稱XPS)是廣泛應用于材料科學領域的高技術分析儀器，主要用于固體材料的表面(2～3nm深度)元素成分和價態的定性和定量分析，與成像功能和離子濺射刻蝕相結合，也可以用于固體表面元素成分及價態的二維面分析和深度剖析，在納米材料、高分子材料、材料的腐蝕與防護、各類功能薄膜的機理研究、催化劑研究與失效等方面具有不可替代的作用。
