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  • 發布時間:2023-05-02 12:49 原文鏈接: XRD圖譜衍射峰的峰高、峰寬和峰面積分別表示什么?

    X射線衍射(XRD)圖譜中的衍射峰提供了有關樣品晶體結構和晶體學信息的重要數據。在分析XRD圖譜時,通常會關注衍射峰的峰高、峰寬和峰面積,它們分別表示以下內容:

    1. 峰高(Peak Height):

      • 峰高指的是衍射峰的最大強度,通常用來表征樣品中特定晶面的取向或存在的數量。峰高越高,表示相應晶面的衍射強度越強,或者該晶面在樣品中的數量越多。

    2. 峰寬(Peak Width):

      • 峰寬反映了樣品中晶體的結晶性能以及X射線衍射儀器的分辨能力。峰寬主要受到晶體大小、缺陷、應力等因素的影響。一般來說,峰寬較窄表明晶體結晶度高,反之則可能表示晶體質量較差或晶體中存在應力或缺陷。

    3. 峰面積(Peak Area):

      • 峰面積是指衍射峰下的面積,是峰高和峰寬的乘積。峰面積可以用來估算樣品中相應晶面的數量或者相對含量,因為它反映了該峰所包含的總強度。峰面積通常比峰高更準確地表征了樣品中某種晶面的存在量,因為它考慮了整個峰的強度分布。

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    譜峰解讀

    峰位置、峰寬度以及峰強度可以稱為X射線衍射譜圖的三大要素。

    對于峰位置的分析,我們主要是根據布拉格定律:2dsinθ=nλ來確定,對于普通的衍射儀來講,一般采用銅靶,其波長為確定值約為0.154nm,每一種光源的靶材不同其對應的波長也不同。各靶材特征X射線的波長和激發電壓如下:

    下面列出了幾種常見元素的特征X射線波長及其激發電壓(即產生這些特征X射線所需的最小加速電壓)。特征X射線主要分為Kα和Kβ線,對應不同的電子躍遷。

    元素Kα波長(?)Kβ波長(?)激發電壓(kV)
    鈉(Na)11.10510.2061.07
    鎂(Mg)9.8908.4181.25
    鋁(Al)8.3407.0921.50
    硅(Si)7.1266.6511.74
    磷(P)6.1515.4692.01
    硫(S)5.3734.9462.29
    氯(Cl)4.7294.4352.62
    鈣(Ca)3.3593.0633.69
    鈦(Ti)2.7482.5194.96
    釩(V)2.4402.2615.47
    鉻(Cr)2.2912.0845.99
    錳(Mn)2.1031.9356.54
    鐵(Fe)1.9371.7567.11
    鈷(Co)1.7901.6207.71
    鎳(Ni)1.6581.5008.32
    銅(Cu)1.5411.3928.98
    鋅(Zn)1.4361.3079.66
    鋯(Zr)0.7870.72315.75
    鉬(Mo)0.7100.63217.48

    說明:

    1. Kα波長:表示從L殼層躍遷到K殼層產生的特征X射線波長。

    2. Kβ波長:表示從M殼層躍遷到K殼層產生的特征X射線波長。

    3. 激發電壓:表示為了產生特征X射線所需的最小加速電壓。

    d值代表晶面的間距,每一種結晶物質都具有晶胞,各種晶面就組成了一個三維立體的晶胞結構,這樣每一種結晶物質都具有自己的一幅特征譜圖,這時候我們就可以根據X射線衍射儀測定的譜圖來確定物質的成分。當晶胞被一些外界因素改變,例如摻雜,固溶體,應力變化,弛豫,缺陷等等導致晶面發生變化及晶面間距發生改變,這時候衍射峰的位置即發生變化。我們通過對這樣的峰位偏移分析即可得出相應的結論,來驗證我們對材料改性是否成功。

    峰寬度一般用半高寬度來衡量,在軟件里一般縮寫為(FWHM),峰寬度可用于分析材料的結晶度,晶粒大小等等,在電池領域磷酸鐵鋰材料測試中,峰的半高寬是衡量材料質量的一個關鍵參數。再比如在半導體領域,外延生長的單晶薄膜我們可通過測定其搖擺曲線來獲得半高寬參數,從而評估單晶薄膜的結晶質量。當出現如上圖中的粉紅色部分的大鼓包,也稱為饅頭峰時,我們可以判定材料中含有非晶成分,未結晶的物質。

    峰強度一般指譜峰的面積,用于分析材料的含量,在對測試的譜圖進行全譜擬合結構精修以后,我們可以得到在一份多相混合的材料中各個物相的含量,用于材料的定量分析,該方法相比于RIR法等半定量的方法更為可靠。根據峰面積的積分強度與材料的含量關系,我們除了可以做定量分析,還可做結晶度的分析。

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