譜線的形成和致寬
在各種天體的輻射譜中,往往有許多譜線,有的是發射線,有的是吸收線。譜線是由某種體系的分立能級之間的躍遷形成的。如果E1和E2是某個體系的兩個分立能級,且E2>E1,則當體系從E2向E1躍遷時,發射頻率為V=(E2 –E1)/h的輻射;反之,當體系從E1向E2躍遷時,吸收頻率為v的輻射。如果發射過程比吸收過程占優勢,就會產生發射線;反之,則產生吸收線。在恒星光譜中,譜線是由原子、離子和分子的分立能級之間的躍遷引起的。例如,太陽光譜中的D1、D2線和H、K線,分別是由鈉原子和鈣離子在分立能級間的躍遷造成的。在射電波段,也有譜線。例如中性氫21厘米譜線就是由氫原子的超精細結構能級之間的躍遷引起的。超精細結構能級是由于原子核的自旋量和電子總角動量之間的耦合產生的(見原子的超精細結構)。在星際云中發現不少毫米波段的譜線,大多數的射電譜線是由各種星際分子的各個轉動能級躍遷形成的。在X射線和γ射線的高能波段也開始發現譜線。例如,在武仙座......閱讀全文
羲和號首次在軌獲得太陽Hα譜線
“羲和號”衛星是我國首顆太陽探測的科學技術實驗衛星，去年10月14日在太原衛星發射中心成功發射，標志著我國正式邁入空間探日的時代。1月28日，中國國家航天局對地觀測與數據中心主任趙堅在國務院新聞辦公室舉行的新聞發布會上表示，這顆衛星經過三個多月的在軌測試和實驗，已經完成衛星平臺技術驗證40多次，對太
“羲和號”首次獲得三種太陽譜線輪廓
“‘羲和號’發射后，已經在空間首次同時獲得了太陽全日面Hα譜線、Si I譜線和Fe I譜線的精細結構和光譜成像，以及幾十個太陽耀斑的資料。”7月19日，在教育部“教育這十年”“1+1”系列發布會之高校科技創新改革發展成效新聞發布采訪活動中，中國科學院院士、“羲和號”科學總顧問、南京大學教授方成欣
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
峰高：對多晶來說，峰高由同方向排列的晶面分布數量(texture)決定，即：若所有晶粒為同方向排列，則此時各個晶面的峰高要大于無規律排列的晶粒。而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定。峰寬：一般分析最多的數值是FWHM(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響：從儀器角度說，因素為所用X射線的波
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
峰高：對多晶來說，峰高由同方向排列的晶面分布數量(texture)決定，即：若所有晶粒為同方向排列，則此時各個晶面的峰高要大于無規律排列的晶粒。而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定。峰寬：一般分析最多的數值是FWHM(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響：從儀器角度說，因素為所用X射線的波
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
峰高：對多晶來說，峰高由同方向排列的晶面分布數量(texture)決定，即：若所有晶粒為同方向排列，則此時各個晶面的峰高要大于無規律排列的晶粒。而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定。峰寬：一般分析最多的數值是FWHM(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響：從儀器角度說，因素為所用X射線的波
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
峰高：對多晶來說，峰高由同方向排列的晶面分布數量(texture)決定，即：若所有晶粒為同方向排列，則此時各個晶面的峰高要大于無規律排列的晶粒。而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定。峰寬：一般分析最多的數值是FWHM(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響：從儀器角度說，因素為所用X射線的波
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
XRD圖譜峰的面積表示晶體含量，面積越大，晶相含量越高。峰窄說明晶粒大，可以用謝樂公式算晶粒尺寸。XRD圖譜峰高如果是相對背地強度高，表示晶相含量高，跟面積表示晶相含量一致。XRD圖譜峰高如果是A峰相對B峰高很多，兩峰的高度比“A／C”相對標準粉末衍射圖對應峰的高度比要大很多，那么這個材料是A方向擇
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
峰高：對多晶來說，峰高由同方向排列的晶面分布數量(texture)決定，即：若所有晶粒為同方向排列，則此時各個晶面的峰高要大于無規律排列的晶粒。而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定。峰寬：一般分析最多的數值是FWHM(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響：從儀器角度說，因素為所用X射線的波
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
峰高：對多晶來說，峰高由同方向排列的晶面分布數量(texture)決定，即：若所有晶粒為同方向排列，則此時各個晶面的峰高要大于無規律排列的晶粒。而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定。峰寬：一般分析最多的數值是FWHM(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響：從儀器角度說，因素為所用X射線的波
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
XRD圖譜峰的面積表示晶體含量，面積越大，晶相含量越高。峰窄說明晶粒大，可以用謝樂公式算晶粒尺寸。XRD圖譜峰高如果是相對背地強度高，表示晶相含量高，跟面積表示晶相含量一致。XRD圖譜峰高如果是A峰相對B峰高很多，兩峰的高度比“A／C”相對標準粉末衍射圖對應峰的高度比要大很多，那么這個材料是A方向擇
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
峰高：對多晶來說，峰高由同方向排列的晶面分布數量(texture)決定，即：若所有晶粒為同方向排列，則此時各個晶面的峰高要大于無規律排列的晶粒。而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定。峰寬：一般分析最多的數值是FWHM(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響：從儀器角度說，因素為所用X射線的波
磁致濺射儀層生長型薄膜的形成
這種生長類型的特點是，蒸發原子首先在基片表面以單原子層的形式均勻地翟蓋一層，然后再在三維方向上生長更多的層。這種生長方式多數發生在基片原子與蒸發原子間的結合能接近于蒸發原子間的結合能的情況下。層生長型的過程大致如下:入射到基片表面的原子，經過表面擴散并與其它原子碰撞后形成二維的核，二維核捕捉周圍
磁致濺射儀核生長型薄膜的形成
這種類型形成過程的特點是，到達基片上的原子首先凝聚成核，后續飛來的原子不斷集聚在核的附近使核在三維方向不斷成長，最終形成薄膜。大部分薄膜的形成過程都屬于這種類型。核生長型的薄膜其生長過程可以分為如下四個階段。 (l)成核階段碰撞到基片上的原子，其中一部分與基片原子交換的能量很少，仍具有相當大的
寬范圍粒徑譜儀可適用于哪些領域
寬范圍粒徑譜儀是結合激光光散射、微分遷移率分析和冷凝顆粒計數為一體的緊湊型裝置，用于測量氣溶膠濃度和粒徑分布，是氣溶膠和環境研究實驗室必備設備，適用領域：1.大氣氣溶膠測量2.室內空氣質量研究3.排放源顆粒特點分析4.藥用和醫學研究用吸入器、霧化器、噴霧器等氣溶膠特點分析參數要求：1.樣品流速：1.
寬范圍粒徑譜儀可適用于哪些領域
寬范圍粒徑譜儀是結合激光光散射、微分遷移率分析和冷凝顆粒計數為一體的緊湊型裝置，用于測量氣溶膠濃度和粒徑分布，是氣溶膠和環境研究實驗室必備設備，適用領域：1.大氣氣溶膠測量2.室內空氣質量研究3.排放源顆粒特點分析4.藥用和醫學研究用吸入器、霧化器、噴霧器等氣溶膠特點分析參數要求：1.樣品流速：1.
x線透視和x線攝影的原理
X線是在真空管內高速行進成束的電子流撞擊鎢（或鉬）靶時而產生的。X線波長很短，具有很強的穿透力，能穿透一般可見光不能穿透的各種不同密度的物質，并在穿透過程中受到一定程度的吸收即衰減。X線的穿透力與X線管電壓密切相關，電壓愈高，所產生的X線的波長愈短，穿透力也愈強；反之，電壓低，所產生的X線波長愈長，
極譜法的概念及形成歷史
極譜法(polarography)通過測定電解過程中所得到的極化電極的電流-電位(或電位-時間)曲線來確定溶液中被測物質濃度的一類電化學分析方法。于1922年由捷克化學家J.海洛夫斯基建立。極譜法和伏安法的區別在于極化電極的不同。極譜法是使用滴汞電極或其他表面能夠周期性更新的液體電極為極化電極;伏安
XPS－譜圖中有哪些重要的譜線結構？具體是什么？
XPS?譜圖中有哪些重要的譜線結構?具體是什么?XPS?譜圖一般包括光電子譜線,衛星峰(伴峰),俄歇電子譜線,自旋-?軌道分裂(SOS)等1)光電子譜線:每一種元素都有自己特征的光電子線,它是元素定性分析的主要依據。譜圖中強度最大、峰寬最小、對稱性最好的譜峰,稱為XPS?的主譜線。實例說明一:上圖中
影響光譜儀譜線強度的因素
1、基體效應基體效應包括吸收效應及增強效應兩種效應。吸收效應包括基體對入射X射線的吸收及對熒光X射線的吸收。因為用入射X射線激發樣品時，它不只是作用于樣品表面而且能穿透一定的厚度進入樣品內部，同樣，樣品內部分析元素產生的熒光X射線，也必須穿過一定厚度的樣品才能射出。顯然，在穿透過程中，這兩種X射線都
原子吸收光譜的譜線強度介紹
原子吸收譜線強度是指單位時間、單位體積內,基態原子吸收輻射能的總量。其大小決下,吸收譜線強度與單位體積內基態原子數成正比。吸收輻射的總能量Ia等于單位時間內基態原子吸收的光子數,亦即產生受激躍遷的基態原子數dN0,乘以光子的能量hν。根據愛因斯坦受激吸收關系式有:?式中,B0j是受激吸收系數;ρv是
原子吸收光譜的譜線輪廓分析
原子吸收光譜線并不是嚴格幾何意義上的線,而是占據著有限的相當窄的頻率或波長范圍,即有一定的寬度。原子吸收光譜的輪廓以原子吸收譜線的中心波長λ0和半寬度△λ(或△ν)來表征。中心波長由原子能級決定。半寬度是指在中心波長的地方,極大吸收系數一半處,吸收光譜線輪廓上兩點之間的頻率差或波長差。半寬度受多種因
用鈥(－Holutn)玻璃的特征譜線測試
對于光譜帶寬優于2nm-的掃描型的紫外可見分光光度計，經常有人用鈥玻璃來測試波長準確度。鈥玻璃有很多特征譜線，如241nm、279. 4nm、333. 7nm、360. 9nm、418. 7nm、536. 2nm等1 1根特征線（隨著溫度的不同，這些波長值有所變化。因此，使用者要注意經常標定
磁致濺射儀層核生長型薄膜的形成
在基體和薄膜原子相互作用特別強的情況下，才容易出現層核生長型。首先在基片表面生長1-2層單原子層，這種二維結構強烈地受基片晶格的影響，晶格常數有較大的畸變。然后再在這原子層上吸附入射原子，并以核生長方式生成小島，最終形成薄膜。
XPS圖譜之光電子譜線
每一種元素都有自己特征的光電子線，它是元素定性分析的主要依據。譜圖中強度最大、峰寬最小、對稱性最好的譜峰，稱為XPS的主譜線。
XPS圖譜之俄歇電子譜線
電子電離后，芯能級出現空位，弛豫過程中若使另一電子激發成為自由電子，該電子即為俄歇電子。俄歇電子譜線總是伴隨著XPS，但具有比XPS更寬更復雜的結構，多以譜線群的方式出現。特征：其動能與入射光ｈν無關。
原子吸收譜線變寬怎么回事
譜線變寬有好多種的！主要有1.自然寬度，2.多普勒變寬又叫熱變寬，3.壓力變寬，壓力變寬又分為勞倫茲變寬和赫魯茲馬克變寬。還有場致變寬，自吸效應等等。通常情況下是多普勒變寬和勞倫茲變寬。
島津擴展MALDI質譜產品線，提供增強的性能和靈活性
[ 2008年3月4日島津科學儀器公司] 哥倫比亞特區，馬里蘭州， 2008年3月1日 島津科學儀器公司更新了它的AXIMA MALDI TOF 質譜產品線，推出三種新的系統，以滿足研究者不同的應用和預算需求。 AXIMA Performance?型質譜儀，突出性能表現為，在蛋白質組學、生
影響原子吸收譜線變寬的因素有哪些
原子吸收譜線變寬有多種因素影響：1多普勒變寬：由于原子在空間作無規則熱運動所導致的。2壓力變寬：由于吸光原子與蒸汽中原子或分子相互碰撞而引起的能級稍微變化,使發射或吸收光量子頻率改變而導致的譜線變寬。還有其它因素如：強電場和磁場引致變寬,自吸效應等。一、多普勒變寬多普勒寬度是由于原子熱運動引起的。從
原子吸收光譜法的譜線輪廓
原子吸收光譜線并不是嚴格幾何意義上的線，而是占據著有限的相當窄的頻率或波長范圍，即有一定的寬度。原子吸收光譜的輪廓以原子吸收譜線的中心波長和半寬度來表征。中心波長由原子能級決定。半寬度是指在中心波長的地方，極大吸收系數一半處，吸收光譜線輪廓上兩點之間的頻率差或波長差。半寬度受到很多實驗因素的影響。影
簡述天體分光光度測量的譜線測量
譜線測量范圍內單色輻射與連續光譜強度的比例，求出譜線輪廓或等值寬度。譜線測量輪廓要求有高色散、高分辨本領的分光儀。分辨本領較低的分光儀只能測等值寬度。測量時應注意連續光譜的影響。對測量結果首先要作散射光改正,再作儀器輪廓改正,才能得到較正確的觀測譜線輪廓。 比較觀測輪廓和理論計算的輪廓，可以分