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  • 發布時間:2022-09-25 10:28 原文鏈接: x射線熒光光譜的微區分析技術介紹

      銅礦物在自然界存在形式多樣,有原生帶次生富集帶和氧化帶等,共生礦物和伴生礦物眾多,各類礦物均存在類質同象或者鏡下光學特征相似的現象,傳統的巖礦鑒定方法利用偏光、反光顯微鏡或實體顯微鏡等設備難以鑒別,對于此類礦物的鑒別需要借助化學分析方法或微區分析技術。

      微區分析技術(電子探針、同步輻射、全反射微區分析)已在地質、環境、考古和材料科學等領域獲得了應用。在半導體材料方面,微探針和同步輻射技術為摻雜元素的行為研究提供了新的方法:在考古方面應用微區能量色散x射線熒光元索成像法測定陶瓷中重金屬元素;在地質學方面,應用x射線熒光光譜(XRF)微區分析技術分析隕石;應用微束X射線熒光微區測定了鈾礦石;應用微束微區X熒光探針分析儀檢測心礦石內的礦物顆粒。

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