x射線鍍層測厚儀在檢測時具有什么原理？

x射線鍍層測厚儀已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節，是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。使用x射線鍍層測厚儀的主要測量方法有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
 

　　x射線鍍層測厚儀的工作原理：
 

　　x射線鍍層測厚儀是通過X射線激發各種物質(如Mo、Ag、Mn)的特征X射線，然后測量這被釋放出來的特征X射線的能量對樣品進行進行定性，測量這被釋放出來的特征X射線的強度與標準片(或者對比樣)對比得出各物質的厚度，這種強度和厚度的對應關系在軟件后臺形成曲線。而各種物質的強度增加，厚度值也增加，但不是直線關系；通過標樣和軟件及算法(算法有FP法和經驗系數法)得到一個接近實際對應關系的曲線。
 

　　x射線鍍層測厚儀的特點：
 

　　1、一次可同時分析24個元素。
 

　　2、任意多個可選擇的分析和識別模型。
 

　　3、相互獨立的基體效應校正模型。
 

　　4、多變量非線性回收程序。
 

　　5、專業貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。
 

　　6、針對不同樣品可自動切換準直器。
 

　　7、智能貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。
 

　　8、內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍以上。