一文了解衍射襯度與質厚襯度的區別

　　晶體試樣在進行電鏡觀察時，由于各處晶體取向不同和（或）晶體結構不同，滿足布拉格條件的程度不同，使得對應試樣下表面處有不同的衍射效果，從而在下表面形成一個隨位置而異的衍射振幅分布，這樣形成的襯度稱為衍射襯度。質厚襯度是由于樣品不同微區間存在的原子序數或厚度的差異而形成的，適用于對復型膜試樣電子圖象做出解釋。

　　衍襯像大體可分為兩類：當完整晶體存在一定程度不均勻性。例如厚度或取向的微小變化，這時衍襯像上呈現一組明暗相間的條帶，稱為等厚或等傾消光輪廓；若無厚度或取向變化，則為均勻的襯度；另一類是含缺陷晶體的衍襯像，其像襯隨缺陷的類型和性質不同而異。

　　非晶樣品透射電子顯微圖像襯度是由于樣品不同微區間存在的原子序數或厚度的差異而形成的，即質量厚度襯度（質量厚度定義為試樣上表面單位面積以下柱體中的質量），也叫質厚襯度。質厚襯度適用于對復型膜試樣電子圖象作出解釋。質量厚度數值較大的，對電子的吸收散射作用強，使電子散射到光欄以外的要多，對應較暗的襯度。質量厚度數值小的，對應較亮的襯度。

　　其本質上是一種散射吸收襯度，即襯度是由散射物不同部位對入射電子的散射吸收程度有差異而引起。它與散射物不同部位的密度和厚度的差異有關。