利用梅特勒XP超越系列分析天平檢測顆粒粒度

顆粒粒度指顆粒的大小。通常球體顆粒的粒度用直徑表示，立方體顆粒的粒度用邊長表示。對不規則的礦物顆粒，可將與礦物顆粒有相同行為的某一球體直徑作為該顆粒的等效直徑。有時候，在描述粉塵顆粒大小的時候也會用到。

利用梅特勒XP精密天平檢測顆粒粒度，需要配備篩分易巧稱量組件。梅特勒篩分易巧稱量組件，是將樣品篩固定在天平稱量臺上，以方便顆粒物稱量的輔件。用戶使用組件將樣品篩固定在天平稱量臺后，只需輕點觸摸屏上的One Click? ,即可啟用一鍵稱量篩分分析解決方案，根據屏幕提示步驟，樣品篩可逐步稱量。

梅特勒電子天平用于顆粒粒度檢測步驟如下：

    1、一鍵啟動任務，固定樣品篩正確位置并自動稱量所有空篩。

    2、篩分，篩分震動器對樣品篩進行篩分并完成樣品稱量。

    3、回稱，系統提示下一步篩分并顯示每個樣品篩的質量。

    4、結果，顯示顆粒粒度分布百分比。

    5、記錄存檔，存儲數據，可隨時打印符合GLP結果報告。