安東帕攜全新Litesizer500納米顆粒及Zeta電位分析儀參展CPHI

　　分析測試百科網訊 2016年6月21日，第十六屆世界制藥原料中國展——CPHI China 2016在上海浦東新國際博覽中心盛大開幕。安東帕攜新產品——Litesizer TM 500 納米顆粒及Zeta電位分析儀參展本屆展會，并舉辦新產品技術交流會向用戶展示其最新創新技術及應用。

奧地利安東帕展臺

Litesizer TM 500 納米顆粒及Zeta電位分析儀

　　Litesizer TM 500 是用于表征溶液中分散的納米顆粒以及亞微米顆粒的儀器，可通過測量動態光散射（DLS）、電泳光散射（ELS）和靜態光散射（SLS）來測定顆粒尺寸、Zeta電位和分子量。

　　最準結果測試：粒度采用最多三個檢測角度，電位采用最新ZL連續監控相位光散射技術，使結果準確性達到最高。

　　雙層保護外殼設計：儀器所有光學器件放置在內置保護殼中，降低振動帶來的影響，確保測量不受灰塵或溫度波動影響。

　　一鍵式操作：輸入參數、測量和分析集中在一個頁面，只需輕觸一鍵即可完成測試。

　　持續透光率測量：儀器根據透光率自動設置測試參數，比如聚焦位置、檢測角度、濾光強度以及測試時間。

　　樣品池：電位測試采用倒置Ω形毛細管樣品池，在測試通道內形成均勻電場，保證結果的穩定性和可重復性。

安東帕激光粒度儀銷售工程師 顧夢懿

　　在Litesizer TM 500 納米顆粒及Zeta電位分析儀新產品技術交流會上，安東帕激光粒度儀銷售工程師顧夢懿向參會觀眾介紹了這款新產品的優勢特性、技術創新和應用領域。

　　Litesizer TM 500 納米顆粒及Zeta電位分析儀可用于測量顆粒粒徑、粒徑分布、動態光散射、Zeta電位、電泳光散射、分子量、靜態光散射和透光率。

　　Litesizer TM 500 納米顆粒及Zeta電位分析儀具有超短時間預熱，防塵、防溫度波動、抗震，友好的用戶體驗軟件設計，樣品連續測試，全自動測試模式、3角度檢測器等優勢，可用于納米粒度相關行業包括生物制藥領域中的影響藥物藥效、污染物指示的應用方向，例如靜脈注射液、脂質體的應用。

　　在本屆CPHI展會上，安東帕還展出了包括MCP系列高精度智能旋光儀，Abbemat系列折光儀，密度聲速儀DSA 5000M、便攜式密度計DMA 35、模塊化智能型高級流變儀MCR72/MCR92 、高效微量落球粘度計Lovis 2000 M/ME 、微波消解儀Multiwave GO等一系列制藥行業的主打產品。

密度聲速儀DSA 5000M

便攜式密度計DMA 35

模塊化智能型高級流變儀MCR72/MCR92

高效微量落球粘度計Lovis 2000 M/ME

微波消解儀Multiwave GO

MCP系列高精度智能旋光儀