島津攜納米粒徑分析裝置IG1000參加中國顆粒學會盛會

    2010中國顆粒學會盛會于8月15日-18日在西安舉行，這是國內顆粒分析行業最重要的學術會議，顆粒分析專家和年輕學者匯聚一堂，交流各自學術研究成果。作為分析儀器界最大供應商之一，顆粒分析儀器的知名專業生產廠商，島津公司盛裝出席，展出了島津公司最新的納米粒徑分析裝置IG-1000。會議上還通過報告的形式將島津公司顆粒分析的最新技術和應用進展與與會專家學者進行了分享匯報。

用戶在島津展臺前就顆粒分析技術問題進行交流

     此次會議上島津的單納米分析裝置IG-1000備受關注。IG方法（Induced Grating method）是島津公司開發的獨一無二的納米粒徑測定技術，為此IG-1000獲得了2009 Pittcon大獎，這是全球分析儀器界對于島津公司先進粒度分析技術的充分肯定。 

     島津公司納米分析技術專家安國玉經理向與會的各位專家學者詳細介紹了島津IG-1000在納米分析行業的最新應用以及IG-1000的測定優勢所在。與目前采用散射光的動態光散射儀器（DLS）方法相比較, 優勢明顯。測定范圍最低到0.5nm，在單一納米顆粒領域可以獲得十分良好的信噪比(S/N)，靈敏度也非常高。即便樣品中含有少量的粗大粒子時對測定也沒有影響，分布廣的樣品可以得到正確的結果，克服了以往DLS產品耐污染性差的缺點。IG-1000不使用散射光，因此不受物理參數的限制，不要求輸入折射率因子(refractive index)作為測量條件。IG-1000測定結果可以與其他納米粒子測定手段如TEM和SEM等所得結果吻合。IG-1000的方便可靠之處還在于，可利用原始數據（衍射光強度對時間的變化）來進行測定結果的可靠性驗證。 

島津公司納米分析專家安國玉經理在進行IG-1000的報告 

     此次會議上島津公司粒度分析儀器應用工程師馮旭先生也就其在衛生陶瓷潔具分析中的應用方法開發結果與各位進行了分享。衛生陶瓷潔具行業涉及到多種粉體原料的分析測試，粉體材料的粒徑會影響到最終產品的外觀美觀度和耐用度，因為粉體原料的粒徑分析至關重要，所以島津公司近期就如何使用粒度分析儀器得到準確的結果進行了研究并與顆粒分析工作者進行分享。 

島津公司粒度分析儀器應用工程師馮旭先生在作報告 

     島津公司粒度測定裝置種類齊全，單一納米粒徑的新產品IG-1000可以與島津其他多種型號的激光粒度儀聯合使用，實現了從納米到微米范圍的可靠測定。