布魯克在Analytica2016推出多款新品及分析解決方案

發布時間：2016-05-11 19:00 原文鏈接：布魯克在Analytica2016推出多款新品及分析解決方案

　　分析測試百科網訊在本周的Analytica 2016上，布魯克推出一系列新產品及解決方案，給醫藥、工業和應用市場的客戶帶來全新的性能及用戶體驗。新產品具有更高的靈敏度、更強的特異性和最大化的生產效率，包括以下幾種：

　　應用及醫藥市場：

　　SENTERRA? II 緊湊型拉曼顯微鏡

　　SENTERRA? II 是一款操作簡單，共聚焦，多激光的拉曼成像顯微鏡并具有多種采集模式，擁有完美的速度與空間分辨率。SENTERRA? II 的引擎經過重新設計，旨在提高光譜的分辨率和性能。SENTERRA? II 的SURE_CAL技術使得拉曼成像及波長計算有更高的準確度。通過激光器、光柵、過濾器和光圈等組件，SENTERRA? II可以進行全自動地參數設置。全面支持操作和性能認證（OQ / PQ）和GLP、GMP 和21CFRp11 法規的要求。

S4 TStar?全反射X射線熒光（TXRF）光譜儀

　　新的S4 TStar?全反射X射線熒光（TXRF）光譜儀使得超痕量元素分析廣泛應用于各種領域，像醫藥、食品和環境測試等。S4 TStar具有三種不同的激發模式和一個高性能、大面積XFlash?硅漂移檢測器(SDD)，用來保證從鈉到鈾的所有元素超低量檢測。相較于ICP或者是AAS，TXRF對于樣品前處理要求比較靈活，這使得S4 TStar成為各種類型樣品（包括溶液、懸濁液、固體、切片、細胞培養、涂片和薄片等）分析的靈活的工具。配備90個樣品的自動樣品進樣器，使用內部QA樣品自動穩定系統參數，S4 TStar可進行24/7多用戶操作。并且對布魯克的單激發源S2 Picofox? TXRF系統是一個補充。

　　新的MALDI PharmaPulse rapifleX解決方案是布魯克為醫藥、生物技術及CRO領域的客戶設計的最新的產品。基于10 kHz rapiflex? MALDI-TOF系統并結合自動化解決方案，這是布魯克第一個以質譜為主，非標記的uHTS解決方案，使用標準的1536微孔板，或是6144孔板。MALDI PharmaPulse rapifleX解決方案可以在小于8分鐘的時間內分析一個1536MTP，并且由于其優越的穩定性它非常適合于眾多化合物的前期篩選，同時花費極低的樣品成本。它對底物和產物的非標記檢測加速試驗發展，減少篩選的復雜性，同時還能將傳統的uHTS技術中標記物干擾減小到最低程度。

　　食品和環境市場

　　基于和聯合利華的合作，布魯克推出了新的‘minspec G-Var’方法用于快速檢測食品乳液中的滴徑分布。使用布魯克的時域核磁共振TD-NMR minispec?技術，可以快速準確的測量黃油、低脂涂抹物、人造黃油和蛋黃醬中的滴徑分布，同樣也適合沙拉醬和奶酪。此外，它還能對單個液滴尺寸進行估算。相較于之前的‘minspec D-Var’，新的‘minspec G-Var’在速度方面要快四倍，可以測量更小的液滴尺寸，并且在保證精度的同時降低測量成本。

　　PesticideScreener 和ToxScreener 2.1：這兩個強大的解決方案都是基于布魯克創新的QTOF儀器基礎上，允許用戶在一個試驗中對上百個化合物進行簡單篩查、鑒定、定性及定量。通過大的篩查數據庫和新的軟件，這些解決方案可以為用戶在日常食品、環境和法醫方面的檢測帶來更高通量和更高的可靠性。新的布魯克TASQ? 1.1軟件（目標物的篩選和定量），旨在提高布魯克QTOF質譜儀對復雜基質中微量殘留物的篩選的分辨率和質譜數據的準確性。

　　納米分析，顯微鏡和先進材料研究市場

　　新的ESPRIT QUBE軟件為通過電子顯微鏡的電子背散射衍射系統（EBSD）或能量色散X射線光譜儀（EDS）所采集數據的后處理和3D可視化提供了強大有力的工具。無論3D數據場是通過專用技術的FIB/SEM還是通過傳統金相技術的標準SEM獲得，ESPRIT QUBE都能對3D數據進行分析。這將有助于材料科學家，無論是新手還是高手，對微觀結構具有更深刻地理解，例如位錯密度、晶體邊界層、晶體等。

　　新的SPECTRA.ELEMENTS?軟件適用于S2 PUMA?臺式EDXRF光譜儀，使得用戶能全面開發元素分析性能。通過無標樣解決方案SMART-QUANT FP?，S2 PUMA的應用范圍擴展到了材料科學的R&D應用領域。允許用戶對不同的液體或者是固體樣品進行定量分析，例如金屬、陶瓷和油脂等。SMART-QUANT FP?還是分析非常規樣品的重要工具。布魯克還發布了GEO-QUANT M?解決方案，主要用于地質、采礦和礦物方面；CEMENT-QUANT?解決方案則主要用于建筑材料方面。所有的這些解決方案都滿足國際標準，如ASTM C114。

　　新的Contour CMM Dimensional Analysis System是世界第一臺非接觸的度量系統，可同時測量納米級的高度、表面粗糙度、波紋度和表面形狀，以及幾何尺寸和容差的3D測量，所有的測量都可在同一臺儀器上進行。

FastScan Pro Industrial原子力顯微鏡

　　FastScan Pro Industrial原子力顯微鏡具有以前只有專家級別的原子力顯微鏡才有的性能，具有超高重復性和再現性。該系統結合布魯克的超低噪音和快速掃描技術，使得FastScan Pro具備了在無損數據質量情況下而提高通量的性能。FastScan Pro系統還配備了全面綜合的自動化軟件包，具有直接寫入功能，將復雜的計量程序變為簡單，按鍵式的操作。開放式平臺，超大樣品架，還有易于操作等功能，使得FastScan Pro成為為廣大用戶不二選擇的高性能的原子力顯微鏡。

　　布魯克的總裁兼首席執行官Frank Laukien博士說：“在Analytica 2016上，布魯克將繼續為我們全球的應用、醫藥和工業市場的用戶提供穩定、高價值的分析解決方案和科學儀器。”