相比傳統TEM,由于AC-TEM有效削減了像差,AC-TEM分辨率顯著提高。傳統TEM、STEM的分辨率在納米、亞納米級,而AC-TEM和AC-STEM的分辨率則能夠達到埃級和亞埃級別!分辨率的提高意味著能夠對材料進行更精細更準確的結構表征。
2024年12月18日,由北京理化分析測試技術學會電子顯微學專業委員會主辦的2024年度北京市電子顯微學年會在中復大廈成功舉辦。會議旨在為推動北京及周邊省市廣大電子顯微學的學術及技術水平,促進電子顯微......
11月26日上午,大連理工分析測試中心二期實驗室啟用儀式在知遠樓舉行。黨委書記項昌樂,校長助理陸安慧出席儀式。項昌樂和與會人員共同為分析測試中心二期實驗室首臺設備——球差電鏡揭幕。項昌樂在致辭中指出,......
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