掃描電鏡(SEM)和顆粒表征
如上所述,掃描電鏡(SEM)對 AM 工藝制造的產品的表面進行成像和表征。 另外,對于粉末材料的表征,可以使用專用軟件,例如由飛納電鏡開發的顆粒統計分析測量系統(ParticleMetric)。
該軟件可以自動檢測掃描電鏡樣品上存在的顆粒,并通過測量幾種最重要的物理性質,如尺寸,形狀,圓度,長徑比等來準確表征它們。這些物理數值需要檢查和分析大量顆粒,因此這些自動執行的表征過程就顯得非常重要,可以有效提高測試者的工作效率。
另外,掃描電鏡(SEM)可以通過使用所配備的能量色散X射線光譜儀(EDX)檢測粉末材料的化學特性。 將掃描電鏡(SEM)的 EDX 探頭應用于 AM 工藝中,操作員可以準確檢測和量化樣品中存在的元素。
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