捷歐路攜JCM6000Plus和JSMIT500參加BCEIA2017

　　分析測試百科網訊 2017年10月10日，第十七屆北京分析測試學術報告會暨展覽會（BCEIA2017）在北京國家會議中心開幕。捷歐路（北京）科貿有限公司攜JCM-6000Plus和JSM-IT500兩款電子顯微鏡亮相本次展會。

捷歐路展臺

JCM-6000Plus

　　JCM-6000Plus采用新的操作屏幕和觸控屏，為客戶帶來了方便的操作體驗，使用起來非常直觀。此外，JCM-6000plus標準配置了低真空模式，還可以安裝EDS等附件，是一款功能豐富的臺式掃描電子顯微鏡。

　　產品特點：

　　設計小巧的臺式掃描電鏡

　　尺寸：寬度325mm×長度490mm×高度430mm；獨具匠心的設計；即使安裝EDS，也不改變外觀。

　　直觀的操作

　　采用觸控屏操作，操作屏幕簡明易懂，按鈕數量控制到最小限度。

　　豐富的功能

　　標準配備了高真空和低真空模式；測長功能也為標配；可以安裝傾斜旋轉馬達驅動樣品架(選配)；可以安裝EDS（元素分析裝置，選配件)

　　響應迅速

　　儀器啟動后3分鐘就可以顯示出圖像；輕觸面板就可以進行高真空/低真空模式間的切換；一體化的柵極，維護非常簡單。

JSM-IT500

　　JSM-IT500在效率方面突破了傳統的通用型SEM，比其InTouchScope?系列高出約35％，實現了更快，更容易的分析。SM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新機型。 從設定視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業速度！是一款無縫操作，使用更加方便的掃描電子顯微鏡。

　　產品主要特點

　　1.SEM和EDS系統的積分

　　進一步集成SEM和EDS系統，實現無縫操作形式觀察到分析。

　　2.新的“Zeromag”功能

　　通過Zeromag功能，樣本導航比以往更容易。用戶可以使用光學圖像或持有人圖形定位要成像的區域或在多個字段上指定分析位置。

　　3.新的“實時分析”功能

　　利用Analytical series（(“Live Analysis”)，嵌入式EDS系統在圖像觀察期間顯示實時EDS光譜以用于有效元素分析。

　　4.“SMILE VIEW?實驗室”，用于圖像和分析數據的集成管理

　　將從收集的SEM圖像到元素分析結果的所有數據集成以促進快速生成報告。

　　5.技術交流

　　從樣本引入到圖像觀察的引導操作。