新品速覽耶拿、JEOL將在Pittcon展發布ICPMS、TOC、GC等新品

　　分析測試百科網訊 舉世矚目的Pittcon 2019即將在美國最古老的城市之一費城召開。分析測試百科網一如既往為您帶來Pittcon會議的最新信息。

　　首先是德國耶拿新品速覽。

　　在今年的Pittcon上，德國耶拿憑借一系列高性能儀器以及足以獲獎的支持和服務開啟了新一年的征程。精確而準確的分析儀器，無論是在質量控制，研究還是常規測試領域，都能提供更好的使用體驗。耶拿正在改變AAS，ICP-OES，ICP-MS，TOC和元素分析儀的使用方式。耶拿的目標是開發并包含客戶反饋，以便為工業應用提供最佳解決方案。耶拿所有的分析儀都經過精心設計，可通過各種升級以及根據客戶的個性化需求量身定制。

• 在3月20日星期三下午2-3點見到《ICP-MS實用指南-初學者教程》（Practical Guide to ICP-MS–A Tutorial for Beginners）和《測量藥物中的元素雜質-實用指南》（Measuring Elemental Impurities in Pharmaceuticals–A Practical Guide）一書的作者——Robert Thomas

• ICP-MS團隊中有兩名新成員將擊敗任何對手:用于超高速應用的PlasmaQuant MS Q和用于常規應用中測定超微量元素的PlasmaQuant MS Elite S

• 制藥領域的新TOC/TNb前鋒：疫苗總蛋白測定的multi N/C 2100S）和痕量TOC測定的multi N/C 3100

• 一次獲得四項結果的EA 5100，用于固體，液體和氣體樣品中的C，N，S和Cl分析

　　作為分析測試領域不可或缺的設備提供商，日本電子（JEOL）也將在Pittcon發布兩款全新產品。

• 首先是具有快速SRM切換和高靈敏度的新型氣相色譜串聯三重四極桿質譜儀系列產品，其主要用于痕量定量。對于日本電子的GC-TOF系統，新的軟件將來自軟電離和硬電離的信息與精確的質量測量和同位素數據組合成統一的報告。

• 全新SEM，日本電子的電子顯微鏡產品線將通過新發布的第四代NeoScope臺式SEM進行擴充。第四代NeoScope具有更高級別SEM的一些功能和靈活性，包括集成分析功能，增強的電子光學和3D成像功能。

• 憑借60多年在核磁共振領域的發展，日本電子將在NMR在多個領域擴展相關業務。例如，日本電子的核磁共振探針技術和軟件升級優化了制藥應用，qNMR用于制藥和食品等。