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  • 發布時間:2018-07-25 18:56 原文鏈接: 機械裝備的失效分析

    對高速電子束入射到試樣表面時產生的一系列電子和光子信號進行了介紹,對透射電子、背散射電子和二次電子的衍射機理和成像機理,以及利用特征X射線和俄歇電子進行元素成分的定性和定量分析原理進行了概述,對透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡的結構、工作原理、工作特性、試樣要求及制樣過程等作了較詳細的描述,重點討論了X射線能譜儀、電子背散射衍射儀以及俄歇電子譜儀在機械裝備構件深層次失效機理研究方面的作用。實際應用表明:電子光學分析技術在機械構件失效分析中的主要應用是可以從深層次(可達到原子級別)研究構件失效的本質,包括材料的晶體結構、組分、表面微觀形貌及各種特性等。

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