追光之路丨安捷倫光譜再結碩果記5800ICPOES首發

　　分析測試百科網訊 伴隨著第十八屆北京分析測試學術報告會暨展覽會（BCEIA 2019）的開幕，安捷倫科技在北京國家會議中心召開了“引領創新之路——安捷倫光譜全球新品5800 ICP-OES發布會”。安捷倫副總裁 光譜及真空產品總經理Philip Binns攜企業高層，清華大學分析中心邢志老師、北京礦冶研究總院測試研究所馮先進研究員作為邀請嘉賓出席此次發布會。分析測試百科網作為支持媒體為您帶來全程報道。

安捷倫展臺一景

發布會現場

安捷倫大中華區光譜產品市場經理馮旭主持此次發布會

安捷倫副總裁光譜及真空產品總經理Philip Binns

　　安捷倫副總裁光譜產品總經理Philip Binns發表主題為“安捷倫原子光譜發展與創新”的精彩演講。報告圍繞安捷倫光譜產品線、光譜技術的發展歷程進行介紹。通過市場調研，安捷倫發現當前實驗室樣品測試結果需重復測試率達15%，主要原因是由于實驗室缺乏有經驗的操作者與人員的高流動性導致樣品前處理或測試過程中出現錯誤。為解決實驗室客戶的困擾，安捷倫全球首發了5800 ICP-OES。憑借功能強大的 ICP-OES 軟件以及超過100個內置傳感器、智能算法和診斷功能的智能化監控體系，它可以在故障發生之前發現問題，從而盡可能消除由于實驗人員操作問題產生的實驗誤差，同時最大程度延長正常運行時間并最大程度減少需要重新測定的樣品數量。

5800 ICP-OES揭幕儀式：

從左到右依次為：安捷倫副總裁光譜及真空產品總經理Philip Binns；

清華大學分析中心邢志老師；

北京礦冶研究總院測試研究所馮先進研究員 ；

安捷倫原子光譜全球市場經理Jeffrey Comerford

5800 ICP-OES

　　此次發布會為新一代5800 ICP-OES在中國的首次亮相，也是全球首發。它是世界上體積最小的ICP-OES，擁有全新的光學系統，帶來更為卓越的儀器性能。

清華大學分析中心邢志老師

　　清華大學分析中心邢志老師發表主題為“原子光譜永不停機——ICP-OES技術進展”的精彩報告。邢志老師擔任中國儀器儀表學會分析儀器原子光譜應用與技術專業委員會主任委員，在原子光譜應用和科研方面擁有多年經驗，主持了多項國家自然科學基金、科技部重大科學儀器專項與首都科技條件平臺等項目。報告對原子光譜的發展歷史進行了回顧。通過對近十年ICP-OES發表文獻統計得知，發射光譜的發展始終呈現上升趨勢。此外，據中國知網顯示，ICP-OES主要應用于環境、冶金、地質、農產品和醫藥衛生等領域。據Web of Science顯示，該儀器則主要應用于基礎研究、環境、食品、生物醫藥等領域。邢志指出，未來的ICP-OES將會進一步拓展檢測的上、下限。在儀器小型化方面，相信在未來亦將實現突破性的發展。

北京礦冶研究總院測試研究所馮先進研究員

　　北京礦冶研究總院測試研究所馮先進研究員發表主題為“礦冶領域ICP-OES應用需求與發展”的精彩演講。馮先進研究員主要從事原子光譜的應用研究及儀器研發工作，參與或主持了國家級、部級、市級和院級科研項目30余項，兼任北京理化分析測試技術學會光譜分會副理事長。報告介紹了ICP-OES技術的發展歷史，ICP同時型（多道）商品儀器在1975年首次推出，在80-90年代儀器性能得到了迅速提高。在此之后，固態成像檢測器和中階梯光柵也相繼被應用在新一代的ICP光譜儀當中。馮先進在報告中表示，基于ICP-OES可同時進行多元素快速分析，并具有動態線性范圍寬等特性，可有效應用于種類繁多且基體復雜的礦冶領域，目前ICP-OES已逐漸發展成為這一領域當中元素分析的重要手段之一。

安捷倫原子光譜高級應用工程師歐陽昆

　　安捷倫原子光譜高級應用工程師歐陽昆發表題為“Agilent 5800 ICP-OES助您奪回浪費的時間”的精彩演講。報告指出，全新Agilent 5800 ICP-OES光譜儀有兩種配置：垂直雙向觀測 (VDV) 和徑向觀測 (RV)。5800通過傳感器和計數器可進行智能儀器狀態追蹤，在系統需要維護時為用戶提供指導，有效縮短停機時間、降低維護成本。此外，Neb Alert功能可持續監測霧化器，并在霧化器需要清潔或發生泄漏時進行提醒，避免時間浪費。此外，ICP Expert可實現自動化故障排除，包括擬合背景校正（FBC）、快速自動曲線擬合技術（FACT）、元素間校正（IEC）、IntelliQuant和智能沖洗。作為市面上最小的ICP-OES，它不僅可為用戶節約寶貴的工作臺空間，還可以降低使用維護成本，緊湊的光路布局能夠實現快速吹掃，從而減少樣品的測量等待時間。

安捷倫光學研發專家Mark Junker

　　安捷倫光學研發專家Mark Junker對5800 ICP-OES的全新光路系統進行解讀。Mark Junker表示，擁有新型ZL技術的自由曲面光路系統主要由自由曲面準直鏡、聚焦鏡、棱鏡光柵組件和第三代檢測器組成。其中，準直鏡采用特殊的磁流變加工工藝，從而使得新型自由曲面準直鏡在極大程度上消除了整體光路系統的像差。其特殊的表面曲率，最佳地匹配了波長的范圍，使得每一波段都可均勻準直并準確聚焦，消除了像散和聚焦的邊緣效應，實現了更加緊湊，形狀更優異的元素信號光斑，并得以高通量高靈敏度的進入檢測器。最后報告指出，新一代5800 ICP-OES不但性能強大，安捷倫還將為中國客戶額外提供一年免費電話支持與一年免費軟件升級等支持。

媒體問答：

　　發布會后，清華大學分析中心邢志老師，北京礦冶研究總院測試研究所馮先進研究員，安捷倫副總裁光譜及真空產品總經理Philip Binns，安捷倫原子光譜全球市場經理Jeffrey Comerford，安捷倫光學研發專家Mark Junker，安捷倫原子光譜高級應用工程師歐陽昆，安捷倫大中華區分子和原子光譜產品經理黃傳旭，安捷倫大中華區光譜產品市場經理馮旭就新品5800 ICP-OES與現場媒體展開了進一步的交流。

媒體問答合影

　　自由曲面光學準直鏡技術應用全新ICP-OES

　　Philip Binns：安捷倫對發布的新品已不再強調檢測靈敏度、分辨率等性能參數。因為這樣的升級在我們看來再基礎不過。

　　5800 ICP-OES是目前市面上檢測效率最高的產品之一。安捷倫將智能化的概念引入于這款儀器。它的內部安置了超過100個傳感器，通過軟件交互界面、數據庫，智能化軟件與傳感器等硬件的結合，能夠及時對樣品與儀器自身的問題進行預警，并協助用戶智能識別光譜干擾，并開發分析方法，從而得出專家級的檢測結果。此外，在儀器中，安捷倫加入了全新的自由曲面光學準直鏡技術，它可以有效改善檢測器的邊緣效應和像差，是安捷倫的重要里程碑。

　　想你所想 憂你所憂

　　Philip Binns：現在第三方檢測機構特別多，絕大部分在規模上都是中小型，運行狀況也都是處于起步階段，有一個特點就是技術人員流失嚴重，因此導致檢測人員經驗缺乏。為了幫助客戶對實驗結果的確認建立信心，5800會提供更多關于樣品或儀器的信息。對如霧化器或炬管等部件因高鹽等原因造成堵塞等問題提前預警，提醒用戶主動維護，保證數據準確。關于樣品本身，可以針對不同樣品，進行所有元素半定量分析，以及實現智能光譜干擾識別，自動推薦最佳譜線等功能。

　　第二個例子關于未知樣品方法開發的問題。很多客戶對未知樣品基質和干擾等信息不了解，增加了方法開發的困難。含有不同基體的樣品，如何選擇正確的波長。5800 ICP-OES同樣可以幫您解決這一問題，5800可以智能地，自動識別并評估光譜干擾等因素，從而獲得更高級別的樣品洞察，針對波長進行星級選擇排序，從而為您推薦最佳波長。

　　ICP-OES？ICP-MS？誰取代誰？

　　馮先進： ICP-OES和ICP-MS，這兩個儀器是有交叉的，但是任何一個儀器都不可能替代另外一個儀器。分析方面，ICP-OES的檢出限不及ICP-MS，但是它的應用更為廣泛，要知道僅金屬就有幾十種，再加上各種精礦、尾礦就更為復雜了，這時候ICP-OES的優勢就顯現出來了。而ICP-MS則更多應用于實驗室做痕量、超痕量元素分析或同位素分析，但ICP-OES通過分離手段也是可以做一部分超痕量的元素。除此之外，ICP-MS還有一個問題在于錐口容易污染，做復雜基體痕量元素時存在交叉污染，而ICP-OES就不存在這一問題。總之，我們的原則就是能用ICP-OES就不要用ICP-MS。

　　邢志：市場容量方面，ICP-MS近年來熱度很高，增長量也不少，但相較于ICP-OES（ICP光譜），它對環境的要求更為苛刻，普及率（幾千臺）不及后者（幾萬臺）。從技術與原理方面來看，ICP-MS靈敏度更高毋庸置疑，雖然ICP光譜的靈敏度也越來越高，但ICP-MS還可以做同位素，而ICP光譜做不了；ICP-MS可以很容易與其它儀器聯用，而光譜聯用受靈敏度和檢出能力的制約，很難找到更好的應用方向。就日常使用來看，針對絕大多數微量元素分析，ICP光譜已經滿足了日常工作需求；就購置和使用成本而言，在不進行更低量級分析時，成本更具優勢的光譜儀器仍然是實驗室工作者的不二之選。因此，兩款儀器各有所長，此消彼長，是不能互相替代的。