麥克儀器隆重推出NanoPlus納米粒度與Zeta電位分析儀

　　NanoPlus是一款新型的、具有極寬測試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術來分析納米粒度和zeta電位，并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合數個ISO標準。該儀器采用了高靈敏度測量技術，可滿足濃度從0.1ppm到40%樣品的可粒度(從 0.6nm到10mm)與zeta電位測量的要求。

　　產品應用：

         半導體

　　研究半導體晶體表面殘留雜質與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。

　　醫藥和食品行業

　　乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品)，蛋白質功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究(微囊)。

　　陶瓷和顏料工業

　　表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)和無機溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。

　　聚合物和化工領域

　　乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制(藥品和工業用途)。電解聚合物(聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等)功能研究，控制造紙和生產紙漿過程研究，紙漿添加劑研究。