2016北京光譜技術交流會召開探討布魯克X射線新產品新技術

　　分析測試百科網訊 2016年2月26日，北京理化分析測試技術學會、布魯克（北京）科技有限公司組織召開北京光譜技術交流會。布魯克德國專家及國內的應用工程師，全面介紹了布魯克光譜的X射線衍射/熒光新產品，新技術。來自科研院所、實驗室的70余人參與了此次會議。

光譜技術交流會現場

首鋼北京冶金研究院 鄭國經教授

　　首鋼北京冶金研究院的鄭國經教授出席會議并致辭。

布魯克公司 楊寧

　　布魯克公司楊寧主持會議并介紹了布魯克公司及相關產品。

　　會議現場，布魯克德國專家及國內的應用工程師，全面介紹了布魯克光譜的X射線衍射/熒光新產品，新技術。

布魯克德國專家Lutz Bruegemann（左）和Arnt Kern（右）

　　布魯克公司AXS公司XRD市場經理Lutz Bruegemann博士和Arnt Kern博士兩位德國專家分別做了題為《D8 ADVANCE X-Ray Diffration Solutions for all Applications》和《The New TOPAS V5》的報告，對布魯克D8 ADVANCE X射線衍射儀和TOPAS進行介紹。

　　布魯克公司的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換。

　　TOPAS全稱TOtal Pattern Analysis Solutions，提供全模式分析解決方案。TOPAS V5應用程序的新功能，可進行定量分析、結構分析、顯微組織分析，用于常規應用也有一些新功能，還有TOPAS“COD數據庫”。 Arnt Kern還提到，布魯克將在2016年推出TOPAS V6，“New in TOPAS V6: Structure determination and refinement from PDF data.”其最大特點是從PDF數據測定和細化結構。

布魯克國內應用工程師

　　布魯克應用工程師朱性齊的報告題目為《材料中的納米沉積或孔洞的SAXS分析》，在報告中對SAXS技術、材料中的納米沉積或孔洞的SAXS分析進行介紹。SAXS可以起應用在MgZn2、Ni基高溫合金-富集相分析、介孔材料、薄膜中的取向孔洞等，還可用于液晶結構分析、蛋白結構分析，目前這方面應用在國內還不多見。

　　XRD應用工程師王通介紹了《XRF元素分析對XRD物相鑒定的幫助》。XRD和XRF都是有效的材料表征手段；結合XRF的結果，XRD能夠更加快速準確的確定未知物相。反之，也可以起驗證元素分析結果；結合XRF定量分析結果，有時可以驗證XRD物相定量分析結果的準確性。

　　Micro CT應用工程師王金波介紹了《透視材料3D結構的無損探測手段Micro/Nano CT》。Micro/Nano CT硬件參數包括射線源、探測器、分辨率、掃描樣品尺寸、高精密空氣軸承轉臺、輻射安全等。軟件：控制程序、重構軟件、可視化/協同對比、定量分析、3D體渲染、3D面渲染。應用在天然材料、人工合成材料、工業產品以及其他材料。