2017無機及同位素質譜學術報告精彩繼續

　　分析測試百科網訊 2017年8月19日，2017年中國質譜學會無機及同位素質譜學術會議在四川成都開幕（相關報道：2017年中國質譜學會無機及同位素質譜學術會議成都開幕）。

　　上午的報告中，中國鋼研科技集團有限公司王海舟院士、中國核工業建設集團公司研究員李金英、核工業北京地質研究院研究員郭冬發、清華大學教授林金明、中國工程物理研究院材料研究所研究員廖俊生分別帶來了精彩的報告（詳見報道：2017無機及同位素質譜學術報告（一））。

　　下午的報告中，西北核技術研究所研究員李志明、武漢大學教授胡斌、賽默飛TEA 應用顧問李小波、廈門大學教授杭緯、中國地質大學（武漢）教授胡圣虹、珀金埃爾默公司楊日懷、四川大學教授侯賢燈、復旦大學教授丁傳凡等繼續帶來了精彩的內容分享。

西北核技術研究所研究員 李志明

　　西北核技術研究所研究員李志明的報告題目是《核測試中的質譜技術研究進展》，報告中介紹了核測試中的質譜技術以及西北核技術研究所的質譜技術研究進展。

　　質譜技術緣起于核科學技術，是核科學技術的重要組成部分，在核技術的建立與發展過程中起到十分關鍵的作用。長壽命核素含量極低，放射性方法因半衰期長、天然本底復雜或制樣難度大等諸多因素制約，難以實現超高靈敏度長壽命核素測定，只能采用質譜技術。由于質譜技術具備高靈敏度、高精度等諸多優勢，被廣泛應用于核燃料循環、核武器診斷、核取證以及核環境和核安全等方面。核科學領域中，特別是國家戰略核安全領域，在質譜分析方面提出了更高的要求，傳統的商業質譜儀（TIMS、ICP-MS、AMS等）面臨著巨大的挑戰。

　　核測試中的質譜分析難點有：復雜背景下超痕量核素的定量分析，激光共振電離質譜是目前最有望解決該問題的新型質譜技術；微區痕量核素成像分析；痕量核素形態分析，新型離子源將成為解決痕量核素形態分析難題最有可能的技術途徑。

　　李志明在報告中介紹了西北核技術研究所質譜實驗室目前在無機和同位素質譜關鍵技術研究和設備研制中取得的進展，以及在核測試中的質譜應用分析技術和方法的研究初步結果。

武漢大學教授 胡斌

　　武漢大學教授胡斌的報告題目是《芯片微萃取技術與等離子體質譜聯用用于細胞內痕量元素/形態分析》，報告中介紹了芯片液相微萃取-電熱蒸發（ETV）-ICP-MS分析細胞中痕量元素、芯片磁固相萃取-電熱蒸發（ETV）-ICP-MS/HPLC-IAP-MS分析細胞中痕量元素及其形態、芯片整體柱微萃取-ICP-MS分析細胞中痕量元素及其形態、陣列芯片固相萃取-ICP-MS/HPLC-ICP-MS分析細胞中痕量元素及其形態、液滴微流控芯片-ICP-MS分析整個細胞中痕量元素等內容。

　　通過整合液相微萃取（LPME）、磁固相微萃取（MSPME）和微流體芯片上的整體微萃取，胡斌團隊提出了基于芯片的微萃取技術與ETV/PN/HPLC-ICP-MS組合的新方法，用于微量元素及其物質的分析細胞。提出的基于芯片的分析系統具有檢測限低、富集度高、重現性好、抗干擾能力強、適用于細胞痕量分析（消耗量低至600個細胞）等優點。胡斌表示，未來的研究將集中在進一步減少細胞數量消耗、單細胞分析和含金屬納米顆粒的細胞毒性研究上。

賽默飛TEA應用顧問 李小波

　　賽默飛世爾科技（中國）有限公司TEA 應用顧問李小波的報告題目是《iCAP TQ 三重四極桿技術，讓分析變得如此簡單》，報告中介紹了賽默飛三重四極桿ICP-MS新品iCAP TQ的性能特點及優勢、應用領域等內容。

廈門大學教授 杭緯

　　廈門大學教授杭緯的報告題目是《飛克級元素檢測—激光解吸/激光后電離質譜技術》。

　　激光解吸/激光后電離質譜法（laser desorption/laser postionization mass spectrometry, L2MS）是一種重要的質譜分析手段，它使用兩束激光對待測物進行分析，第一束激光使待測物迅速從樣品表面解吸出來，再通過第二束激光將氣化的待測物質電離形成離子進入質譜分析區。后電離技術充分利用第一束激光解吸出來的原子，實現超痕量分析。

　　杭緯團隊自建了激光解吸/激光后電離反射式飛行時間質譜儀，使用532 nm脈沖激光實現固體表面物質的解吸，使用第二束激光（266 nm）使氣化物質的電離服從多光子非共振電離機理，即待測物原子在吸收一個光子能量后達到馳豫時間較長的穩定激發態，再通過吸收第二個光子使其發生電離。

　　報告中展示了實驗結果，以該儀器在固體樣品直接分析、殘渣分析和納米級深度分析的幾個例子體現了激光解吸/激光后電離質譜技術在元素分析中的優勢，也顯示出激光解吸/激光后電離質譜技術在固體樣品快速分析中的巨大潛力。

中國地質大學（武漢）教授 胡圣虹

　　中國地質大學（武漢）教授胡圣虹的報告題目是《LA-ICP-MS 微區元素成像研究》。

　　分析化學包括定性分析、定量分析、成像分析，成像分析方法包括醫學影像、形貌圖像、分子成像等。元素成像的意義是全面、直觀，元素成像方法有SIMS、SXRF、LIBS、LA-ICP-MS，其中LA-ICP-MS元素成像方法具有低檢出限、高空間分辨率、基體影響較小、寬線性范圍等優勢。LA-ICP-MS元素成像可用于礦物樣品、微體古化石、生物礦化組織等，LA-ICP-MS元素成像可繼續研究的兩個方面是定量校正和元素成像分辨率，報告中介紹了課題組在這些方面的工作進展。

珀金埃爾默公司 楊日懷

　　珀金埃爾默公司楊日懷的報告是關于單細胞ICP-MS(Cell-ICP-MS)技術及應用，介紹了珀金埃爾默NexION 2000 ICP-MS在研究中的應用。

　　Single Cell ICP-MS對于細胞等單顆粒內部的元素具有定性定量能力，并可單顆粒獨立分析；對于單顆粒的粒子直徑容忍度可達100um以上，對于脆弱的細胞壁沒有損壞作用；儀器操作條件極為重要且可控，對于不同尺寸的細胞有強大的適應力；適應于各種基質，尤其是有機成分的分析。

四川大學教授 侯賢燈

　　四川大學教授侯賢燈的報告題目是《ICP-MS/OES：蒸汽進樣、同時測定與應用》。

　　ICP-MS/OES是痕量元素分析最常用最有效的分析方法，已在各個領域獲得廣泛的應用。侯賢燈在報告中介紹了課題組做的研究工作，包括：（1）進樣技術，包括化學蒸氣發生進樣（氫化物發生和光化學蒸氣發生法）、電熱蒸發進樣；（2）ICP-MS/OES同時測定技術，即一次進樣同時獲取元素的質譜信號和發射光譜信號；（3）ICP-MS/OES在實際樣品分析中的應用。

復旦大學教授 丁傳凡

　　復旦大學教授丁傳凡的報告題目是《高階場對離子阱質譜性能的影響及其離子阱有效場半徑的測量》，介紹了離子阱質量分析器的基本原理、高階場對離子阱性能的影響以及離子阱有效場半徑的測量。

　　離子阱質譜儀是眾多質譜儀中的一種，具有結構簡單、體積小、性能好等優點。其核心部件是離子阱質量分析器，可以在單一的質量分析器中同時實現離子存儲、質量分析和串級質譜功能的質量分析器。離子阱質譜的主要研究方向有：新型幾何結構的離子阱、小型化便攜式質譜、新技術和新方法以及理論研究。

　　丁傳凡團隊從理論和實驗二個方面系統研究了高階電場成分，如八極場，十二極場等對四極離子阱質量分析器性能的影響。從理論上設計了一種可以產生一定量八極場成分的線性離子阱質量分析器，并對含有不同量的各種高階場成分的線性離子的質譜性能，如質量分辨能力，離子存貯效率等進行了理論分析模擬。該工作探討了一種離子阱有效場半徑的實驗測量方法，還進一步從實驗上研究了幾種非雙曲面線性離子阱的幾何結構與有效場半徑的關系，為從理論上理解非雙曲面離子阱的基本性質提供了一個新的研究。