SEM結構

結構

1．鏡筒

鏡筒包括電子槍、聚光鏡、物鏡及掃描系統。其作用是產生很細的電子束（直徑約幾個nm），并且使該電子束在樣品表面掃描，同時激發出各種信號。

2．電子信號的收集與處理系統

在樣品室中，掃描電子束與樣品發生相互作用后產生多種信號，其中包括二次電子、背散射電子、X射線、吸收電子、俄歇（Auger）電子等。在上述信號中，zui主要的是二次電子，它是被入射電子所激發出來的樣品原子中的外層電子，產生于樣品表面以下幾nm至

幾十nm的區域，其產生率主要取決于樣品的形貌和成分。通常所說的掃描電鏡像指的就是二次電子像，它是研究樣品表面形貌的zui有用的電子信號。檢測二次電子的檢測器（圖15（2）的探頭是一個閃爍體，當電子打到閃爍體上時，1就在其中產生光，這種光被光導管傳送到光電倍增管，光信號即被轉變成電流信號，再經前置放大及視頻放大，電流信號轉變成電壓信號，zui后被送到顯像管的柵極。

3．電子信號的顯示與記錄系統

掃描電鏡的圖象顯示在陰極射線管（顯像管）上，并由照相機拍照記錄。顯像管有兩個，一個用來觀察，分辨率較低，是長余輝的管子；另一個用來照相記錄，分辨率較高，是短余輝的管子。

4．真空系統及電源系統

真空系統由機械泵與油擴散泵組成，其作用是使鏡筒內達到 10（4～10（5托的真空度。電源系統供給各部件所需的特定的電源。