XRF熔融制樣測定硅酸鹽巖石樣品中的主次成分

硅酸鹽類礦物是主要的造巖礦物，是火成巖、沉積巖、變質巖的主要組分，是工業生產的重要原材料。在地質工作和工業生產中，為了了解巖石內部組分的含量變化，元素在地殼內的遷移情況和變化規律、元素的集中和分散、巖漿的來源及可能出現的礦物，為解決礦體巖相分帶、闡明巖石的成因、巖石礦物定名的確定和工業生產的合理有效綜合利用，經常要進行樣品組分全分析。傳統的化學分析方法，操作過程繁瑣、分析周期長、勞動強度較大、分析結果受分析人員及各種試劑因素影響較大。X熒光光譜法具有制樣簡便、分析速度快、重現性好、多元素組份同時分析和低成本等優點，被廣泛應用在硅酸鹽巖石分析中。以往X熒光采用粉末壓片的方法輔助化學法進行分析、檢測，由于粉末壓片的方法在分析時不可避免的存在著一定的粒度效應和礦物效應的影響，因此對所得結果的精度影響較大。而采用熔融制樣的方法，利用X射線熒光光譜儀進行分析，不但可以消除壓片法存在的粒度效應，而且基本消除了礦物效應對分析結果的影響，并且在制樣的過程中，所需試劑較少，成本較低，流程簡單、分析速度快，大大的解放了勞動力，并且分析結果可以與化學法分析結果媲美。本文以Li₂B₄O₇和LiBO₂（質量比67:33）作混合熔劑，加入LiNO₃為氧化劑，LiBr為脫膜劑，熔融制作玻璃熔片，利用日本理學Primus Ⅱ型X射線熒光光譜分析儀，對硅酸鹽主要成分SiO₂、Al₂O₃、TFe₂O₃、MgO、CaO、Na₂O、K₂O、MnO、TiO₂、P₂O₅含量進行同時分析，得到了較滿意的分析結果。大量的實驗數據表明，利用日本理學Primus Ⅱ型X射線熒光光譜分析儀，對硅酸鹽主要成分含量進行同時分析是可行的。