日本電子在Pittcon2011展會上推出質譜和電鏡新品
2011年3月13日～3月18日，在美國亞特蘭大舉辦的Pittcon 2011展會上， 日本電子JEOL推出其Spiral Tof-Tof 和 InTouch Scope SEM。 Spiral Tof-Tof Spiral Tof-Tof 有15m的飛行時間，比常規的MALDI TOF/TOF儀器超出一個數量級的時間，因此能夠進行同位素前體離子的選擇，選擇的前體來自同一母離子，光譜分析結果更加簡單。 JMS-S3000是日本電子配備獨特的離子光學系統Spiral TOF的一款MALDI-TOF 質譜儀。它具有高分辨率和靈敏度，在科學研究中擁有公認的特殊性能，成為一款領先的分析工具，普遍適用于聚合物合成，材料科學和生物高分子領域研究。 日本電子 JMS-S3000 InTouch Scope SEM 日本電子InTouchScope可移動掃描電鏡提供的成像和分析結果觸手可及，......閱讀全文
日本電子在Pittcon－2011展會上推出質譜和電鏡新品
2011年3月13日～3月18日，在美國亞特蘭大舉辦的Pittcon 2011展會上， 日本電子JEOL推出其Spiral Tof-Tof 和 InTouch Scope SEM。 Spiral Tof-Tof Spiral Tof-Tof 有15m的飛行時間，比常規的MALDI
尼康和日本電子聯手，Pittcon推出NeoScope臺式掃描電鏡
2008年3月3日，Pittcon 2008，新奧爾良，路易斯安那州 尼康Nikon和日本電子JEOL，世界上兩大成像設備供應商，聯手向市場推出臺式SEM掃描電鏡。兩家公司將在Pittcon 2008聯合推出NeoScope。 “對兩家公司來說，NeoScope的合作伙伴關系是一個自然的進展。”
日本電子掃描電鏡共享
儀器名稱：掃描電鏡儀器編號：02012309產地：日本生產廠家：日本電子公司型號：JSM-6460LV出廠日期：200208購置日期：200210所屬單位：材料學院>先進材料薄膜材料實驗室放置地點：逸夫技科樓1134室固定電話：固定手機：固定email：聯系人：曾飛（010-62795373,186
Pittcon－2010討論質譜的成就與挑戰
美國時間本周三上午，Pittcon 2010舉行了以“質譜的成就與挑戰”為主題的會議。會議由美國科羅拉多大學的Imma Ferrer 和 Michael Thurman教授組織。在會議開場致辭中，Michael教授評論了質譜的地位。 第一個演講報告來自于美國德克薩斯大學Jennifer， 報告
力可公司TOF質譜評為PITTCON金獎
2011年PITTCON科學家及業界主編委員會經過集體投票，將業界享有盛譽的編輯選擇最佳新產品金獎授予美國力可公司的高分辨飛行時間質譜CitiusTM LC-HRT。這一獎項表彰最具創新性的新產品，而PITTCON是全球規模和影響力最大的實驗室科學展會。CitiusTM LC-H
日本電子又推出高端掃描電鏡
2011年7月26日，日本電子株式會社全球又同步推出一款超高分辨率的熱長發射掃描電鏡JSM-7800F。它的分辨率可達?0.8nm (15kV)， 1.2nm (1kV)。穩定的大電流可實現高速精準的成分分析，且應用面極廣。 ??? 在中國從推出之日起一年內為推廣期，價格優惠。
JEOL日本電子場發射掃描電鏡共享
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫科技樓B112室固定電話：62773810固定手機：固定email：聯系人：付惟琛（010-627711
日本電子－InfiTOF－飛行時間質譜儀首次亮相－Pittcon－2016
分析測試百科網訊 在Pittcon 2016展會上，日本電子推出了新的 InfiTOF 緊湊型高分辨質譜儀，專門用于實時氣體分析。日本電子 InfiTOF 飛行時間質譜儀 InfiTOF 獨特的多轉向離子光學系統可提供高分辨質譜，尺寸僅為一臺電腦主機的大小。高達30000的
JEOL日本電子場發射掃描電鏡共享應用
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫科技樓B112室固定電話：62773810固定手機：固定email：聯系人：付惟琛（010-627711
日本電子發布雙束電鏡JIB4700F
分析測試百科網訊 近日，日本電子株式會社發布JIB-4700F雙束系統，一部新開發的FIB-SEM儀器。JIB-4700F 產品研發背景 新材料復雜結構的進步發展對FIB-SEM儀器分辨率，精度和通量提出了更高的特殊要求。對此，JEOL開發JIB-4700F多波束系統，一種新的處理和觀測系統
透射電鏡江湖紛爭（一）：日本電子JEOL
如今的透射電子顯微鏡市場，可謂是呈三足鼎立之勢：日本電子，日立和FEI。 今天主要介紹一下老大哥日本電子株式會社JEOL。 提起日本電子，大家都不陌生，目前在我國各大科研院所都不難看到JEOL電鏡的影子。日本電子株式會社，是一家世界頂級的科學儀器生產制造商。在這么多的儀器制造商中說它頂級，其
Cerno－Bioscience將在Pittcon－2008上展示完整MassWorks－質譜套裝軟件
[ 2007年12月5日Cerno Bioscience] 思路生科（Cerno Biosciense）將在Pittcon 2008推出MassWorks sCLIPS （自校正線形譜圖同位素輪廓搜索） ，是它的獲獎產品－MassWoks的最近功能。使用Cerno的ZL技術，sCLIPS通過精確
Pittcon－2018！賽默飛與您相約質譜研討會~~
全球科學儀器行業內歷史悠久、享譽盛名的Pittcon展會（匹茲堡分析化學和光譜應用會議暨展覽會）將于2018年2月26日至3月1日在美國奧蘭多會展中心盛大開幕。 賽默飛世爾將舉行免費教育研討會，與我們的技術專家互動，為您的工作流找到合適的解決方案。另外，每天下午3點至4點30分參加我們的展位，
LECO在Pittcon－2018發布多款元素分析及質譜新品
? ?2018年2月27日，一年一度的Pittcon展會(匹茲堡分析化學和光譜應用會議暨展覽會)在美國奧蘭多會展中心正式開展。作為全球科學儀器行業內歷史悠久、規模最大的展會，本屆Pittcon2018展會展出的全球工業、學術和政府實驗室領域產品和服務受到了大家的廣泛關注。力可儀器（LECO）發布了多
日本電子鎢燈絲掃描電鏡全世界銷量破萬臺
日本電子株式會社是世界上最大的電子光學供貨商，自1975年第一臺鎢燈絲掃描電鏡JSM-T20問世以來，產品質量和技術含量一直在全世界廣泛受到認可。2007年9月，日本電子株式會社榮幸的宣布，全世界已經交貨的鎢燈絲掃描電鏡已經突破一萬臺。 日本電子株式會社研發力量強大，始終把最新的技術以最快的
日本電子攜新品參展Pittcon－2015并慶祝DART發明十周年
2015年3月9日，日本電子慶祝AccuTOF-DART?系列環境電離（Ambient ionization）質譜推出十周年，并于Pittcon 2015展會上推出新品AccuTOF-DART?4G，該產品具備新性能和功能，包括提高分辨率、分析速度、準確度、靈活性和多功能的設
中科院5238萬元采購有機質譜、無機質譜、電鏡等10套儀器
分析測試百科網訊?近日，中國科學院發布2016年儀器設備部門集中采購項目（第二批）公開招標公告。本次招標內容包括有機質譜儀、無機質譜儀、電鏡等共10套儀器，預算5238萬元（人民幣）。詳細內容如下： 東方國際招標有限責任公司受中國科學院各研究所委托，根據《中華人民共和國政府采購法》等有關規定，
日本理學（Rigaku）攜多款產品亮相Pittcon－2015
日本理學公司 日本理學公司對此次在新奧爾良市Ernest N. Morial會議中心舉辦的Pittcon 2015十分重視。3月8日至12日參展期間，該公司在＃3727展臺展示了多款臺式XRD及XRF設備。 Su
清華大學儀器共享平臺JEOL－日本電子場發射掃描電鏡
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫科技樓B112室固定電話：62773810固定手機：固定email：聯系人：付惟琛（010-627711
清華大學儀器共享平臺JEOL－日本電子場發射掃描電鏡
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫科技樓B112室固定電話：62773810固定手機：固定email：聯系人：付惟琛（010-627711
清華大學儀器共享平臺JEOL－日本電子場發射掃描電鏡
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：樣品要求：固體樣品（塊狀或粉末）。塊狀樣品橫向距離小于26mm，高度小于10mm。樣品不能有磁性。預約說明：取消預約需提前48小時。為提高儀器使用效率，每次最少預約時間為2小時。所屬單位：材
日本電子推出新型場發射掃描電鏡JSM7200F
分析測試百科網訊 2015年9月2日，日本電子于皮博迪推出一款新型場發射掃描電鏡JSM-7200F。日本電子JSM-7200F掃描電鏡在1.0kV的條件下擁有1.6nm的超高空間分辨率和300nA的高探針電流。此外，日本電子JSM-7200F掃描電鏡緊湊的外觀設計方
日本電子在APMC10發布ipad遙控掃描電鏡
在澳大利亞珀斯 (Perth) 召開的第十屆亞太電鏡(APMC10)大會上，日本電子發布了可以用ipad、iphone、iMac遙控的場發射掃描電鏡程序界面，適用于日本電子生產的全部場發射掃描電鏡。這是繼日本電子的鎢燈絲掃描電鏡JSM-6010掃描電鏡后，日本電子推出的更加方便、有趣的控制系
清華大學儀器共享平臺JEOL日本電子場發射掃描電鏡
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫科技樓B112室固定電話：62773810固定手機：固定email：聯系人：付惟琛（010-627711
氣體分析質譜質譜原理
? ? 質譜儀配備QuaderaTM 分析軟件, 操作簡單, 功能強大, 有128 個檢測通道，可生成用戶特殊應用軟件界面. 在參數設置, 多種實測方式, 譜庫, 數據統計, 譜圖放大, 光標, 輸入輸出模塊等性能的支持下, 可以更方便地進行定性定量分析以及在線離線分析.? ? ?Omnistar/
質譜及質譜的目的
質譜，是一種分析方法，原理就是讓帶電原子、分子或分子碎片按質荷比的大小順序排列，打出相應的譜線。待分析的樣品分子在離子源中離化成具有不同質量的單電行分子離子和碎片離子，這些單電荷離子在加速電場中獲得相同的動能并形成一束離子，進入由電場和磁場組成的分析器中；其中離子束中速度較慢的離子通過電場后編轉大，
670萬|光譜/質譜/電鏡均在列－該單位采購清單出爐
江蘇省公安廳是江蘇省人民政府下設的主管全省公安工作的職能部門。為便于供應商及時了解政府采購信息，根據《江蘇省財政廳關于做好政府采購意向公開工作的通知》等有關規定，現將江蘇省公安廳（機關）2024年2月(第10批)政府采購意向進行公告，共采購三套設備，分別是紅外光譜儀、電感耦合等離子體質譜儀以及掃描電
近6000萬！這所大學公布質譜、電鏡政府采購意向
為便于供應商及時了解政府采購信息，根據《財政部關于開展政府采購意向公開工作的通知》（財庫〔2020〕10號）等有關規定，浙江大學2022年7至8月政府采購意向公開如下：序號采購單位采購項目名稱采購品目采購需求概況預算金額(萬元)預計采購日期備注1浙江大學高分辨二次離子質譜儀A02100407質譜
日本電子推出第四代全二維GC/TOFAccuTOFGCx
2015年3月9日——日本電子(JEOL)的新品AccuTOF-GCx在美國新奧爾良舉行的2015 Pittcon展會上首次展出，展位號# 1523。JEOL AccuTOF-GCx是日本電子第四代氣相色譜/飛行時間質譜系統。新一代的GC/TOF在分辨率、
上海譜元儀器將參展PITTCON－2018
我司將于2018年2月參加第69屆美國匹茲堡實驗室儀器展—PITTCON。 PITTCON是全球最大的分析化學，科學分析及實驗室展，該展會將于2018年2月27日-3月1日在美國奧蘭多舉行。有關PITTCON 的更多信息，可登陸PITTCON官網站https://pittcon.org進行了解