陜西科技大學1142萬元采購大單公布
陜西科技大學設備招標采購項目(項目編號：Shaanxiyx2012-44) 于2012年9月11日在陜西政府采購網發布招標公告，2012年10月9日評標工作已結束，根據采購人的書面“中標及成交復函”，確定中標及成交單位為： 第1標段：激光拉曼光譜儀(進口) 中標單位：陜西匯研科技有限公司 中標金額：壹佰壹拾陸萬陸仟伍佰元整(￥116.65萬元) 第2標段：表面張力儀(進口) 中標單位：西安西進進出口有限責任公司 中標金額：叁拾叁萬伍仟貳佰元整(￥33.52萬元) 第3標段：差示掃描量熱儀(進口)、TGA的自動進樣器(進口) 成交單位：陜西錫嘉測試技術有限公司 成交金額：伍拾肆萬肆仟元整(￥54.4萬元) 第4標段：傅立葉變換紅外光譜儀(進口) 中標單位：陜西錫嘉測試技術有限公司 中標金額：陸拾貳萬玖仟元整(￥62.9萬元) 第5標段：激光散射儀(進口) 成交單位：陜西福瑞進出口有限責任公......閱讀全文
土壤測試化驗技術5
在中國南方酸性土壤上進行的微量元素臨界值研究證明“以柑橘為供試作物時，土壤 DTPA 提取鋅的臨界值為 0.46 毫克 / 千克、銅為 0.2 毫克 / 千克，錳為 1 毫克 / 千克，鐵為 4.6 毫克 / 千克（潘安堡， 1987 ）”根據“六五”期間全國協作研究的結果，中國主要農田土壤類型的土
孔隙率測試技術
營：孔徑分析儀，孔徑分布測試儀，孔隙率測定儀，比表面積測試儀?用氮吸附法測定孔徑分布是比較成熟而廣泛采用的方法，從吸附規律發現，當氣體分壓P/P0?30.4時，會產生毛細凝聚現象，所謂毛細凝聚現象是指，在一個毛細孔中，若能因吸附作用形成一個凹形的液面，與該液面成平衡的蒸汽壓力P必小于同一溫度下平液面
土壤測試化驗技術4
（四）土壤有效養分測試的校驗分級 土壤測試的相關研究決定了適用于某種類型土壤 的有效養分提取劑，用這種提取劑提取出來的土壤有效養分測試值與農作物對該種養分的吸收量或相對吸收量之間有很好的相關性，或者反過來說它們兩者之間不存 在良好的相關性時，這種提取劑就不能適用于這類土壤。由于這僅是一種相關性的研究
藥物活性測試技術—AlphaScreen
近年來在生命科學領域中興起的新技術——Alpha，是一種基于增強的化學發光的均相免疫技術，已廣泛用于各項生物實驗的研究，包括應用于藥物活性測試。Alpha技術包括AlphaScreen和AlphaLISA技術， 兩種方法都使用同一種供體微珠，但使用不同的受體微珠。 AlphaScreen技
土壤測試化驗技術7
但是嚴格來說，百千克產量的養分吸收量不是常數，特別在產量提高時其百千克產量的養分吸收量有所提高。例如：浙江省水稻百千克吸氮量，在公頃產 4500 千克時為 1 .6 千克，公頃產 7500 千克以上時則為 2.1 千克（周鳴錚， 1987 ）。 黃德明等（ 1985 ）測定了北京郊區不同產量水平小
光電直讀光譜儀對于測試樣品的要求
光電直讀光譜儀對于測試樣品的要求是怎樣的？ 主要是用于鐵基、銅基、鋁基材料的分析。具體要求是只要測試精確度與傳統分析實驗室方法相當就可以了。 對測試樣品的要求:塊狀,導電
X熒光光譜儀測試的方法和要點
X熒光光譜儀總而言之，建立適合用戶的標準樣品庫，才能將X射線熒光光譜儀的效能發揮到極致，雖然前期要做許多工作，例如收集樣品，樣品分析，標準樣品制備等工作，但“磨刀不誤砍柴工”。建立好自己面向應用的標準樣品庫，可以讓自己的檢測做到事半功倍的效果。 一、X熒光光譜儀測試方法： 1、X
X熒光光譜儀測試的方法和要點
?X熒光光譜儀總而言之，建立適合用戶的標準樣品庫，才能將X射線熒光光譜儀的效能發揮到極致，雖然前期要做許多工作，例如收集樣品，樣品分析，標準樣品制備等工作，但“磨刀不誤砍柴工”。建立好自己面向應用的標準樣品庫，可以讓自己的檢測做到事半功倍的效果。一、X熒光光譜儀測試方法： 1、X熒光光譜儀樣品制備
微型光纖光譜儀在LED測試方面的應用
? ? ?微型光纖光譜儀在工業領域的應用目前比較成型的有LED分光、激光光譜分析、吸光度測試、光學透射率測試、各種電光源光色測試等多個方面。? 在顏色測量方面，微型光譜儀器體積小巧、操作靈活在實際生產中有著重要的應用。如：LED品質分選、顏色測量、激光測量和薄膜厚度測量等。 在LED這一節能的產業
X熒光光譜儀測試的方法和要點
?X熒光光譜儀總而言之，建立適合用戶的標準樣品庫，才能將X射線熒光光譜儀的效能發揮到*，雖然前期要做許多工作，例如收集樣品，樣品分析，標準樣品制備等工作，但“磨刀不誤砍柴工”。建立好自己面向應用的標準樣品庫，可以讓自己的檢測做到事半功倍的效果。一、X熒光光譜儀測試方法： 1、X熒光光譜儀樣品制
近紅外光譜儀測試煙葉操作使用步驟
近紅外光譜儀的操作步驟如下： （1）將煙葉樣品全部經60目旋風磨處理，待測： （2）開機（要求在18—24℃范圍內啟動），持續預熱1.5小時； （3）掃描背景，一般要求四次樣品掃一次背景。在環境要求變化不大時可適當放寬要求； （4）用燒杯量取待測樣品約75ml（僅對粉末而言）放入樣品杯，樣品
X熒光光譜儀測試的方法和要點
X熒光光譜儀總而言之，建立適合用戶的標準樣品庫，才能將X射線熒光光譜儀的效能發揮到極致，雖然前期要做許多工作，例如收集樣品，樣品分析，標準樣品制備等工作，但“磨刀不誤砍柴工”。建立好自己面向應用的標準樣品庫，可以讓自己的檢測做到事半功倍的效果。 一、X熒光光譜儀測試方法： 1、X
近紅外光譜儀技術優勢
技術優勢樣品無須預處理可直接測量：近紅外光譜測量方式有透射、反射和漫反射多種形式，適合測量液體、固體和漿狀等形式的樣品，因此，用途很廣。最大的優點就是無須對樣品進行任何預處理，如汽油可直接倒入測量杯中或將光纖探頭直接插入汽油中進行測量，操作非常方便，幾秒鐘內完成光譜掃描。光纖遠距離測量：近紅外光可以
近紅外光譜儀的技術優點
近紅外光譜儀的技術優點近紅外光（Near Infrared，NIR）是介于可見光（VIS）和中紅外光（MIR）之間的電磁波， ASTM 定義的近紅外光譜區的波長范圍為 780~2526nm （12820～3959cm1），習慣上又將近紅外區劃分為近紅外短波（780~1100nm）和近紅外長波（110
原子熒光光譜儀聯用技術
離子色譜-蒸氣發生/原子熒光及高效液相色譜-蒸氣發生/原子熒光聯用技術應用于砷、汞元素形態分析的新進展。 國際上對食品和環境科學中有毒、有害有機污染物高度重視，且在有機污染物的監測分析有了很大發展。人們已越來越認識到砷、汞、硒、鉛、鎘等元素不同化合物的形態其作用和毒性存在巨大的差異。例如砷是一
拉曼光譜儀的技術指標
光學參數 光譜掃描范圍： 186～5000cm-1 輸出功率： 0～50mW 瑞利線阻止： OD>8，最小可探測波數186cm-1 數值孔徑： 0.42 工作距離： 20mm 單色儀： F/#=8 光柵： 1800l/mm 線分辨率： 1.6nm/mm 探測器 探測元件： 單
光電直讀光譜儀的技術發展
光譜起源于17世紀，1666年物理學家Newton第一次進行了光的色散實驗。他在暗室中引入一束太陽光，讓它通過棱鏡，在棱鏡后面的白屏上，看到了紅、橙、黃、綠、藍、靛、紫7種顏色的光分散在不同位置上，這種現象被稱作光譜。到1802年英國化學家Wollaston發現太陽光譜不是一道完美無缺的彩虹，而是被
X熒光光譜儀分析技術誤區
不管任何分析儀器，分析技術是獲得正確結果的保證。分析技術貫穿于儀器應用的全過程。分析方法的選擇必須滿足儀器應用的需要。 誤區1：標樣制備太麻煩，最好用無標樣法。 X熒光光譜儀分析法和其它大部分分析儀器一樣，是相對分析法。在X熒光光譜儀分析中，測得的X射線強度與相應元素濃度的對應關系完全是建立在標準樣
光電直讀光譜儀的技術指標
光路型式：Paschen-Runge型； 凹面光柵：曲率半徑 998.8mm 刻線密度 2160 L/mm 工作波長范圍：170-463nm 逆線色散：0.46 nm/mm 入縫寬度：20 μm 出縫寬度：70μm 最多通道：50個 分光儀恒溫：38°C 分光儀真空：
拉曼光譜儀技術設計要求
技術設計要求編輯（1）體積小、重量輕、能耗低；（2）堅固、抗震，能耐溫度和壓力的驟然變化；（3）在惡劣環境（大溫度，低真空，高輻射）下正常工作；（4）低噪音、高輸出、礦物鑒定靈敏；（5）完善的波數校正標準。[5]?
TENSOR系列FTIR光譜儀技術細節
優異的設計TENSOR II的設計既適合普通樣品的常規測試，也適合與各種附件聯用。儀器整機堅固耐用，密封性良好。?外接附件和樣品倉可選附件TENSOR II可以外接一個光路擴展附件，最多可有4個光路輸出口，聯接多種外置附件。先進的電子設計布魯克公司擁有DigiTectZL技術的檢測器，基于最新的雙通
拉曼光譜儀的技術指標
光學參數 光譜掃描范圍： 186～5000cm-1 輸出功率： 0～50mW 瑞利線阻止： OD>8，最小可探測波數186cm-1 數值孔徑： 0.42 工作距離： 20mm 單色儀： F/#=8 光柵： 1800l/mm 線分辨率： 1.6nm/mm 探測器 探測元件： 單
火花直讀光譜儀的技術參數
技術配置1、分光系統 l帕型-龍格結構； l波長范圍170nm～510nm； 高精度光刻蝕整體狹縫，可通過折射鏡微調通道偏差； 凹面全息光柵，750mm焦距； 光柵刻線2400條/mm； 一級光譜線色散率0.55nm/mm； 整體鑄造光室，可保證光室真空度工作在10Pa以下。 分
簡述X熒光光譜儀技術原理
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所
X熒光光譜儀的技術原理
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出
X熒光光譜儀的技術原理
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。 X熒光光譜儀的技術原理： 元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有一定特殊性波長的X射線，根據莫斯萊定律，熒光X
近紅外光譜儀的技術優點
近紅外光譜儀的技術優點近紅外光（Near Infrared，NIR）是介于可見光（VIS）和中紅外光（MIR）之間的電磁波， ASTM 定義的近紅外光譜區的波長范圍為 780~2526nm （12820～3959cm1），習慣上又將近紅外區劃分為近紅外短波（780~1100nm）和近紅外長波（110
拉曼光譜儀的技術指標
光學參數 光譜掃描范圍： 186～5000cm-1 輸出功率： 0～50mW 瑞利線阻止： OD>8，最小可探測波數186cm-1 數值孔徑： 0.42 工作距離： 20mm 單色儀： F/#=8 光柵： 1800l/mm 線分辨率： 1.6nm/mm 探測器 探測元件： 單
X熒光光譜儀的技術原理
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集
近紅外光譜儀技術優勢
樣品無須預處理可直接測量：近紅外光譜測量方式有透射、反射和漫反射多種形式，適合測量液體、固體和漿狀等形式的樣品，因此，用途很廣。最大的優點就是無須對樣品進行任何預處理，如汽油可直接倒入測量杯中或將光纖探頭直接插入汽油中進行測量，操作非常方便，幾秒鐘內完成光譜掃描。 光纖遠距離測量：近紅外光可以