晶粒尺寸對冰的“位錯蠕變”影響研究獲進展
冰川與冰蓋中冰的流動被認為是由位錯蠕變這一變形機制所控制。位錯蠕變是一種應變率與應力的n次方成正比，與晶粒尺寸無關的變形機制。以往研究認為n的經驗值為3，而更多的實驗室數據發現n的值應為4。n值上的差異可能是不同的實驗方式或數據采集方式所致。如圖1，在peak stress（小形變量）采集的力學數據反映了材料在均勻、各向同性的顯微結構下的流變學性質；而在flow stress（大形變量）采集的力學數據則反映了材料在各向異性的顯微結構下的流變學性質。 n值上的差異導致冰川流動的模擬和預測結果的差異，為了理解并彌合這一差異，中國科學院地質與地球物理研究所地球與行星物理院重點實驗室副研究員綦超聯合賓夕法尼亞大學教授Goldsby，對一系列冰樣品開展了低溫有圍壓的軸向壓縮變形實驗，并分析了實驗的力學數據，不同數據采集方式下，計算冰的位錯蠕變的應力指數n。 研究發現，在peak stress下獲得的n值為3.6，與此前小形變量實驗......閱讀全文
XRD數據計算晶粒尺寸
Scherrer公式計算晶粒尺寸（） Scherrer公式計算晶粒尺寸（XRD數據計算晶粒尺寸） 根據X射線衍射理論，在晶粒尺寸小于100nm時，隨晶粒尺寸的變小衍射峰寬化變得顯著，考慮樣品的吸收效應及結構對衍射線型的影響，樣品晶粒尺寸可以用Debye-Scherrer公式計算。
晶粒尺寸及形狀的分析EBSD
晶粒尺寸及形狀的分析傳統的晶粒尺寸測量依賴于顯微組織圖象中晶界的觀察。自從EBSD出現以來，并非所有晶界都能被常規浸蝕方法顯現這一事實已變得很清楚，特別是那些被稱為“特殊”的晶界，如孿晶和小角晶界。因為其復雜性，嚴重孿晶顯微組織的晶粒尺寸測量就變得十分困難。由于晶粒主要被定義為均勻結晶學取向的單元，
如何用imageJ求TEM圖像中的晶粒尺寸分布
用imageJ求TEM圖像中的晶粒尺寸分布的方法：用ImageJ打開一幅圖，然后選Straight Lines，在bar上量一下，然后在菜單中的Analyze中選Set Scale，在Known Distance 填上bar所代表的長度。然后就可以量了，用Straight Lines量距離，然后按住
X射線衍射分析對晶粒尺寸和點陣畸變的測定
若多晶材料的 晶粒無畸變、足夠大，理論上其粉末衍射花樣的譜線應特別鋒利，但在實際實驗中，這種譜線無法看到。這是因為儀器因素和物理因素等的綜合影響，使純衍射譜線增寬了。純譜線的形狀和寬度由試樣的平均晶粒尺寸、尺寸分布以及 晶體點陣中的主要缺陷決定，故對線形作適當分析，原則上可以得到上述影響因素的性
納米金屬機械穩定性的反常晶粒尺寸效應發現
納米金屬的晶界在機械變形作用下容易發生晶界遷移并伴隨晶粒長大，使得納米材料發生軟化，這種現象在拉伸、壓縮、壓痕等變形條件下均有大量實驗和相關計算模擬結果的報道。 近日，中國科學院金屬研究所沈陽材料科學國家研究中心盧柯院士、李秀艷研究員發現，對于塑性變形制備的納米晶Cu、Ag、Ni樣品，準靜態拉
晶粒尺寸對冰的“位錯蠕變”影響研究獲進展
冰川與冰蓋中冰的流動被認為是由位錯蠕變這一變形機制所控制。位錯蠕變是一種應變率與應力的n次方成正比，與晶粒尺寸無關的變形機制。以往研究認為n的經驗值為3，而更多的實驗室數據發現n的值應為4。n值上的差異可能是不同的實驗方式或數據采集方式所致。如圖1，在peak stress（小形變量）采集的力學
晶粒尺寸對冰的“位錯蠕變”影響研究獲進展
冰川與冰蓋中冰的流動被認為是由位錯蠕變這一變形機制所控制。位錯蠕變是一種應變率與應力的n次方成正比，與晶粒尺寸無關的變形機制。以往研究認為n的經驗值為3，而更多的實驗室數據發現n的值應為4。n值上的差異可能是不同的實驗方式或數據采集方式所致。如圖1，在peak stress（小形變量）采集的力學數據
金屬所發現納米金屬機械穩定性的反常晶粒尺寸效應
納米金屬的晶界在機械變形作用下容易發生晶界遷移并伴隨晶粒長大，使得納米材料發生軟化，這種現象在拉伸、壓縮、壓痕等變形條件下均有大量實驗和相關計算模擬結果的報道。機械驅動晶界遷移不僅破壞材料的性能，也給利用塑性變形法制備納米晶帶來巨大困難。盡管目前對于機械驅動晶界遷移的根本機制還存在爭議，但相關模
金屬所發現納米金屬機械穩定性的反常晶粒尺寸效應
近日，中國科學院金屬研究所沈陽材料科學國家研究中心盧柯院士、李秀艷研究員發現納米金屬機械穩定性的反常晶粒尺寸效應。相關成果3月29日于《物理評論快報》（Physical Review Letters）在線發表。 納米金屬的晶界在機械變形作用下容易發生晶界遷移并伴隨晶粒長大，使得納米材料發生軟
探測受壓力的材料中的納米尺寸晶粒的旋轉的技術
一項研究發現，隨著超精細的材料在高壓下變形，納米尺寸的晶粒出現了旋轉，這一發現對于理解結構材料的強度和壽命以及地球內部的礦物形成具有意義。盡管粗晶粒的材料的變形已經得到了廣泛的研究，科研人員一直在很大程度上不能克服觀測超精細材料納米尺寸晶粒在壓力下變形的實驗挑戰。??????? 利用金剛石壓砧徑
一文搞定晶粒度分析！
金屬晶粒的尺寸(或晶粒度)對其在室溫及高溫下的機械性質有決定性的影響，晶粒尺寸的細化也被作為鋼的熱處理中最重要的強化途徑之一。因此，在金屬性能分析中，晶粒尺寸的估算顯得十分重要。那么根據一張金相照片我們能從中得到哪些信息呢？一、晶粒度概述 晶粒度表示晶粒大小的尺度。金屬的晶粒大小對金屬的許多性
尺寸誤差與尺寸公差有何區別
尺寸誤差與尺寸公差是完全不同的兩個概念.誤差是加工好的零件實際尺寸與規定的尺寸（一個是最大極限尺寸,另一個是最小極限尺寸）的差別；而公差是零件規定尺寸的差值（最大極限尺寸-最小極限尺寸）,其表示精度的高低（公差值越小,精度越高,反之亦然）.例如有一基本尺寸為100毫米,上偏差為+0.02毫米（最大極
尺寸誤差與尺寸公差有何區別
尺寸誤差與尺寸公差是完全不同的兩個概念.誤差是加工好的零件實際尺寸與規定的尺寸（一個是最大極限尺寸,另一個是最小極限尺寸）的差別；而公差是零件規定尺寸的差值（最大極限尺寸-最小極限尺寸）,其表示精度的高低（公差值越小,精度越高,反之亦然）.例如有一基本尺寸為100毫米,上偏差為+0.02毫米（最大極
樣品的尺寸
在實驗過程中,樣品必須通過傳遞桿,穿過超高真空隔離閥,送到樣品分析室,所以樣品的尺寸必須符合一定規范,以利于真空系統的快速進樣。塊狀樣品和薄膜樣品,長寬最好小于10 mm,高度小于5mm。體積較大的樣品,必須通過適當方法制備成大小合適的樣品。在制備過程中,必須考慮處理過程可能對表面成分和化學狀態所產
拉曼峰變寬，晶粒是變大還是變小
拉曼峰變寬，代表原子間無序性增大，原子間距增大，與晶粒大小無直接關系。但是非要說的話，應該是變大。
金相顯微鏡奧氏體晶粒度的概念
奧氏體晶粒大小是用晶粒度來度量的。可用晶粒直徑、單位面積中的晶粒數等方法來表示晶粒大小。晶粒度的評定一般采用比較法，即金相試樣在放大100倍的顯微鏡下，與標準的圖譜相比。YB27-77將鋼的奧氏體晶粒度分為8級，1級zui粗，8級zui細(見P208圖）。0級以下為超粗晶粒，8級以上超細晶粒。奧氏體
金相顯微鏡奧氏體晶粒度的概念
奧氏體晶粒大小是用晶粒度來度量的。可用晶粒直徑、單位面積中的晶粒數等方法來表示晶粒大小。晶粒度的評定一般采用比較法，即金相試樣在放大100倍的顯微鏡下，與標準的圖譜相比。YB27-77將鋼的奧氏體晶粒度分為8級，1級zui粗，8級zui細(見P208圖）。0級以下為超粗晶粒，8級以上超細晶粒。奧氏體
通過幾何失配應變設計和合成納米晶粒｜Science
與晶界相關的拓撲缺陷(GB缺陷)對納米晶材料的電學、光學、磁性、力學和化學性質的影響是眾所周知的。然而，通過實驗來闡明這種影響是困難的，因為晶粒通常表現出大范圍的尺寸，形狀和隨機的相對取向。加州大學伯克利分校A. Paul Alivisatos聯合韓國首爾國立大學Taeghwan Hyeon教授
Science｜通過幾何失配應變設計和合成納米晶粒
與晶界相關的拓撲缺陷(GB缺陷)對納米晶材料的電學、光學、磁性、力學和化學性質的影響是眾所周知的。然而，通過實驗來闡明這種影響是困難的，因為晶粒通常表現出大范圍的尺寸，形狀和隨機的相對取向。加州大學伯克利分校A. Paul Alivisatos聯合韓國首爾國立大學Taeghwan Hyeon教授
如何從XRD數據中計算出晶粒的大小
jade 計算的是全譜的粒徑大小，如果你的樣品做的比較好 測出來的各個峰對應的粒徑大小差別不大 如果樣品不太好 直接在儀器上計算出來的是最強峰對應的粒徑大小 就看你想要哪個數據了
大晶粒鈣鈦礦薄膜助力智能眼鏡系統構建
人類獲取的信息70%以上來源于視覺，眼睛是生物采集的關鍵感知器官之一。其中，眼動追蹤傳感器在無干擾、隱蔽監測人類視覺行為方面展現出潛力。目前，多數眼動追蹤設備依賴復雜的傳感系統，圖像處理過程繁瑣且設備體積較大；而基于隱形眼鏡的侵入式方案具備一定便攜性但測量精度有限，并可能引發異物引入的不適感。因此，
金相顯微鏡對于圖像晶粒度的預處理
金相分析是對金屬進行研究和性能測試的重要手段，在顯微鏡下觀察，絕大多數的金屬材料是由許多細小的晶粒組成。傳統的材料學理論認為，晶粒細小材料的常規力學性能如拉伸強度、韌性、塑性等均相對較好；晶粒的尺寸還會影響金屬的疲勞強度。因此，在金屬性能分析中，晶粒尺寸（即晶粒度）的估算顯得十分重要。 金屬是由許
光學安裝尺寸的定義
中文名稱光學安裝尺寸英文名稱optical fitting dimension定 義作為顯微鏡透鏡計算和顯微鏡設計基礎的機械距離或光學距離。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），顯微鏡-顯微鏡一般名詞（三級學科）
什么是光學安裝尺寸？
中文名稱光學安裝尺寸英文名稱optical fitting dimension定 義作為顯微鏡透鏡計算和顯微鏡設計基礎的機械距離或光學距離。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），顯微鏡-顯微鏡一般名詞（三級學科）
影像可以測哪些尺寸
尺寸測量儀很明顯就是測尺寸的，二次元影像測量儀主要測的數據是長和寬二維的數據，而三次元影像測量儀所測的主要是長、寬和高三維數據，當然還有一些別的其他的參數，根據所要測量影像的大小及精度自行把握。
CAD如何測量圖形尺寸
cad測量尺寸的話，方法有很多種啊。看你怎么測量。標注測量的話，也分很多的種類：一、線性標注線性標注可以水平、垂直或對齊放置。可根據放置文字時光標的移動方式，使用 DIM 命令創建對齊標注、水平標注或垂直標注。二、半徑標注徑向標注可測量圓弧和圓的半徑或直徑，具有可選的中心線或中心標記。下圖中顯示了多
徠卡金相顯微鏡對于圖像晶粒度的預處理
金相分析是對金屬進行研究和性能測試的重要手段，在徠卡顯微鏡下觀察，絕大多數的金屬材料是由許多細小的晶粒組成。傳統的材料學理論認為，晶粒細小材料的常規力學性能如拉伸強度、韌性、塑性等均相對較好；晶粒的尺寸還會影響金屬的疲勞強度。因此，在金屬性能分析中，晶粒尺寸(即晶粒度)的估算顯得十分重要。? 金
張廣平團隊揭示孿晶輔助納米晶粒生長機制
近日，中科院金屬研究所沈陽材料科學國家(聯合)實驗室研究員張廣平帶領團隊，通過對納米尺度金屬薄膜疲勞加載下晶粒長大行為的原子尺度研究，揭示了“孿生輔助納米晶粒長大”的全新物理機制，相關論文在線發表于《自然—通訊》上。 盡管金屬中的晶界具有阻礙位錯運動、強化材料的重要作用，但當材料的晶粒尺寸
高應變率作用下高導無氧銅晶粒細化
通過Leica EM TIC3X?對樣品進行離子束切割，樣品EBSD mapping解析率得到明顯提升，可達80%-90%以上，并且結果穩定可重復，更好地表征了晶粒的變形，以及大小角晶界的轉變。實驗樣品高應變率作用下高導無氧銅（OFHC）實驗目的通過電子背散射衍射技術（EBSD）對在高應變率、高溫和
徠卡金相顯微鏡對于圖像晶粒度的預處理
金相分析是對金屬進行研究和性能測試的重要手段，在徠卡顯微鏡下觀察，絕大多數的金屬材料是由許多細小的晶粒組成。傳統的材料學理論認為，晶粒細小材料的常規力學性能如拉伸強度、韌性、塑性等均相對較好；晶粒的尺寸還會影響金屬的疲勞強度。因此，在金屬性能分析中，晶粒尺寸(即晶粒度)的估算顯得十分重要。金屬是由許