質譜分析法術語質譜法
質譜法（ mass spectrometry，MS）亦稱質譜學（ mass spectroscopy），采用不同離子化方式，將待測物電離形成帶電離子，離子按質荷比m/z分離、檢測的方法。質譜法是實現原子（分子）質量測定，同位素分離、分析，物質結構鑒定以及氣相離子化學基礎研究的譜學方法。作為一種檢測手段，其靈敏度高，定性的專一性強，定量再現性好，能夠給出被分析物質的質量數及豐富的結構信息。它源于電物理學，是許多學科的邊緣科學和前沿學科之一。其應用遍及各個科學領域，在現代分離、分析領域中占有重要的地位。......閱讀全文
質譜分析法術語質譜法
質譜法（ mass spectrometry，MS）亦稱質譜學（ mass spectroscopy），采用不同離子化方式，將待測物電離形成帶電離子，離子按質荷比m/z分離、檢測的方法。質譜法是實現原子（分子）質量測定，同位素分離、分析，物質結構鑒定以及氣相離子化學基礎研究的譜學方法。作為一種檢測手
質譜分析法術語無機質譜法
無機質譜法（ inorganic mass spectrometry）用質譜儀器對無機元素或無機化合物進行定性定量分析的方法。早期以火花源質譜法、二次離子質譜法為主，隨著電感耦合等離子體質譜法、輝光放電質譜法的成熟，拓寬了無機質譜法的應用領域。在高純氣體、高純材料中痕量雜質分析，無機物元素分析，固體
質譜分析法術語火花源質譜法
火花源質譜法（spark source mass spectrometry，SSMS）采用火花源質譜儀對被測成分（元素、同位素）進行定性、半定量和定量分析的質譜方法。該法電離效率高，幾乎能使所有被測成分電離，且對所有元素有大致相同的電離效率，實現多元素同時檢測，曾經是高純材料、痕量雜質測量的有效方法
質譜分析法術語靜態真空質譜法
靜態真空質譜法（static vacuum mass spectrometry，SVMS）當進行樣品分析時，質譜儀的分析系統處于靜態真空，即在離子源、分析器和接收器恒定真空狀態下測量，稱之為靜態真空質譜法。靜態真空質譜法主要應用于惰性氣體同位素分析，故也稱為惰性氣體質譜法（inert gas mas
質譜分析法術語表面電離質譜法
表面電離質譜法（surface ionization mass spectrometry）熱電離質譜法的一種，將預測量樣品涂覆在高熔點、高功函數的金屬帶表面或金屬絲表面，借助通過帶或絲的電流產生的高溫而電離，電離生成的離子進入質量分析器進行分離和測量。
質譜分析法術語同位素質譜法
同位素質譜法（ （isotope mass spectrometry）用質譜儀器進行同位素組成的研究和原子質量測量的方法。主要用于核科學、同位素地質學、同位素地球化學和天體物質中同位素豐度的測定。隨著同位素稀釋法和穩定同位素標記技術的發展，同位素質譜法在生物學、臨床醫學、藥學、農學和環境科學領域也得
質譜分析法術語光共振電離質譜法
激光共振電離質譜法（? laser resonance ionization mass spectrometry， LRIMS）是利用激光共振電離質儀進行質譜分析的方法。原則上 LRIMS可實現單原子探測，具有極高的元素、核素選擇性和探測靈敏度，是復雜基質下超痕量中長壽命核素定量分析的有效方法，在材
質譜分析法術語火輝光放電質譜法
輝光放電質譜法（glow discharge mass spectrometry，GDMS）利用輝光放電質譜儀進行質譜測量的一種分析方法。GDMS是無機固體材料，特別是高純材料中痕量雜質檢測的有效方法。
質譜分析法術語激光電離質譜法
激光電離質譜法（ laser ionization mass spectrornetry， L IMS）是利用激光電離質譜儀進行質譜分析的一種方法，具有微區分析功能，可進行逐層剖析，剖析深度可達1um至幾十微米，分析雙敏度高，相對檢測極限5μg/g，在高純材料、生物、醫學等領域獲得成功應用。
質譜分析法術語加速器質譜法
加速器質譜法（ accelerator mass spectrometry，AMS）使用加速器質譜儀進行高能量離子分篇析的質請方法。AMS測量的離子具有高能量，有效克服了傳統質謝測量時的同量異位素和分子本感干找限制，提高了同位素測量的豐度靈度（可達10?-16），為地質、考古、海洋、環境等領域的科學
質譜分析法術語二次離子質譜法
二次離子質譜法（ secondary ion mass spectrometry， SIMS）采用二次離子質譜儀進行質析的方法，該法依賴于所用不同二次離子質譜儀，可劃分為四極桿二次離子質（quasSenary ion nmss spectrometr）、高分辯二次離子質譜儀（ high resolu
質譜分析法術語離氣體穩定同位素質譜法
氣體穩定同位素質譜法（ gas stable isotope ratio mass spectrometry， GSIRMS）該法因測量氣體穩定同位素比值而得名，如測量碳、氧、氮、硫等元素的穩定性同位素，測量結果的品位通常以δ表示，在同位素地球化學、同位素地質學、石油勘探與開采、同位素宇宙學、海洋學
質譜分析法術語峰匹配測量法
峰匹配測量法（peak matching measurement）一種測定離子精確質量的方法。精度可達（110）×10-6根據扇形磁質譜儀的基本公式:m/z＝KB21V，當B2不變時，質量分別為m1和m2的兩個離子有如下關系:m1:m2＝V1:V2。在離子接收狹縫前裝上一對偏轉電極，并在電極上加一個
質譜分析法術語同位素稀釋法
同位素稀釋法（isotope dilution method）采用同位素稀釋進行定量分析的方法。如在含有自然豐度的某元素未知濃度溶液中，加入該元素已知豐度的定量濃縮同位素或貧化同位素溶液，等待兩種溶液均勻混合，通過待測樣品、混合溶液的同位素豐度質譜法測量，根據待測、濃縮和混合溶液中的同位素豐度和所加
質譜分析法術語質譜
質譜（mass spectra mass spectrum）按照被測體質量大小排序的譜線。
質譜分析法術語同位素示蹤法
同位素示蹤法（isotope tracer method）用同位素作為示蹤劑來觀察和研究生命體，或物體中某一物質行為的方法。
質譜分析法術語質譜圖
質譜圖（mass spectrogram）質譜測定結果經計算機處理統計后，以棒狀圖（或數據列表形式）表示的譜圖。它是二維圖譜，橫坐標表示離子的質荷比（m/z），對于單電荷的離子，電荷數z＝1，橫坐標表示的數值即為離子的質量；縱坐標表示離子流的強度，通常用相對強度來表示，即把被記錄的各個質量數的離子峰
質譜分析法術語質荷比
質荷比（mass charge ratio，m/z）離子質量（以相對原子質量為單位）與它所帶電荷（以電子電量為單位）的比值。
質譜分析法術語測量
測量（measurement or determination）定義為以確定量值為目的的一組操作。
質譜分析法術語元素
元素（element）不能用化學分解方法再分成更簡單組分的基本物質，也可以把元素理解為組成分子的基本單元。
質譜分析法術語稀釋
稀釋（dilution）在較高濃度的溶液中，加入溶劑或試劑使溶液的濃度變小，稱為稀釋。所加的溶劑或試劑稱為稀釋劑（spike）
質譜分析法術語核素
核素（nuclide）泛指原子序數、原子質量和能態不同的原子形式，也可以定義為具有特定核特征的某種原子。核素分為穩定核素和放射核素，在已經發現的2000多種核素中，絕大多數是人造核素，天然核素僅有340種，其中穩定核素285種，其余為放射核素。
質譜分析法術語誤差
誤差（error）測量結果減去被測量的“真值”之差。由于真值不能確定，實際上用的是約定真值。誤差是一個單個數值，原則上已知誤差可以用來修正測量結果；通常認為誤差含有兩個分量，即隨機分量和系統分量，分別稱為隨機誤差和系統誤差。
質譜分析法術語基體
基體（matrix）亦稱基質。試樣中除被測成分之外的其他組分集合的稱謂，基體對被測成分的行為有時有重要影響。
質譜分析法術語示蹤劑
示蹤劑（tracer）用于追蹤生命體內某一物質，或某一組織行為的試劑稱為示蹤劑，它通常是被濃縮的穩定性同位素或放射性同位素。
質譜分析法術語計量
計量（metrology）以確定量值為目的的操作，且具有計量法規依據，確定的量值具有溯源性，則此操作可視為計量。
質譜分析法術語本底
本底（background）是指在測量條件下，當欲測量樣品的離子還未抵達接收器時，探測器所記錄的電信號。通常“本底”由儀器的記憶效應、殘存氣體分子離子、儀器噪聲和零點漂移等信號組成。
質譜分析法術語同量（質）異位素
同量（質）異位素（isobaric nucleus）原子質量數M（M＝Z＋N）相同，質子數（Z）不同，即原子序數不同的核素。
質譜分析法術語彈性碰撞
彈性碰撞（elastic collision）如果離子與原子，或離子與分子之間的碰撞，僅僅是改變了離子的運動方向，并不發生相互間的能量交換，這種相互碰撞就稱為彈性碰撞。
質譜分析法術語電場掃描
電場掃描（electric field scan）以一定速度運動的離子進入電場后，其運動行為可以用下式描述:式中，m是離子質量；z是電荷；V是離子加速電壓；B是磁場強度；r是離子運動圓周半徑。當磁場強度B和半徑r固定時，改變加速電壓可獲得不同mz的離子軌跡，稱為電場掃描。