吸收X射線譜法的簡介
中文名稱吸收X射線譜法英文名稱absorption X-ray spectrum定 義利用試樣對X射線的特征吸收進行試樣元素定性定量分析的方法。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學科）......閱讀全文
吸收X射線譜法的簡介
中文名稱吸收X射線譜法英文名稱absorption X-ray spectrum定 義利用試樣對X射線的特征吸收進行試樣元素定性定量分析的方法。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學科）
發射X射線譜法的簡介
中文名稱發射X射線譜法英文名稱emission X-ray spectrum定 義利用X射線或電子束激發試樣產生的X射線，對試樣所包含的某種元素進行定量定性分析的方法。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學科）
X射線譜儀簡介
X射線譜儀設計有20路探測器，是此次載荷中探測器路數最多的系統，為有效預防多路探測器之間相互干擾，在硬/軟件設計中還專門設計了“隔離”探測器單元功能及對太陽監測器計數率的調閾指令，以提高探測器在軌長期工作的可靠性。 X射線譜儀指向月面，由16路硬X射線半導體探測器陣列，4路高分辨軟X射線半導體
X射線譜儀
X射線譜儀簡介編輯X射線譜儀設計有20路探測器，是此次載荷中探測器路數最多的系統，為有效預防多路探測器之間相互干擾，在硬/軟件設計中還專門設計了“隔離”探測器單元功能及對太陽監測器計數率的調閾指令，以提高探測器在軌長期工作的可靠性?[1]??。X射線譜儀指向月面，由16路硬X射線半導體探測器陣列，4
X射線譜儀的發展
X射線譜儀是我國繞月探測工程實現月球資源探測、研究月球組成預演化等的重要手段和有效方法之一。“在我國探月工程分三步走的進程中，通過一期嫦娥一號衛星有效載荷繞月工程在軌觀測，我們將獲得月球表面元素的種類及其含量、分布。有了月表元素分布圖，就能為探月二期工程利用月球車登月后進行資源探測和進一步的科考
X射線譜儀的應用
我國“嫦娥一號”探月衛星的一個有效載荷，它可探測月表元素受太陽X射線或宇宙射線激發產生的X射線熒光，并能對太陽X射線輻射進行監測，通過數據反演法可獲得月表主要元素的含量和分布，以確定月表巖石類型和資源分布，并為月球探測和檢驗月球形成與演化模型提供重要信息。 一些天文衛星上都會應用X射線探測器。
X射線譜儀的組成
X射線譜儀主要由X射線譜儀探測器，太陽監測器和電控箱組成。 1.太陽監測器：指向太陽，監測太陽X射線輻射，配合月表X 射線觀測，獲得元素的絕對豐度分布。由Si-PIN組成的半導體探測器陣列，包括4路1～10keV的低能探測器，探測面積為1cm2，16路10～60keV的高能探測器，探測面積為1
X射線譜儀的特點
X射線譜儀X射線探測器具有靈敏度高、分辨率好、重量輕及功耗低等特點，但易受到外界干擾，特別是溫度的影響。由于我們探測器入射窗是暴露在衛星外，月球表面的晝夜周期極限溫度變化非常大，溫度環境對探測器性能有影響；另外探測器采用的硅半導體陣列，每片厚度僅微米數量級，承受外力的能力差和弱探測信號等不利因素
X射線譜儀的性能
X射線譜儀X射線譜儀和太陽監測器分別安裝在衛星頂板和側板上。其中，X射線譜儀用于探測月球表面元素受太陽X射線或宇宙射線激發產生的熒光X射線，如Mg、Al或Si元素等。其飛行方向與衛星軌道成45度角，正對月面。太陽監測器正對太陽，監測太陽活動，從而得到入射的太陽X射線能譜，結合X射線譜儀，獲得到相
掠射X射線望遠鏡的簡介
一種使天體X輻射成像的儀器。X射線很易被介質吸收﹐且在介質中其折射率近于1。這表明﹐折射系統不可能用在X射線波段﹐而X射線在非常傾斜的掠射角下將產生全反射。掠射 X射線望遠鏡就是利用這種全反射原理設計而成的。1952年﹐沃爾特首先建議利用X射線掠射的全反射現象來進行光學聚焦﹐使用兩個同軸共焦旋轉
什么是連續X射線譜？
（1）根據經典物理學的理論，一個帶負電荷的電子作加速運動時，電子周圍的電磁場將發生急劇變化，此時必然要產生一個電磁波，或至少一個電磁脈沖。由于極大數量的電子射到陽極上的時間和條件不可能相同，因而得到的電磁波將具有連續的各種波長，形成連續X射線譜 （2）量子力學概念，當能量為eV的電子與靶的原子
質子激發X射線熒光分析的X－射線譜
在質子X 射線熒光分析中所測得的X 射線譜是由連續本底譜和特征X 射線譜合成的疊加譜。樣品中一般含有多種元素，各元素都發射一組特征X 射線譜，能量相同或相近的譜峰疊加在一起，直觀辨認譜峰相當困難，需要通過復雜的數學處理來分解X 射線譜。解譜包括本底的扣除、譜的平滑處理、找峰和定峰位、求峰的半高寬
X射線譜儀的功能和應用
電子束轟擊樣品表面將產生特征X射線，不同的元素有不同的X射線特征波長和能量。通過鑒別其特征波長或特征能量就可以確定所分析的元素。利用特征波長來確定元素的儀器叫做波長色散譜儀（波譜儀），利用特征能量的就稱為能量色散譜儀（能譜儀）。
X射線譜儀的性能及應用
性能 X射線譜儀X射線譜儀和太陽監測器分別安裝在衛星頂板和側板上。其中，X射線譜儀用于探測月球表面元素受太陽X射線或宇宙射線激發產生的熒光X射線，如Mg、Al或Si元素等。其飛行方向與衛星軌道成45度角，正對月面。太陽監測器正對太陽，監測太陽活動，從而得到入射的太陽X射線能譜，結合X射線譜儀，
X射線譜儀的組成及性能
組成 X射線譜儀主要由X射線譜儀探測器，太陽監測器和電控箱組成。 1.太陽監測器：指向太陽，監測太陽X射線輻射，配合月表X 射線觀測，獲得元素的絕對豐度分布。由Si-PIN組成的半導體探測器陣列，包括4路1～10keV的低能探測器，探測面積為1cm2，16路10～60keV的高能探測器，探測
X射線譜儀的特點及組成
特點 X射線譜儀X射線探測器具有靈敏度高、分辨率好、重量輕及功耗低等特點，但易受到外界干擾，特別是溫度的影響。由于我們探測器入射窗是暴露在衛星外，月球表面的晝夜周期極限溫度變化非常大，溫度環境對探測器性能有影響；另外探測器采用的硅半導體陣列，每片厚度僅微米數量級，承受外力的能力差和弱探測信號等
X射線譜儀的發展及特點
發展 X射線譜儀是我國繞月探測工程實現月球資源探測、研究月球組成預演化等的重要手段和有效方法之一。“在我國探月工程分三步走的進程中，通過一期嫦娥一號衛星有效載荷繞月工程在軌觀測，我們將獲得月球表面元素的種類及其含量、分布。有了月表元素分布圖，就能為探月二期工程利用月球車登月后進行資源探測和進一
什么是連續X射線和特征X射線譜
連續X射線，是電子跑著跑著突然被原子核拉住，能量沒地兒放，于是放出X射線，這里放出的能量是連續的。特征X射線是處于特定能級的電子吸收光子，處于激發態，跑到低能級上放出的能量，故是一份一份的，具有明顯衍射峰。介紹陰極射線的電子流轟擊到靶面，如果能量足夠高，靶內一些原子的內層電子會被轟出，使原子處于能級
X射線分析法的簡介
中文名稱X射線分析法英文名稱X-ray analysis定 義測量試樣在各種條件下所發射的特征X射線，或者是測定試樣的X射線衍射圖形，包括X射線衍射分析法、發射X射線譜法和吸收X射線譜法三類。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學
擴展X射線吸收精細結構的簡介
擴展X射線吸收精細結構，是指元素的X射線吸收系數在吸收邊高能側30～1000電子伏之間的振蕩；由吸收了X光的原子與鄰近配位原子相互作用產生，并將傅立葉交換用到擴展X射線吸收技術數據處理中，吸收邊高能側的多個疊加正弦波在空間按其殼層分開，獲得原子間距和配位數等結構信息。詞條介紹了擴展X射線吸收精細
X射線吸收[式]光譜儀的簡介
中文名稱X射線吸收[式]光譜儀英文名稱X-ray absorption spectrometer定 義測定連續X射線透過試樣后產生的特征吸收單色X射線的儀器，最適合于有機溶劑等的分析。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
掠射X射線望遠鏡的分類
X射線望遠鏡光學系統一般采用沃爾特Ⅰ型──拋物面焦點與雙曲面的后焦點重合的同軸光學系統。其焦平面通過雙曲面的前焦點。按照制作工藝來劃分,X射線望遠鏡的研制已經歷三代。第一代鏡面是鋁制的,效率為1％，1963年用這種望遠鏡拍攝到分辨率為幾角分的照片,可看出太陽上存在著X射線發射區。第二代鏡面是在光
Si（Li）X射線譜儀用的脈沖處理器
４Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射線譜儀用的脈沖處理器梁祺愷Ｓｉ（Ｌｉ）半導體探測器已廣泛用于Ｘ射線能譜測量。為使這種探測器實現極好的能量分辯率，必須有與此相適應的測量譜儀系統。近年來，時變濾波器巳應用在Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射線訊號成形。
嫦娥三號粒子激發X射線譜儀通過驗收
日前，記者從中科院高能物理所獲悉，經專家討論，嫦娥三號“粒子激發X射線譜儀”項目日前正式通過驗收及成果鑒定。據悉，這是我國首次將主動激發熒光探測方式應用于深空探測領域。 該項目成果鑒定會上，中科院院士歐陽自遠擔任專家委員會主任，中國工程院院士姜景山、中科院院士萬衛星、中國工程院院士歐陽曉平等擔
X射線熒光分析法的簡介
中文名稱X射線熒光分析法英文名稱X-ray fluorescence analysis定 義對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依
X射線衍射分析法的簡介
X射線衍射分析。將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時，X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強
X射線衍射分析法的簡介
X射線衍射分析。將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時，X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強度和
X射線熒光分析法簡介
X射線熒光分析法（X-ray fluorescence analysis），是對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依據。
X射線熒光光譜法的簡介
X射線熒光光譜法正是基于以上物理學原理而產生的，從X射線管產生X射線，X射線經過濾或單色化處理入射樣品，入射樣品X射線與物質相互作用，產生的元素特征X射線熒光，進入探測器記錄其強度，能量色散型探測器的各種效應。都有可以遵循的X射線熒光的物理學理論，而這些明確的物理學理論，有大量的規律可循，進而可
基于STM、AFM和X射線譜學的表面有機合成綜述
表面科學國際綜述期刊Surface Science Reports主編Charles T. Campell邀請，中國科學技術大學國家同步輻射實驗室教授朱俊發課題組撰寫了題為Confined on-surface organic synthesis: Strategies and mechanis