X射線粉末衍射儀的介紹
XRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射。散射波周相一致相互加強的方向稱衍射方向,產生衍射線。X射線對于晶體的衍射強度是由晶體晶胞中原子的元素種類、數目及其排列方式決定的。X射線衍射儀是利用X射線衍射法對物質進行非破壞性分析的儀器,由X射線發生器、測角儀、X射線強度測量系統以及衍射儀控制與衍射數據采集、處理系統四大部分組成。......閱讀全文
X射線粉末衍射儀的介紹
XRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍
多晶粉末X射線衍射儀
多晶粉末X射線衍射儀是一種用于核科學技術領域的分析儀器，于2015年12月10日啟用。 技術指標 1．工作溫度：15-25 °C 2．工作濕度：40-80 % 3．UPS電源：30 kVA（220-240 V +/– 10 %, 50-60 Hz） 4．最大輸出功率：2.2 kW （銅靶）
X射線粉末衍射儀
XRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍
X射線粉末衍射儀用途
1，判斷物質是否為晶體。 2，判斷是何種晶體物質。 3，判斷物質的晶型。 4，計算物質結構的應力。 5，定量計算混合物質的比例。 6，計算物質晶體結構數據。 7，和其他專業相結合會有更廣泛的用途。 比如可以通過晶體結構來判斷物質變形，變性，反應程度等
X射線粉末衍射儀用途
1，判斷物質是否為晶體。2，判斷是何種晶體物質。3，判斷物質的晶型。4，計算物質結構的應力。5，定量計算混合物質的比例。6，計算物質晶體結構數據。7，和其他專業相結合會有更廣泛的用途。比如可以通過晶體結構來判斷物質變形，變性，反應程度等
原位X射線粉末衍射儀
主要指標:功率50KV*40mA最小步長 0.0001測量角度范圍1-120儀器角度分辨率+/-0.0001功能及應用范圍:X射線衍射儀可對樣品進行結構參數分析，如物相定性與定量分析，衍射譜的指標化及點陣參數測定，晶粒尺寸及點陣畸變測定，粉末衍射圖譜擬合修正晶體結，結構分析，結晶度測定，此外還可進行
X射線粉末衍射儀用途
1，判斷物質是否為晶體。2，判斷是何種晶體物質。3，判斷物質的晶型。4，計算物質結構的應力。5，定量計算混合物質的比例。6，計算物質晶體結構數據。7，和其他專業相結合會有更廣泛的用途。比如可以通過晶體結構來判斷物質變形，變性，反應程度等
X射線粉末衍射儀概述
X射線對于晶體的衍射強度是由晶體晶胞中原子的元素種類、數目及其排列方式決定的。 X射線衍射儀是利用X射線衍射法對物質進行非破壞性分析的儀器,由X射線發生器、測角儀、X射線強度測量系統以及衍射儀控制與衍射數據采集、處理系統四大部分組成。 “X射線衍射儀"可分為"X射線粉末衍射儀"和"X射線單晶
X射線粉末衍射儀簡介
CXRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱
X射線粉末衍射儀和X射線衍射儀又什么區別
“X射線衍射儀"可分為"X射線粉末衍射儀"和"X射線單晶衍射儀器".由于物質要形成比較大的單晶顆粒很困難.所以目前X射線粉末衍射技術是主流的X射線衍射分析技術.單晶衍射可以分析出物質分子內部的原子的空間結構.粉末衍射也可以分析出空間結構.但是大分子（比如蛋白質等）等復雜的很難分析.X射線粉末衍射可以
簡述X射線粉末衍射儀用途
1、判斷物質是否為晶體。 2、判斷是何種晶體物質。 3、判斷物質的晶型。 4、計算物質結構的應力。 5、定量計算混合物質的比例。 6、計算物質晶體結構數據。 7、和其他專業相結合會有更廣泛的用途。 比如可以通過晶體結構來判斷物質變形，變性，反應程度等
X射線粉末衍射法
一、基本原理：當一束單色X射線投射到晶體上，晶格中原子散射的電磁波互相干涉和相互疊加，在某一方向得到加強或抵消的現象，稱為衍射。相應的方向稱為衍射方向。晶體衍射X射線的方向與構成晶體的晶胞大小、形狀及入射的X射線波長有關。 衍射光的強度與晶體內原子的類型和晶胞內原子的位置有關，所以，從衍射光束
關于X射線粉末衍射儀的簡介
XRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之
X射線粉末衍射儀的概念和作用
XRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍
X射線粉末衍射結構精修
X射線衍射 X射線衍射是一種利用X射線在晶體中的衍射現象來研究物質的物相和晶體結構的方法。X射線衍射的基本原理是根據布拉格方程，當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊
X射線粉末衍射儀對樣品的要求
送檢樣品可為粉末狀、塊狀、薄膜及其它形狀。粉末樣品需要量約為0.2g(視其密度和衍射能力而定)；塊狀樣品要求具有一個面積小于45px x45px的近似平面;薄膜樣品要求有一定的厚度，面積小于45px x 45px；其它樣品可咨詢實驗室。
X射線粉末衍射儀送檢樣品的要求
送檢樣品可為粉末狀、塊狀、薄膜及其它形狀。 粉末樣品需要量約為0.2g(視其密度和衍射能力而定)； 塊狀樣品要求具有一個面積小于45px×45px的近似平面； 薄膜樣品要求有一定的厚度，面積小于45px×45px；其它樣品可咨詢實驗室。
X射線衍射儀中粉末樣品為什么要轉動
為了能增大衍射強度，衍射儀法中采用的是平板式樣品，以便使試樣被X射線照射的面積較大。這里的關鍵：一方面試樣要滿足布拉格方程的反射條件。*另一方面還要滿足衍射線的聚焦條件，使整個試樣上產生的x衍射線均能被計數器所接收。在理想的情況下，x射線源、計數器和試樣在一個聚焦圓上。對于粉末多晶體試樣，在任何方位
X射線衍射儀
特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產生X射線，它具有靶中元素相對應的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對應的X射線波長為0.154056 nm。X射線衍射儀的英文名稱是X-ra
X射線衍射儀
產品型號:?X'Pert PRO生產廠家:荷蘭帕納科公司PANalytical B.V.（原飛利浦分析儀器）儀器介紹:X'Pert PRO X射線衍射儀采用陶瓷χ光管、DOPS直接光學定位傳感器精確定位和最優化的控制臺及新型窗口軟件。采用模塊化設計，可針對不同的要求采用最優的光學系統
X射線衍射儀的基本介紹
特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產生X射線，它具有靶中元素相對應的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對應的X射線波長為0.154056 nm。 X射線衍射儀的英文名稱是
X射線衍射儀的應用介紹
X射線衍射儀是對物質和材料的組成和原子級結構進行研究和鑒定的基本手段。X射線衍射儀對單晶、多晶和非晶樣品進行結構參數分析，如物相鑒定和定量分析、室溫至高溫段的物相分析、晶胞參數測定（晶體結構分析）、多晶X-射線衍射的指標化以及晶粒尺寸和結晶度的測定等。可精確地測定物質的晶體結構，如：物相定性與定量分
粉末x射線衍射儀的基本原理和主要結構
粉末x射線衍射儀的基本原理X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣,本質上都屬于電磁波,只是彼此之間占據不同的波長范圍而已。X射線的波長較短,大約在10-8～10-10cm之間。粉末x射線衍射儀上通常使用的X射線源是X射線管,這是一種裝有陰陽極的真空封閉管,在管子兩極間加上高電壓,陰極就會發射出高速電
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
關于X射線衍射儀的應用介紹
Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。 每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的衍射圖譜與其
x射線衍射儀的應用相關介紹
油田錄井 Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。 每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的
X射線衍射儀的基本構造介紹
X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似，為X射線衍射儀的基本構造原理圖，主要部件包括4部分。 （1） 高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控制X射線源的強度。 （2） 樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品
多晶X射線衍射儀
多晶X射線衍射儀是一種用于材料科學領域的分析儀器，于2008年7月1日啟用。 技術指標 ● X射線高壓發生器：最大功率：3kW，最大電壓：60kV，最大電流：60mA ● 陶瓷X光管：Cu靶，最大功率：2.2kW, 最大電壓：60kV，最大電流：55mA ● q/q 掃描模式，掃描范圍：0.
多晶x射線衍射儀
主要應用于樣品的物像定性或定量分析、晶體結構分析、材料的織構分析、宏觀應力或微觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等等，因此，在材料科學、物理學、化學、化工、冶金、礦物、藥物、塑料、建材、陶瓷。。。。。。。。。。。。。。以至考古、刑偵、商檢等眾多學科和行業中都有廣泛的應用，是理工科院校和材料研究、
X射線衍射儀原理
x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物