關于XRF的理論基礎
熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。 從原子物理學的知識我們知道，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為自由電子，我們說原子被激發了，處于激發態，這時，其他的外層電子便會填補這一空位，也就是所謂躍遷，同時以發出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應元素的存在，而特征X射線的強弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量。 量子力學知識告訴我們，X 射線具有波粒二象性，既可以看作粒子，也可以看作電磁波。看作粒子時的能......閱讀全文
光譜分析的理論基礎
由于每種原子都有自己的特征譜線，因此可以根據光譜來鑒別物質和確定它的化學組成．這種方法叫做光譜分析．做光譜分析時，可以利用發射光譜，也可以利用吸收光譜．這種方法的優點是非常靈敏而且迅速．某種元素在物質中的含量達10^-10(10的負10次方)克，就可以從光譜中發現它的特征譜線，因而能夠把它檢查出來．
X射線熒光分析的理論基礎
熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。 從原子物理學的知識我們知道，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子
X射線衍射技術的理論基礎
當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。布拉格方程1913年英國物理學家
關于用XRF測試溴超標的問題－－!
關于Br問題用熒光檢測儀檢測的目前沒有辦法精確到PBB、PBDE。如果要得到比較精確的數據，需要送權威的第三方檢測機構檢測才能獲取。但是每次送第三方檢測，費用太昂貴。這里介紹兩種控制的方法：;?F'?m*?X-?F0?s:?]0?\+?y+?Y%?s?第一種方法：&?d6?C'?c2
關于XRF元素定量分析的問題介紹
1) 不同的元素激發和探測效率不同，有的元素很容易激發和檢測，有的元素很難激發和檢測，那么強度和含量的關系大不相同。 2) X射線熒光光譜分析中一個重要的難點是解決元素之間的吸收增強效應的問題。 最簡單的方法當然是采用標準樣品，通過檢測標準樣品的熒光強度，在熒光強度和含量之間通過最優化算法（
WD－XRF與ED－XRF的優缺點
WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按光子能量進行分離來測定各元素含量。
XRF測試
XRF測試若干問題： XRF中文稱為X射線熒光光譜儀，它包括能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）和波長色散型X射線熒光光譜儀(WDXRF)，WDXRF在精度和準確度方面要比EDXRF好，價格也較高。目前市場上使用較多的是EDXRF。無論是哪種X射線熒光光譜儀，它都是利用熒光散射的原理探測樣品中是
相差顯微鏡的理論基礎
相差是指同一光線經過折射率不同的介質其相位發生變化并產生的差異。相位指在某一時間上，光的波動所達到的位置。一般由于被檢物體（如不染色的細胞）所能產生的相差太小，肉眼很難分辨，只有在變相差為振幅差（明暗差）之后才能被區分。相差決定于光波所通過介質的折射率之差及其厚度，等于折射率與厚度的乘積之差（即光程
單頻激光器的理論基礎
激光模式電磁場理論表明，在具有一定邊界條件的腔內，電磁場只能存在于一系列分立的本征狀態之中。將激光腔內可能存在的電磁場的本征態稱為腔的模式，也就是激光模式。縱模與橫模從光子的觀點來看，腔的模式也就是腔內可以區分的光子狀態，同一模式內的光子具有完全相同的狀態，腔內電磁場的空間分布可分解為沿傳播方向(腔
發射光譜的概念和理論基礎
物體發光直接產生的光譜叫做發射光譜(emission spectrum)。處于高能級的原子或分子在向較低能級躍遷時產生輻射，將多余的能量發射出去形成的光譜。要使原子或分子處于較高能級就要供給它能量這叫激發。被激發的處于較高能級的原子、分子向低能級躍遷放出頻率為n的光子在原子光譜的研究中多采用發射光譜
原子光譜的理論基礎是什么
闡明原子光譜的基本理論是量子力學。原子按其內部運動狀態的不同，可以處于不同的定態。每一定態具有一定的能量，它主要包括原子體系內部運動的動能、核與電子間的相互作用能以及電子間的相互作用能。能量最低的態叫做基態，能量高于基態的叫做激發態，它們構成原子的各能級（見原子能級）。高能量激發態可以躍遷到較低能態
高分子的理論基礎和研究
在測定分子量和分子量分布的實驗方法中，超速離心沉降(1923年始用)、光散射(1944年始用)、凝膠滲透色譜(1964年始用)都曾起過重要的作用。高分子在理論方面，1930年W.庫恩發展了高分子鏈的統計理論;1934年庫恩、E.古思、H.F.馬克各自提出了柔性鏈高分子形態的無規行走模型，形成了高分子
簡述定量分析的理論基礎
定量分析的理論基石是實證主義。從研究的邏輯過程看，定量分析比較接近于假說－演繹方法的研究，既保留重視觀察實驗、收集經驗資料的特點，又保留重視邏輯思維演繹推理的特點，應用假說使得觀察實驗方法和數學演繹形式結合起來。正因為這樣，定量分析往往比較強調實物的客觀性及可觀察性，強調現象之間與各變量之間的相
單頻激光器的理論基礎
激光模式電磁場理論表明，在具有一定邊界條件的腔內，電磁場只能存在于一系列分立的本征狀態之中。將激光腔內可能存在的電磁場的本征態稱為腔的模式，也就是激光模式。縱模與橫模從光子的觀點來看，腔的模式也就是腔內可以區分的光子狀態，同一模式內的光子具有完全相同的狀態，腔內電磁場的空間分布可分解為沿傳播方向(腔
基因敲除技術的理論基礎和應用
基因敲除就是通過同源重組將外源基因定點整合入靶細胞基因組上某一確定的位點，以達到定點修飾改造染色體上某一基因的目的的一種技術。它克服了隨機整合的盲目性和偶然性，是一種理想的修飾、改造生物遺傳物質的方法。這項技術的誕生可以說是分子生物學技術上繼轉基因技術后的又一革命。尤其是條件性、誘導性基因打靶系統的
非達爾文進化的理論基礎研究
Zuckerkandl and Pauling（1962）通過比較不同生物世系的同一血紅蛋白（hemoglobin）分子的氨基酸排列順序發現，氨基酸隨著時間的推移大致以一定的比例相互量換著，即氨基酸在單位時間以同樣的速度進行置換。他們將這樣的觀察一般化之后，提出了所謂的分子鐘（Molecular c
XRF的優缺點
優點 a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。 b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化
手持XRF的應用
手持XRF是一種使用X射線熒光(XRF)技術進行元素分析的設備,具有快速、無損、高精度等特點,被廣泛應用于各個領域。下面將詳細介紹手持XRF的應用。 一、合金材料檢測 手持XRF儀器在合金材料檢測領域應用廣泛,主要用于軍工、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領域的金屬材料中元素成分的現場測定。這
關于XRF光譜儀的化學分析介紹
主要使用X射線束激發熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現在，該方法作為非破壞性分析技術，并作為過程控制的工具，廣泛應用于采掘和加工工業。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀
相差顯微鏡理論基礎
相差是指同一光線經過折射率不同的介質其相位發生變化并產生的差異。相位指在某一時間上，光的波動所達到的位置。一般由于被檢物體（如不染色的細胞）所能產生的相差太小，肉眼很難分辨，只有在變相差為振幅差（明暗差）之后才能被區分。相差決定于 光波所通過介質的折射率之差及其厚度，等于折射率與厚度的乘積之差（
EMC理論基礎知識——濾波設計
1、 濾波電路的基本概念 濾波電路是由電感、電容、電阻、鐵氧體磁珠和共模線圈構成的頻率選擇性網絡，低通濾波器是電磁兼容抑制技術中普遍應用的濾波器。為了減小電源和信號線纜對外輻射，接口電路和電源電路必須進行濾波設計。 濾波電路的效能取決于濾波電路兩邊的阻抗特性，在低阻抗電路中，簡單的電
EMC理論基礎知識：電磁干擾的模式
1 共模干擾與差模干擾 共模干擾（Common-mode）：兩導線上的干擾電流振幅相等，而方向相同者稱為共模干擾。 差模干擾（Differential-mode）：兩導線上的干擾電流，振幅相等，方向相反稱為差模干擾。 共模（Common mode）是指存在于兩根或多根導
糖量折光儀的概念和理論基礎
糖量折光儀用于快速測定含糖溶液的溶度、果酒密度；通過換算還可以測量其它非糖溶度或折射率，是制糖、食品、飲料、釀酒、農業科研、紡織及礦山機械等行業必不可少的檢測儀器。糖量折光儀的理論如果你放置一杯水的一支鉛筆,頂端將會顯得彎曲的. 然后如果你在一個杯子中放置糖水并且試相同的實驗,鉛筆的頂端應該顯得甚至
什么是XRF？
XRF：X射線熒光光譜分析（X Ray Fluorescence），通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線
XRF技術講解
X射線熒光光譜（XRF）技術是一項可用于確定各類材料成分構成的分析技術，已經成熟運用多年。其應用方向包括金屬合金、礦物、石化產品等等。 X射線形成部分電磁波譜。其處于紫外線輻射的高能側，使用千電子伏特表示能量高低，納米表示波長。 XRF一般可用于分析從鈉到鈾的所有元素，其可識別濃度范圍最低至
XRF是什么
XRF是什么??XRF測試及XRF原理,本內容深入探討了XRF的相關內容，并做了整體的講解分析。1.什么是XRF?XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線
什么是XRF
XRF:X射線熒光光譜分析(X?Ray?Fluorescence)? ??人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray?Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。? ??一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探
XRF檢測原理
原理 （XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X?射線（一次射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統測量這些放射出來的二次射線的能量及數量。然后，儀器軟件將控測系統所收集的信息轉換成樣品中的各種
XRF的選型誤區（三）
重價格輕服務。價格當然是選購商品的重要因素，但不應當是決定性因素。分析儀器各部件質量及其價格懸殊極大，并且直接決定了儀器的售價，單純追求價格便宜，很難保證質量。對于X熒光分析儀這樣的設備來說，服務往往更為重要。這里所說的服務不僅指安裝調試、備品備件供應、維修服務等，更重要的是應用技術服務。對于大
XRF鍍層測厚儀的原理
1、原理：X射線照射樣品，經過鍍層界面，射線返回的信號發生突變，根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。2、XRF鍍層測厚儀：俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。功能：精密測量金屬電鍍層