XRF檢測原理
原理 （XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X 射線（一次射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統測量這些放射出來的二次射線的能量及數量。然后，儀器軟件將控測系統所收集的信息轉換成樣品中的各種元素的種類及含量。利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為11號元素（鈉Na）到92號元素（鈾U）。 全反射X-光熒光分析儀 (Total-reflection X-ray Fluorescence Spectrometer, TXRF ) 傳統 X-光熒光分析儀 (X-ray Fluorescence Spectrometer, XRF )......閱讀全文
XRF檢測原理
原理 （XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X?射線（一次射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統測量這些放射出來的二次射線的能量及數量。然后，儀器軟件將控測系統所收集的信息轉換成樣品中的各種
XRF檢測定性原理的相關介紹
X射線熒光光譜分析是指試樣中的元素受到足夠能量的激發后發射出特征X射線(熒光)，根據特征X射線的波長及其強度進行定性、定量分析的方法。 眾所周知，原子是由原子核和核外電子構成的，電子處在核外不同能級的殼層上，這些殼層自內向外依次稱為K(n＝1)層，L(n＝2)層，M(n＝3)層……當用具有足夠
XRF的原理
X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：nm）描述。 X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子（如K層）在足夠能量的X射線照射下脫
XRF鍍層測厚儀的原理
1、原理：X射線照射樣品，經過鍍層界面，射線返回的信號發生突變，根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。2、XRF鍍層測厚儀：俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。功能：精密測量金屬電鍍層
XRF的基本工作原理
1、提到XRF，人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。 一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣
XRF鍍層測厚儀的原理
1、原理：X射線照射樣品，經過鍍層界面，射線返回的信號發生突變，根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。2、XRF鍍層測厚儀：俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。功能：精密測量金屬電鍍層
XRF原理天瑞EDX－2800
1.什么是XRF?XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence) 人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。 一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（
關于XRF儀器的原理介紹
X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。 X射線是一種波長較短的電磁輻射，通常是指能量范圍在0.1~100 keV的光子。X射線與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。 XRF工作
XRF檢測儀器產品特點
XRF檢測儀器是一款具有三重X射線防護措施；人性化的操作界面；應用α算法、FP法、經驗系數法、基本參數法分析軟件。滿足RoHS/WEEE相關管控要求，完全符合國際電工委員會IEC62321標準及中國環保標準所規定的技術要求和技術規范。 EXF-10A適用于工廠來料及制程控制中的有害物質檢
XRF分析儀檢測什么？
分析儀分析可以通過探測從鎂（Mg）到鈾（U）的元素。XRF分析儀幾乎我們可以直接指向任何樣件進行系統檢測，并獲得更加準確的結果。使用網絡分析儀完成的常見技術應用主要包括廢料分揀、合金牌號的辨別、金屬設備制造業的質量管理控制（QC）、地質勘探或采礦、工業建筑材料的檢測，如：水泥或煤炭等，以及社會消費金
XRF的基本原理介紹
X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量(單位:千電子伏特，keV)和波長(單位:nm)描述。 X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子(如K層)在足夠能量的X射線照射下脫
簡述XRF的基本原理
X射線光管發射的原級X射線射入至樣品，激發樣品中各元素的特征譜線； 探測器記錄特征波長的X射線光子N； 根據特定波長X射線光子N的強度，計算出該波長對應的元素濃度。
便攜式XRF儀器工作原理
便攜式X射線熒光（XRF）儀器檢測樣品時，儀器向樣品發射高能X射線，當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,內層電子因外力被撞出，內層電子運行軌道上出現空位,使整個原子體系處于不穩定的狀態,當較外層的電子躍遷到內層空位時,產生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而擊出較外層的另
XRF鍍層測厚儀的原理是什么
1、原理：X射線照射樣品，經過鍍層界面，射線返回的信號發生突變，根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。2、XRF鍍層測厚儀：俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。功能：精密測量金屬電鍍層
如何利用XRF技術進行檢測？
分析儀發出X射線。X射線撞擊到被測樣品，使樣品中的元素發出熒光，然后再返回到分析儀中的X射線探測器。分析儀對返回的X射線進行計數，并通過數學運算，得出分析結果。
XRF(RoHS檢測儀器)選擇秘籍
能測RoHS指令的儀器很多，而且這些儀器無論是國產的還是進口的，都是屬貴重儀器。如何選擇不光是費用問題，更主要的使用問題。 對六種有害物質總量的定量檢測： 一、 按日本商會歐盟分部的“依照RoHS指令的檢測方法”。 方法詳另見附件。該方法建議對來料先便攜式（手持式）熒光光譜儀檢
溴在XRF中的檢測參考
一、PBB and PBDEs EDXF 設備 ( 便攜式以及臺式 ) 能夠檢測出是否存在溴化物，但是不能區分違禁物質 PBB/PBDEs 和其他種類的溴化阻燃劑，例如 TBBPA （四溴雙酚 A ）。 TBBPA 應用廣泛，舉例來說，實際上在每個電器的電路板上都使用了該材料。因此，只有運用昂貴
XRF合金分析儀的原理介紹
合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質里的特定元素， 同時將其量化。它可以根據X射線的發射波長（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術就能測定物質的元素構成。 每一個原子都有自己固定數量的電子（負電微粒）運行在核子周圍的軌道
XRF鍍層測厚儀的基本原理
XRF指X射線熒光，是一種識別樣品中元素類型和數量的技術。用于在整個電鍍行業范圍內驗證鍍層的厚度和成分。其基本的無損性質，加上快速測量和結構緊湊的臺式儀器等優點，能實現現場分析并立即得到結果。 對于鍍層分析，XRF鍍層測厚儀將此信息轉換為厚度測量值。在進行測量時，X射線管產生的高能量x射線通過
關于XRF的基本原理介紹
當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為10-12-10-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍
xrf測試的基本原理介紹
XRF用的是物理原理來檢測物質的元素，可進行定性和定量分析。即通過X射線穿透原子內部電子，由外層電子補給產生特征X射線，根據元素特征X射線的強度，即可獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。它只能測元素而不能測化合物。但由于XRF是表面化學分析，故測得的樣品必須滿足很多條件才準，比
XRF
能量色散X熒光光譜儀，簡稱XRF，是一種物理的元素分析方法，具有快速、無損、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢，在電子、電器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等行業廣泛應用。可應用于：1、歐盟RoHS指令限定有害元素檢測： 鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、六價鉻
XRF在鎳合金檢測中的應用
鎳，是一種硬而有延展性并具有鐵磁性的金屬，它能夠高度磨光和抗腐蝕。耐腐蝕性和耐氧化性都較強。而鎳合金 則是以鎳為基加入其他元素組成的合金。 哪些領域會用到鎳合金呢？ 01.航空航天行業 鎳合金被廣泛用于制造飛機引擎、渦輪機組件和航天器部件，因其高溫強度和耐腐蝕性能可以滿足嚴苛的工作條件
XRF在鎳合金檢測中的應用
鎳，是一種硬而有延展性并具有鐵磁性的金屬，它能夠高度磨光和抗腐蝕。耐腐蝕性和耐氧化性都較強。而鎳合金 則是以鎳為基加入其他元素組成的合金。 哪些領域會用到鎳合金呢？ 01.航空航天行業 鎳合金被廣泛用于制造飛機引擎、渦輪機組件和航天器部件，因其高溫強度和耐腐蝕性能可以滿足嚴苛的工作條件
XRF檢測的理論影響系數法介紹
對多數類型的樣品，總有一些XRF無法探測到的元素（H-F）存在，往往這些超輕元素在樣品中占有一定的濃度，是樣品中基體組成部分，而其它元素的峰強度與基體組成直接相關，X射線熒光分析數據處理技術與基體校正數學模型的研究是該領域的重點，這一領域研究主要圍繞著基本參數法和理論影響系數法展開。 理論影響
XRF礦石分析儀鐵礦檢測方法
在105℃的鼓風干燥箱中，對客戶提供的鐵礦粉末標樣干燥4h。然后，對鐵礦二次標樣進行壓片；使用X熒光光譜儀EDX9000B礦石分析儀測量鐵礦粉末壓片和客戶提供的鐵礦玻璃熔片，使用歸一壓片法測量鐵礦中主、次組分，并且查看鐵礦組分的測量值和理論值的線性相關度。鐵礦壓片法歩驟：用電子天平稱量9.00g硼酸
金屬元素分析XRF檢測技術解析
1895年，倫琴在研究陰極射線時偶然發現一種能穿透物質產生熒光的未知射線，并將它命名為X射線， 這一發現引起了許多物理學家的關注。1908年，物理學家Barkla發現物質被激發產生的X射線中含有兩種成分，除了原入射X射線外，還含有一種與元素有關的標識譜線成分，又稱為特征X射線。隨后，Barkla
xrf測試的基本原理是什么
XRF用的是物理原理來檢測物質的元素，可進行定性和定量分析。即通過X射線穿透原子內部電子，由外層電子補給產生特征X射線，根據元素特征X射線的強度，即可獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。它只能測元素而不能測化合物。但由于XRF是表面化學分析，故測得的樣品必須滿足很多條件才準，比如表
關于XRF光譜儀的物理原理介紹
當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質
了解XRF中的常用“密語”，為檢測加速
查看X射線熒光（XRF）相關的內容時，您可能會留意到文章里面經常會出現很多的英文略縮術語。您可以利用這份快速指南，來了解這些您經常會在網站上看到或者在工作中聽到的略縮術語。 XRF XRF = X射線熒光。一種快速的無損檢測方法。用來測量材料的化學元素組成。類似的略縮術語有: EDXRF