X射線衍射法的原理及方法
X射線衍射法是一種晶體結構的分析方法，而不是直接研究試樣內含有元素的種類及含量的方法。當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射。晶體衍射X射線的方向，與構成晶體的晶胞的大小、形狀及入射X射線的波長有關;衍射光的強度，則與晶體內原子的類型和晶胞內原子的位置有關。因此，在一定X射線的情況下，根據衍射的圖譜可以分析晶體的性質。(2)X射線衍射法的方法在實際應用中，X射線衍射法又分為多晶粉末法和單晶衍射法兩種。①多晶粉末法常用于測定立方晶系的晶體結構的點陣形式、晶胞參數及簡單結構的原子坐標，還可對固體試樣進行物相分析。用于多晶粉末法的儀器多為旋轉陽極X射線行射儀，由單色X射線源、試樣臺和檢測器組成。為了增加X射線對晶體各部位的照射，通常使試樣平面旋轉，光源對試樣以不同的0角進行掃描，而檢測器以......閱讀全文
X射線衍射法的原理及方法
X射線衍射法是一種晶體結構的分析方法，而不是直接研究試樣內含有元素的種類及含量的方法。當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射。晶體衍射X射線的方向，與構
X射線繞射法的原理及應用
原理 當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線繞射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線繞射的基本原理。 布拉格方程 1
X射線繞射法的原理
當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線繞射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線繞射的基本原理。 布拉格方程 1913年
x射線衍射法的原理
原理：將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時，X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已
x射線衍射法的原理
原理：將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時，X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已
x射線衍射法的原理
原理：將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時，X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已
x射線衍射法的原理
原理：將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時，X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已
X射線繞射法的簡介
物質結構的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法，但是X射線繞射是最有效的、應用最廣泛的手段，而且X射線繞射是人類用來研究物質微觀結構的第一種方法。X射線繞射的應用范圍非常廣泛，現已滲透到物理、化學、地球科學、材料科學以及各種工程技術科學中，成為一種重要的實驗方法和結構分
X射線繞射法的應用
X 射線衍射技術已經成為最基本、最重要的一種結構測試手段，其主要應用主要有以下幾個方面： 物相分析 物相分析是X射線繞射在金屬中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點陣平面間距及衍射強度與標準物相的衍射數據相比較，確定材料中存在的物相；后者則根據衍射花樣的強度，確定材料中
X射線粉末衍射法
一、基本原理：當一束單色X射線投射到晶體上，晶格中原子散射的電磁波互相干涉和相互疊加，在某一方向得到加強或抵消的現象，稱為衍射。相應的方向稱為衍射方向。晶體衍射X射線的方向與構成晶體的晶胞大小、形狀及入射的X射線波長有關。 衍射光的強度與晶體內原子的類型和晶胞內原子的位置有關，所以，從衍射光束
X射線的原理及產生
原理 產生X射線的最簡單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過程中，電子突然減速，其損失的動能（其中的1%）會以光子形式放出，形成X光光譜的連續部分，稱之為制動輻射。通過加大加速電壓，電子攜帶的能量增大，則有可能將金屬原子的內層電子撞出。于是內層形成空穴，外層電子躍遷回內層填補空穴，同時放出波
X射線衍射法測量鋁合金殘余應力及誤差分析
在介紹了X射線衍射法測量殘余應力基本原理的基礎上,以7075鋁合金板材為實驗對象,Photo公司的X射線衍射儀為實驗儀器,采用不同的方向和衍射角對水域淬火后的7075鋁板的表面殘余應力進行測試,對測試結果進行處理并分析了應力產生的原因,提出了針對各種原因的解決方法。發現在單一方向上測量結果的線性和相
衰減透射法測量高能X射線能譜
研究了基于衰減透射原理的高能X射線能譜測量與重建。利用蒙特卡羅方法對神龍一號直線感應加速器的X射線源穿過不同厚度鋁時的衰減透射過程進行模擬實驗。解譜方法采用迭代擾動法,對不同的初始能譜估計和測量噪聲水平條件下的能譜重建進行計算分析。結果表明:實驗測量不包含噪聲時,選擇合適的初始能譜可以獲得比較準確的
衰減透射法測量高能X射線能譜
研究了基于衰減透射原理的高能X射線能譜測量與重建。利用蒙特卡羅方法對神龍一號直線感應加速器的X射線源穿過不同厚度鋁時的衰減透射過程進行模擬實驗。解譜方法采用迭代擾動法,對不同的初始能譜估計和測量噪聲水平條件下的能譜重建進行計算分析。結果表明:實驗測量不包含噪聲時,選擇合適的初始能譜可以獲得比較準確的
X射線投射檢測技術的原理及檢測方法
原理 在X-Ray檢測的過程中， X-Ray穿過待檢樣品，然后在圖像探測器(現在大多使用X-Ray圖像增強器)上形成一個放大的X光圖。該圖像的質量主要由分辨率及對比度決定。 成像系統的分辨率(清晰度) 決定于X射線源焦斑的大小、X光路的幾何放大率和探測器像素大小。微焦點X光管的焦斑可小到幾個
X射線機原理及構造
X射線機原理及構造、X射線的發現1895年德國物理學家倫琴(W．C．R?ntgen)在研究陰極射線管中氣體放電現象時，用一只嵌有兩個金屬電極(一個叫做陽極，一個叫做陰極)的密封玻璃管，在電極兩端加上幾萬伏的高壓電，用抽氣機從玻璃管內抽出空氣。為了遮住高壓放電時的光線(一種弧光)外泄，在玻璃管外面
X射線管的原理及分類
原理 X 射線管包含有陽極和陰極兩個電極，分別用于用于接受電子轟擊的靶材和發射電子的燈絲。兩級均被密封在高真空的玻璃或陶瓷外殼內。X 射線管供電部分至少包含有一個使燈絲加熱的低壓電源和一個給兩極施加高電壓的高壓發生器。當鎢絲通過足夠的電流使其產生電子云，且有足夠的電壓（千伏等級）加在陽極和陰極
X射線的發現歷史及原理
發現歷史 最早發現X射線是特斯拉，特斯拉制定了許多實驗來產生X射線。特斯拉認為用他的電路，“我的儀器可以產生的愛克斯光（即X射線）的能量比一般儀器可以產生的要大的多。” 他還談到用他的電路和單節點X射線產生設備在工作時的危害。在他許多調查這種現象的記錄中，他歸結了導致皮膚損傷的許多原因。他認
X射線原理
X射線定義X射線是由于原子中的電子在能量相差懸殊的兩個能級之間的躍遷而產生的粒子流，是波長介于紫外線和γ射線之間的電磁波。其波長很短約介于0.01~100埃之間。X射線具有很高的穿透本領，能透過許多對可見光不透明的物質，如墨紙、木料等。這種肉眼看不見的射線可以使很多固體材料發生可見的熒光，使照相底片
X射線的原理
產生X射線的最簡單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過程中，電子突然減速，其損失的動能（其中的1%）會以光子形式放出，形成X光光譜的連續部分，稱之為制動輻射。通過加大加速電壓，電子攜帶的能量增大，則有可能將金屬原子的內層電子撞出。于是內層形成空穴，外層電子躍遷回內層填補空穴，同時放出波長在0.
X射線管中X射線的產生原理
實驗室中X射線由X射線管產生,X射線管是具有陰極和陽極的真空管,陰極用鎢絲制成,通電后可發射熱電子,陽極（就稱靶極）用高熔點金屬制成（一般用鎢,用于晶體結構分析的X射線管還可用鐵、銅、鎳等材料）.用幾萬伏至幾十萬伏的高壓加速電子,電子束轟擊靶極,X射線從靶極發出.
X射線測厚儀測量原理及分類
對材料表面起保護，裝飾作用的覆蓋層，如涂層，鍍層，敷層，貼層，化學生成膜等，在一些國家和國際標準中稱為覆層（coating）。 覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節，是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確要求。 覆層厚度
x射線衍射儀的原理及構造
原理 x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是19
X射線熒光分析的原理及應用
?X射線熒光分析(XRF)——是對任何種類的樣品進行元素分析的好分析技術，無論必需分析的樣品是液體、固體還是粉末。XRF可以將高的準確度和精密度與簡單和快速的樣品準備結合，對鈹 (Be) 到鈾 (U) 的元素喜遷分析，濃度范圍從 100 % 到低至亞 ppm 級。? 作為一種確定各種材料化學組成的
X射線熒光分析的原理及應用
??? X射線熒光分析(XRF)——是對任何種類的樣品進行元素分析的好分析技術，無論必需分析的樣品是液體、固體還是粉末。XRF可以將高的準確度和精密度與簡單和快速的樣品準備結合，對鈹 (Be) 到鈾 (U) 的元素喜遷分析，濃度范圍從 100 % 到低至亞 ppm 級。? 作為一種確定各種材料
多晶x射線衍射的分類及原理
分類 多晶衍射有照相法和衍射儀法兩類。常用的粉末照相法為德拜-謝樂法（圖 1）。相機為一金屬圓筒，內徑通常為57.3毫米或114.6毫米,樣品裝在圓筒的中心軸線上，通過馬達帶動使它不停地轉動；緊貼內壁放置長條形X光底片；入射的單波長X射線經準直管作用在樣品上，穿透樣品后的 X射線進入射線收集器
X射線檢測原理
X射線檢測是利用X射線技術觀察、研究和檢驗材料微觀結構、化學組成、表面或內部結構缺陷的實驗技術。如X射線粉末衍射術、X射線熒光譜法、X射線照相術、X射線形貌術等。(1)x射線的特性 X射線是一種波長很短的電磁波，是一種光子，波長為10~10cm x射線有下列特點： ①穿透性 x射線能穿透一般可見
X射線探傷的原理
X射線探傷是利用X射線可以穿透物質和在物質中具有衰減的特性，發現缺欠的一種無損檢測方法。X射線的波長很短一般為0.001～0.1nm。X射線以光速直線傳播，不受電場和磁場的影響，可穿透物質，在穿透過程中有衰減，能使膠片感光。 當X射線穿透物質時，由于射線與物質的相互作用，將產生一系列極為復雜的
X射線的原理介紹
產生X射線的最簡單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過程中，電子突然減速，其損失的動能會以光子形式放出，形成X光光譜的連續部分，稱之為軔致輻射。通過加大加速電壓，電子攜帶的能量增大，則有可能將金屬原子的內層電子撞出。于是內層形成空穴，外層電子躍遷回內層填補空穴，同時放出波長在0.1nm左右的光
X射線衍射的原理
當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。