X射線熒光（XRF）：理解特征X射線
什么是XRF？ X射線熒光定義：由高能X射線或伽馬射線轟擊激發材料所發出次級（或熒光）X射線。這種現象廣泛應用于元素分析。 XRF如何工作？ 當高能光子（X射線或伽馬射線）被原子吸收，內層電子被激發出來，變成“光電子”，形成空穴，原子處于激發態。外層電子向內層躍遷，發射出能量等于兩級能量差的光子。由于每個元素都有一組獨特的能級，所以每個元素都會發出一組元素特有的X射線，稱為“特征X射線”。X射線強度隨相應元素的濃度增加而增加。 理解特征X射線 當元素的電子在原子能級之間發生躍遷時，就會發出特征X射線。如果一個電子從能量Ei能級躍遷到Ej能級，發出的X射線能量Ex=Ei-Ej。因為每個元素都有一組獨特的原子能級，所以發射出的X射線就是這個元素的特征X射線。 上圖是一個原子的草圖，顯示了不同的原子層級，分別是K，L，M，N……這些特征X射線就是在層級之間躍遷產生的。圖中顯示這些線的命名方式：當從外層躍遷到K層，......閱讀全文
X射線熒光（XRF）：理解特征X射線
什么是XRF？ X射線熒光定義：由高能X射線或伽馬射線轟擊激發材料所發出次級（或熒光）X射線。這種現象廣泛應用于元素分析。 XRF如何工作？ 當高能光子（X射線或伽馬射線）被原子吸收，內層電子被激發出來，變成“光電子”，形成空穴，原子處于激發態。外層電子向內層躍遷，發射出能量等于兩級能
X射線光譜技術(XRF)
X射線光譜技術因其是一種環保型、非破壞性、分析精度高的分析技術[33], 特別是在貴金屬產品、飾品無損檢測方面有其獨特的優勢。用XRFA互標法無損檢測黃金飾品,對金飾品[w(Au)>96%]的測定絕對誤差
微－X－射線熒光－(μXRF)技術詳解
微 X 射線熒光 (μXRF) 是一種元素分析技術，它允許檢測非常小的樣品區域。與傳統的 XRF 儀器一樣，微 X 射線熒光通過使用直接 X 射線激發來誘導來自樣品的特性 X 射線熒光發射，以用于元素分析。與傳統 XRF 不同（其典型空間分辨率的直徑范圍從幾百微米到幾毫米），μXRF 使用 X 射線
X射線熒光光譜儀(XRF)
原理：用一束X射線或低能光線照射樣品材料，致使樣品發射二次特征X射線，也叫X射線熒光。這些X射線熒光的能量或波長是特征的，樣品中元素的濃度直接決定射線的強度。從而根據特征能量線鑒別元素的種類，根據譜線強度來進行定量分析。XRF有波長散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)兩種，前者測量精密度好
X射線熒光光譜儀（XRF）
自1895年倫琴發現X射線以來，X射線及相關技術的研究和應用取得了豐碩成果。其中，1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎；20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段；60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅
X射線熒光（XRF）儀的結構組成介紹
一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。 然后，儀器
X射線熒光光譜分析（－XRF）
XRF：X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence) 的X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：nm）描述。X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自
由摩擦效應產生X射線的新型XRF技術
摩擦發光是一種通過機械作用（如拉動、撕裂、刮擦、壓碎或者不同材料間的摩擦等）而產生光的現象。例如，當敲碎蔗糖晶體時或者剝離膠帶時就能觀察到這種現象；這種現象從很久之前的古文明時期就被人們所發現。20世紀80年代，人們發現在X射線能量范圍內，真空管內的機械作用能夠產生光；2008年，一批來自美國加
X射線熒光光譜儀（XRF）基本結構
現代X射線熒光光譜分析儀由以下幾部分組成;X射線發生器(X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置)、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器)、記數記錄系統（脈沖輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器)。
X射線熒光光譜儀（XRF）基本結構
現代X射線熒光光譜分析儀由以下幾部分組成；X射線發生器(X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置)、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器)、記數記錄系統（脈沖輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器)。
X射線熒光光譜儀（XRF）的應用
可以進行固體、粉末、薄膜、液體樣品及不規則樣品的無標樣元素的定性定量分析。主要用于金屬、無機非金屬等材料中化學元素的成分分析，X射線熒光光譜法XRF測試的元素范圍包含有效的元素測量范圍為1號元素 （Na）到92號元素（U）
XRF收購Coltide的X射線熒光漂移監測業務
總部位于墨爾本的XRF公司將收購Coltide 的x射線熒光漂移監測業務。 Coltide是阿德萊德的一家X射線熒光漂移監測儀器制造商和供應商，X射線熒光漂移監測儀器由礦業公司和研究機構進行元素精確校準。Coltide由Keith Norrish博士創立，他是將波長色散X射線熒光光譜法用于礦物
X射線熒光光譜儀(XRF)－簡介
X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X-熒光)。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)，是用晶體分光而后由探測器接收經過衍射的
XRF(X射線熒光光譜儀)選擇寶典
能測RoHS指令的儀器很多，而且這些儀器無論是國產的還是進口的，都是屬貴重儀器。如何選擇不光是費用問題，更主要的使用問題。 ?????對六種有害物質總量的定量檢測： 一、?按日本商會歐盟分部的“依照RoHS指令的檢測方法”。 ???該方法建議對來料先便攜式（手持式）ROHS檢測儀檢測，能通過的就算合
微－X－射線熒光－(μXRF)的基本信息介紹
微 X 射線熒光 (μXRF) 是一種元素分析技術，它允許檢測非常小的樣品區域。與傳統的 XRF 儀器一樣，微 X 射線熒光通過使用直接 X 射線激發來誘導來自樣品的特性 X 射線熒光發射，以用于元素分析。與傳統 XRF 不同（其典型空間分辨率的直徑范圍從幾百微米到幾毫米），μXRF 使用 X
XRF之X射線金屬成分無損快速分析儀
自然界中大約有70多種金屬，其中常見的有鐵、銅、鋁、錫、鎳、金、銀、鉛、鋅等。而合金是指兩種或兩種以上的金屬或金屬與非金屬結合而成，具有金屬特性的材料。 常見的合金如鐵和碳所組成的鋼合金；鐵、鉻、鎳組成的不銹鋼；銅和鋅所形成的黃銅等。 金屬材料通常分為黑色金屬、有色金屬和特種金屬
由摩擦效應產生X射線的新型XRF技術介紹
摩擦發光是一種通過機械作用（如拉動、撕裂、刮擦、壓碎或者不同材料間的摩擦等）而產生光的現象。例如，當敲碎蔗糖晶體時或者剝離膠帶時就能觀察到這種現象；這種現象從很久之前的古文明時期就被人們所發現。20世紀80年代，人們發現在X射線能量范圍內，真空管內的機械作用能夠產生光；2008年，一批來自美國加
能量色散－X－射線熒光－(ED－XRF)的相關介紹
能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 是用于元素分析應用的兩種通用型 X 射線熒光技術之一。在 EDXRF 光譜儀中，樣品中的所有元素都被同時激發，而能量色散檢測儀與多通道分析儀相結合，用于同時收集從樣品發射的熒光輻射，然后區分來自各個樣品元素的特性輻射的不同能量。EDXRF 系統的分辨率取決
XRF之X射線金屬成分無損快速分析儀
自然界中大約有70多種金屬，其中常見的有鐵、銅、鋁、錫、鎳、金、銀、鉛、鋅等。而合金是指兩種或兩種以上的金屬或金屬與非金屬結合而成，具有金屬特性的材料。 常見的合金如鐵和碳所組成的鋼合金；鐵、鉻、鎳組成的不銹鋼；銅和鋅所形成的黃銅等。 金屬材料通常分為黑色金屬、有色金屬和特種金屬
X射線熒光光譜儀（XRF）的樣品要求
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干； 2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm； 3.檢測單元表面盡量平整，且長寬不超過45mm 4.粉末樣品可能會使用硼酸壓片，如有特殊要求，請提前說明
簡述X射線熒光光譜儀（XRF）的應用
可以進行固體、粉末、薄膜、液體樣品及不規則樣品的無標樣元素的定性定量分析。主要用于金屬、無機非金屬等材料中化學元素的成分分析，X射線熒光光譜法XRF測試的元素范圍包含有效的元素測量范圍為1號元素 （Na）到92號元素（U）
XRF之X射線金屬成分無損快速分析儀
自然界中大約有70多種金屬，其中常見的有鐵、銅、鋁、錫、鎳、金、銀、鉛、鋅等。而合金是指兩種或兩種以上的金屬或金屬與非金屬結合而成，具有金屬特性的材料。? ? 常見的合金如鐵和碳所組成的鋼合金;鐵、鉻、鎳組成的不銹鋼；銅和鋅所形成的黃銅等。? ? 金屬材料通常分為黑色金屬、有色金屬和特種金屬材料。?
X射線熒光光譜儀（XRF）的樣品要求
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干；2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm；3.檢測單元表面盡量平整，且長寬不超過45mm4.粉末樣品可能會使用硼酸壓片，如有特殊要求，需提前說明。
X射線熒光光譜法XRF樣品的要求
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干； 2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm； 3.檢測單元表面盡量平整，且尺寸為4-4.5cm。
XRF9能量色散X射線熒光分析儀
產品介紹 X射線熒光（XRF）分析技術是測定由初級X射線激發樣品時所產生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可實現固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類固體，液體樣品中主，次多元素同時測定，檢出限在mg/kg 量級范圍內，制樣方法簡單，現已廣泛應用于地質、材料
X射線熒光光譜儀（XRF）的基本分類
作為一種比較分析技術，在一定的條件下，利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析的儀器。 按激發、色散和探測方法的不同，分為： X射線光譜法（波長色散） X射線能譜法（能量色散）
X射線熒光光譜儀（XRF）基本原理
X射線熒光光譜儀簡稱：XRF，適用于簡單的元素識別和定量以及更加復雜的分析，X射線熒光光譜分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。 熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光，它是利用一定波長的X射線照射材料，元素處于激發狀態，從而激發出光子，形成一種熒光射線，由于不同元素的激發態的能量大
XRFX射線熒光光譜儀的優點介紹
X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。 探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。 然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種
X射線熒光光譜儀（XRF）基本原理
X射線熒光光譜儀簡稱：XRF，適用于簡單的元素識別和定量以及更加復雜的分析，X射線熒光光譜分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光，它是利用一定波長的X射線照射材料，元素處于激發狀態，從而激發出光子，形成一種熒光射線，由于不同元素的激發態的能量大小不一樣
XRF9能量色散X射線熒光分析儀
產品介紹 X射線熒光（XRF）分析技術是測定由初級X射線激發樣品時所產生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可實現固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類固體，液體樣品中主，次多元素同時測定，檢出限在mg/kg?量級范圍內，制樣方法簡單，現已廣泛應用于地質、材料、環境、冶