多層層狀樣品的化學成像

 多層聚合物薄膜對保持產品的完整性起著非常重要的作用。例如，食品、藥品、消費品等產品在交付時需要采用聚合物薄膜包裝。這些薄膜對防止產品遭受氧化、紫外線照射或其他環境因素（取決于產品種類）的影響起到至關重要的作用。聚合物薄膜的設計和制造過程往往非常復雜、昂貴，且影響著實際產品的質量和感觀。

 因此，研究層壓結構需要借助強大的分析技術，比如產品出現缺陷時，傅立葉變換紅外光（FT-IR）顯微分析法可檢測層壓結構的化學圖像，揭示每層的化學組成。

采用焦平面陣列（FPA）探測器技術的 HYPERION 3000 FT-IR 顯微鏡，可在幾秒鐘內同時測量上千個光譜。此外，HYPERION 3000 還具備最大空間分辨率，為分析厚度只有區區幾微米的薄層創造了條件。

 在利用FT-IR顯微鏡進行多層層壓材料分析時，需要按照要求制備樣品，將樣品切成薄片，或采用可能導致樣品變形的ATR技術。與之相反，共焦拉曼顯微鏡 SENTERRA II 可以在不接觸樣品的情況下，對每層的剖面進行測量，甚至還可以直接從頂部進行縱深分析，從而立刻完成多層薄膜分析，無需制備樣品