第二屆進博會中國鋼研與3家公司簽約TESCAN電鏡大放光彩

　　分析測試百科網訊 11月5日，第二屆中國國際進口博覽會（以下簡稱“進博會”）在上海國家會展中心正式開幕（相關鏈接：直擊第二屆進博會：這些分析儀器廠商的高光時刻來了！）。本屆展會規模空前，約有來自150多個國家和地區的3000多家企業簽約參展，共分為國家展區和七個企業展區。

第二屆中國國際進口博覽會

　　7日上午，第二屆進博會上，中央企業交易團中國鋼研科技集團有限公司（簡稱“中國鋼研”）分別與西門子（中國）有限公司數字化工業集團（簡稱“西門子”）、TESCAN（中國）（簡稱“TESCAN”）和MTS系統公司（簡稱“MTS”）簽署了采購協議。其中，中國鋼研與TESCAN簽訂FIB-SEM雙束掃描電子顯微鏡采購協議。TESCAN（中國）總經理馮駿、技術總監焦匯勝、商務總監Milan Hauser先生、市場部經理顧群、應用部經理李威、華東區銷售經理朱曉敏出席，捷克共和國駐滬總領事館館長Richard Krpac先生、捷克共和國工商局Miroslav Scheiner先生蒞臨現場。

中國鋼研與西門子簽訂自動化和驅動產品采購協議

中國鋼研與TESCAN簽訂掃描電子顯微鏡采購協議

TESCAN展臺上展示的一款超高分辨FIB-SEM系統

　　在本屆進博會上，TESCAN隨捷克共和國參展，向現場觀眾展示了新一代超高分辨FIB-SEM系統——AMBER。FIB-SEM是一種集成了電子束和離子束的電子顯微鏡系統，其SEM 鏡筒提供高分辨成像能力，FIB 鏡筒能在成像的同時對樣品進行加工處理。FIB-SEM系統的電子束和離子束的聚焦點重合，這在很多應用中可以獲得最優化的結果，也使得儀器在完成 FIB 銑削任務的同時，可以進行 SEM 實時成像。

　　TESCAN 能提供兩種不同的 FIB 離子源：鎵離子和氙等離子體。Ga 離子源 FIB 適用于所有在制造和納米加工中需要極高精度的應用；而Xe 等離子體 FIB 具有超高切削加工速度，效率能夠可達 Ga-FIB 的50倍，此外Xe 等離子 FIB 還有嵌入作用小的優勢。

中國鋼研與MTS簽訂液壓伺服疲勞試驗機采購協議

中國鋼研與3家單位簽約代表合影