蔡司的場發射掃描電鏡家族又添新成員

　　蔡司（ZEISS）的場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）家族又添新成員。蔡司近日宣布推出最新的旗艦產品 – ZEISS GeminiSEM 450。這臺儀器融合了超高分辨率的成像和先進的分析功能，同時維持了靈活性和易用性。

　　GeminiSEM 450更快的響應和更高的表面靈敏度使用戶能快速、靈活、可靠地對樣品進行表面成像和分析。由于Gemini 450能夠精確和獨立地控制電子束斑和束流，因此在高通量電子背散射衍射（EBSD）和低電壓X射線光譜（EDS）分析模式下仍能保持高分辨率的成像，在低電壓條件下工作時更為出色。

　　GeminiSEM 450采用Gemini 2鏡筒設計，可在低束流的高分辨率成像與高束流的分析模式之間進行無縫切換。這使得GeminiSEM 450成為滿足成像和分析苛刻要求的理想平臺。經過優化的電子光學鏡筒，減少了工作過程中進行重新校準的復雜流程，節省成像時間，提高工作效率。

　　此外，無論是不導電樣品、磁性樣品或是其他類型的樣品，GeminiSEM 450均可實現快速和高質量的成像和分析。值得一提的是，它的可變壓力技術降低了不導電樣品的充電量，不會影響透鏡內檢測能力，同時通過減少裙邊效應實現高分辨率EDS分析。

　　基于這些設計，蔡司GeminiSEM 450為材料科學、生命科學領域及工業實驗室的各種應用提供了一種靈活的儀器。

應用示例：真核細胞纖毛，使用GeminiSEM 450 BSD背散射探測器成像

　　蔡司公司的電子顯微鏡主管Michael Albiez博士表示：“借助蔡司GeminiSEM 450，我們推出了全新的FE-SEM旗艦產品，以實現最高性能分析和超高分辨率。除了此次產品發布，我們還對蔡司GeminiSEM和Sigma系列產品進行了重大改進。舉例來說，蔡司Sigma系列現在有了以前只有Gemini系列才具備的高分辨率電子槍模式。”